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金属,半导体阻抗测定装置

品牌:
产地: 日本
型号: TER系列
报价: 面议
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产品介绍
仪器简介:
本装置是用直流四端子法,精密地测量金属合金,半导体的电阻。

●用途
对于金属相变,时效析出,再结晶的过程研究。
对于无形金属的再结晶的过程分析。
对于记忆形合金的研究。
测定各种半导体材料的温度VS电阻的关系。


技术参数:
●技术指标
测定温度范围 ①-150~200℃ ②室温~最高1400℃
测定方式 自流四端子法
测定范围 100Ω~5×10-5 Ω
试样台 φ10mm×100mm
测定气氛 不活性气体,大气,真空


主要特点:
对于金属的相变,时效析出,再结晶反应

●特长
可在定速升温,定温保持过程中测量材料电阻。
用直流四端子法进行高精度测量。
无热起电的影响。
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其他半导体检测仪TER系列的工作原理介绍

其他半导体检测仪TER系列的使用方法?

TER系列多少钱一台?

其他半导体检测仪TER系列可以检测什么?

其他半导体检测仪TER系列使用的注意事项?

TER系列的说明书有吗?

其他半导体检测仪TER系列的操作规程有吗?

其他半导体检测仪TER系列报价含票含运吗?

TER系列有现货吗?

工商信息

企业名称

上海弘埔仪器技术有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

3102252033174

成立日期

2006-01-18

注册资本

50

经营范围

联系我们
弘埔技术(香港)有限公司为您提供金属,半导体阻抗测定装置TER系列,nullTER系列产地为日本,属于其他,除了金属,半导体阻抗测定装置的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,弘埔技术-上海弘月贸易有限公司客服电话400-860-5168转1476,售前、售后均可联系。
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