TT-AFM

Z轴方向分辨率高达0.08nm，TT-AFM可以轻松实现高分辨率成像。

TT-AFM可以轻松完成高质量的成像  诸如DNA，纳米颗粒和纳米管

TT-AFM 是一个紧凑的桌面式AFM，他可以保证在较低的价格下获得高分辨率的图像

常用于:

纳米科学研究

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仪器创新

使用AFM平台构建一个新的仪器...Read More 

教育领域

教导学生关于AFM的结构，操作和应用...Read More 

TT-AFM用来测试和分析硅原子台阶

TT-AFM的垂直分辨率（z轴方向）可以轻松的证明硅测试样品是一个取向差表为1°的Si平面。测试样品包括两种台阶类型;其中50nm的最大台阶使用TT -AFM视频显微镜观测，而该样品还包括单个原子的台阶高度为0.314纳米。

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悬臂和Si原子台阶的光学显微镜图像。在光学显微镜图像中的线是在样品表面上的50纳米的台阶。使用AFM继续观察可以发现在大原子台阶上的单个原子。

这4×4um硅图像显示的1.8纳米的Z轴范围。每个灰色鳞片代表的是0.314纳米单个原子台阶。

蓝色方块示用来测试样品的表面粗糙度。

红色圆圈表示一缺陷。对于圈定的缺陷信息如下所示。

该直方图分析显示每个样品上的台阶的高度。测试获得台阶高度为0.303 nm。

我们计算了标有蓝框的区域的表面粗糙度。对于此示例的表面粗糙度（Ra ）的预期值是0.06纳米。

由红圈图像中指定的缺陷的轮廓线是高度0.471纳米。

TT-AFM的更多应用

TT—AFM有着更多广泛的应用

Photonics Applications 
Polymer Applications 
Nanoparticle Applications 
Life Sciences Applications 
Process Development and Process Control Applications 
Education Applications

开放性设计

开放式设计是AFMworkshop提供的所有产品的核心。通过LabVIEW软件，可以非常容易的设计和实现新类型的实验。在文档包选项中包含了所有可用的TT- AFM机械图纸。AFMWorkshop的客户论坛直接分享了TT- AFM与所有的客户开发的专门的设计。对于特殊的应用，其他类型的扫描器如平板和管状扫描器都可以很容易地加入到显微镜平台上

TT-AFM样品台

TT-AFM的样品台具有极好的机械和热稳定性，可以保证高分辨AFM成像。此外，其开放式的设计非常方便用户进行修改。

刚性框架设计

交叉梁设计对样品台的支持是非常刚性的，使得原子力显微镜，不容易受到外部的振动的影响。

光杠杆AFM力学传感器

光杠杆力传感器用在几乎所有的原子力显微镜中，并允许许多类型的实验。

集成化的探针更换架

独特的探头支架和夹紧装置可以快速方便的进行探针替换。

直接驱动Z轴载物台

线性位移台用于垂直移动探针运动到样品表面。探针/样品不需要调整角度，有助于更快下探针。

小尺寸

18.75 X750px的样品台尺寸需要很少的空间，适合轻松地放在桌面上。

精密的XY样品台和千分尺

可以将样品相对于探针位置移动用精密的xy微米级样品台移动。因此样品可以在不接触它情况下被精密移动。

扩展电子插口

一个六芯插头位于样品台后方，可以扩展TT-AFM的功能。

XYZ精密压电扫描台

修改后的脚架设计采用温度补偿式的应变计，这样确保能准确的测量图像。此外，利用这样的设计能够快速精确的地放大图像。

激光对准

两者的光杠杆激光器和光检测器调整机构可以直接对接。此功能大大简化了激光/探测器的校准。

可调节样品架

在XYZ扫描器的顶部是一个可移动的上盖，用来保存样品。所述上盖可被修改或重新设计新上盖用来容纳多种类型的样品。

TT-AFM 扫描器结构

TT-AFM 控制器

TT-AFM电子设备围绕行业标准USB数据采集系统构建。关键功能，诸如XY扫描，被优化为24位数字模拟转换模块和模拟Z轴反馈环路控制。他可以实现最高保真度扫描。轻敲模式扫描使用高灵敏度相位检测电子器件来检测控制相位和振幅。

24 位DAC（数模转换模块）

XY轴的扫描波形和压电扫描器生成精确的运动通过由32位微控制器驱动的24位DAC产生。通过24位的扫描器可以测量到最高分辨率的AFM图像。使用xy闭环传感器的反馈控制保证了探针在样品表面的准确探测。

相位和振幅探测电路

相位和振幅在控制器中通过高度稳定的相位和幅度的探测电路来测试。该系统可以被配置来测试和反馈关于轻敲模式中任一细小的相位或振幅变化。

信号进出

在控制器的背面是一个50针带状电缆可以访问所有的主要的电子信号，而无需打开控制器。

状态指示灯

在控制器正面一个有7个灯光指示板。在一个电路可能发生故障，这些灯被用于确定控制器电源的状态。

精确的模拟电路反馈系统

从光杆力传感器对Z轴方向的反馈是通过高精度模拟反馈电路进行。探针的位置可与一个样品和夹持器在垂直回路方向上保持固定。

可变增益高压压电驱动器

信噪比可变在非常小的扫描范围是通过可变增益高压压电驱动器来获得最佳信噪比。

§  TT-AFM可选

§  Assembly Workshop（组装workshop）

与会者可以组装并学会操作的TT-AFM，伴随着的理论，操作和原子力显微镜的应用课程接受培训。

§  High Resolution Scanner（高分辨扫描器）

一个扫描范围为XY：15 X 15 microns Z: 7 microns的扫描器

§  Vibration Cabinet（隔音柜）

减少不需要的声音和震动

§  Dunk and Scan（开放式液体池）

包含一套开发的液体池和一套液体使用的探针夹持器

§  Environmental Cell（封闭式液体池）

允许在封闭的环境内进行液体或是环境成像

§  Conductive AFM（导电原子力显微镜）

测试样品的二位电导率

§  MFM（磁力显微镜）

测试样品的磁畴分布

§  Lithography（纳米刻蚀）

使用原子力探针刻蚀样品

§  Advanced Force Distance Curves（高阶力学测试）

§  EFM（静电力显微镜）

§  SKPM（表面电势显微镜）

§  SThM（扫描热显微镜）