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Stylus-based surface profiling is a standard technique for accurate, repeatable surface shape, topography and step height measurement in applications ranging from semiconductor R&D to solar cell QC.

YSI 防玷污的10点技巧 随着电子技术的进步、电源管理的改进和电池寿命的延长，生物玷污成为目前决定监测仪器投放周期长度的决定因素，特别是应用于长期、连续监测。应用一些防玷污技术可以延长仪器的维护间隔，能够减少野外的仪器维护的次数，并提高水质监测数据精度。 防玷污技巧的详细内容请参考文章《YSI 防玷污的10点技巧》

金属检测技术的局限性之一是对于像电线和大头针这样相对比较小的、长条形金属异物就很难检测出来。这些类型的污染物通常表现出“方向效应”，即金属探测器所检测到的信号很大程度上取决于污染物与探测孔的方向关系。方向效应给金属检测系统带来了挑战——这一挑战乍一看并不是那么严重，但事实上它可能会给消费者的安全以及品牌声誉带来严重的影响和危害。

Using Bruker’s Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter equipped with tilt and rotation stages in conjunction with the QUANTAX EBSD system enables a more robust characterization of metallic materials by combining high resolution phase and grain orientation mapping capabilities with targeted nanomechanical property measurements. This combination could also be used to extend the scope of research related to other advanced textured, anisotropic, or multi-phase materials.