E+H Metrology仪器_瞬渺科技（香港）有限公司

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瞬渺科技（香港）有限公司

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晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012

品牌： E+H Metrology

型号： MX 7012

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非接触式单点晶圆测厚仪 MX 301

品牌： E+H Metrology

型号： MX 301

产地：德国

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半自动晶圆厚度测量仪 MX 204

品牌： E+H Metrology

型号： MX 204

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手动晶圆厚度测量仪 MX 203

品牌： E+H Metrology

型号： MX 203

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晶圆几何测量仪 MX 2012

品牌： E+H Metrology

型号： MX 2012

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高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 102-6/8

品牌： E+H Metrology

型号： MX 102-6 102-8

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高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 1018

品牌： E+H Metrology

型号： MX 1018

产地：德国

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高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪 MX 1012

品牌： E+H Metrology

型号： MX 1012

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晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608

品牌： E+H Metrology

型号： MX 608

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单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604

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型号： MX 604-ST

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瞬渺科技（香港）有限公司为您提供10台，包括半自动晶圆厚度测量仪 MX 204，晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608，非接触式单点晶圆测厚仪 MX 301，不管是原理、参数，还是价格、型号都可咨询，公司客服电话400-860-5168,1545，售前、售后均可联系我们。

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主营产品：

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