可控环境型扫描探针显微镜

日本精工顶级可控环境型原子力显微镜（扫描探针显微镜），客户已遍及国内众多重点高校和科研机构，（如：北京大学物理系、清华大学工艺陶瓷国家重点实验室、中科院物理所磁学国家重点实验室、中国科学院化学研究所有机固体重点实验室、中国科学院化学研究所、中国科学院纳米科技中心、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国科学院上海微系统所、南京大学固体微结构国家重点实验室、中科院长春应化所高分子物理国家重点实验室、中国科学院长春应用化学研究所电化学国家重点实验室、吉林大学无机超分子国家重点实验室、中国科技大学、浙江大学、四川大学等）依卓越的品质和优秀的技术服务，长期受到客户的好评！

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1.多功能扫描探针显微镜SPA-400：用于测量各种材料表面高精度成像外，还能表征多种材料如无机物非金属材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的多种物性，包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、电流像、电流隧道谱、电容等等，还能进行纳米尺度的加工及力学性质的表征，能在大气、液体及电化学条件下测量。

2.大尺寸样品扫描探针显微镜： 大尺寸φ200mm样品的微区（微米至纳米量级）形貌及其物理特性进行观测分析。适用于测量各种光盘（DVD，CD，HD等）、磁盘、半导体、微电子及其他大尺寸的样品。

3.低温扫描霍尔显微镜（LT-SHPM，低温霍尔显微镜）：该系统可与多种低温杜瓦联用，实现低温1K~300K温度范围内样品表面微区磁场分布定量化图像化分析，样品尺寸达15*15*5mm，微区磁化性能B-H曲线和M-H曲线测量，实时测量动态磁化现象，支持扩展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁场高达16T；

4.多功能PPMS扫描探针显微镜（PPMS-SPM）：该系统可与现有的几乎所有的PPMS系统（物性测量系统，如 Quantum Design,Inc. ）联用，实现AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等测量功能，并且可在温度范围2K~300K和磁场高达16T条件下，高分辨成像；　

5.mK 超低温扫描探针显微镜（mK-SPM，超低温原子力显微镜）：该系统可与牛津仪器的Dilution低温杜瓦和He3系统，或者其他mK系统联用，实现mK~300K温度范围高分辨样品表面成像；主要测量功能STM、接触式AFM、非接触式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁场高达16T；

扫描范围：XY：20μm，Z：2μm（可扩展：XY最大150μm，Z最大15μm）；
形貌分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可实现原子级分辨）；
样品最大尺寸为：φ35mm×10mm (H)； 

环境控制：
封闭真空腔体设计：可实现高真空达~10-7Torr；同时也可实现气氛和湿度控制；
连续变温设计：可从－120℃连续变温到300℃，无须更换样品台；
液体及电化学环境功能；
外加磁场控制功能：可实现垂直放心磁场和水平方向磁场控制；

测试功能：

     Contact AFM（接触式原子力模式）；
 DFM (动态力模式，包括非接触式和间歇接触式原子力模式)；
 Phase Mode（相位模式）；
 FFM (摩擦力模式)；
 MFM (磁力模式)；
 Vector Scan（向量扫描，纳米刻蚀）；
 Force vs Distance Curve (力曲线测量模式)。
 VE-AFM (微区粘弹性测量模式)；
 LM-FFM (切向调制摩擦力测量模式)；
 KFM for Surface Potential Microscope (表面电位势测量模式KFM)；
 Adhesion Mode (微区粘性测量模式)；
 Piezo-Response Force Microscopy（压电响应力模式）；
 SNDM（扫描非线性介电显微镜）；
 AFM with Current measurement Mode (AFM同时电流测量模式)；
 AFM-CITS (AFM电流隧道谱)；
 STM（扫描隧道显微镜）；
 AFM/DFM in Liquid(液体中AFM/DFM测量功能模式)
 EC-AFM/STM(电化学AFM/STM功能)