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薄膜测量

2018/08/22 11:41

阅读:520

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2018/08/22
检测样品:
其他
检测项目:
薄膜厚度
浏览次数:
520
下载次数:
参考标准:
材料

方案摘要:

薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。

产品配置单:

分析软件

AvaLight-DHc卤素灯光源

型号: AvaLight-DHc

产地: 荷兰

品牌: 爱万提斯

¥3万 - 5万

参考报价

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方案详情:

  薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
  薄膜计量学包括计算薄膜是否存在和其厚度的数学方法,这些薄膜可以通过各种方法沉积到基片材料上。该项技术适合于从轮廓测量法到椭圆测量法,光谱反射法和X射线分析的测量方法。Avantes设备和光纤采样工具有利于光学反射测量,支持从半导体到太阳能和光学镀膜等多领域测量应用。

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