非接触式三维光学轮廓仪（3D Non-contact Profiler）

非接触式三维光学轮廓仪（3D Non-contact Profiler）
型号：3DNCP　 参考价格：面议　 产地：美国
技术参数 RMS可重复性（标准模式）：1nm
RMS可重复性（精度模式）：0.1 nm
RMS可重复性（单波段）：0.05 nm
垂直扫描范围：30μm，100μm 或者10mm ；最大斜度：40°到3.2°
数据采集时间：最高可到7.2μm/s
视场：8x10mm（@0.78x）到 0.84x0.063mm（@100x）
校准精度：超过0.1%； 反射率：1%到100％；外侧面采样：0.11到8.8μm

◆微观二维（2D）和三维(3D)形貌-轮廓获取


◆多种测量功能：


可获得精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）；

体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）；

台阶高度；

线与面粗糙度；

透明膜厚；

薄膜曲率半径(内应力）以及其它几何参数等测量数据。
主要特点 ◆真正的非接触式三维测量－光学触点不会被损坏。


◆高速扫描，无须制样，无须真空，金属非金属均可，快速直观，操作方便 。


◆基于白光干涉的高精度定量，自动调焦。


◆先进的综合图象处理软件，致力于采集，分析，统计和可视化数据处理等
仪器介绍 将传统的白光干涉技术同全新的高科技结合，实现了高度的自动化和高精度快速测量。照明模块中的窄带光源和宽带光源可以分别用于平滑和粗糙表面的检测，即相移干涉和垂直扫面干涉，通过软件自动控制可以实现两光源之间的自控切换，从而实现对各种材料表面的有效测量。


应用领域，目前已经涉及到了材料、微/纳米器件、化学、医学、生物工程、航空航天、环境、地理学、能源、涂料（层）、橡胶、塑料、陶瓷、电子、微电子、光电子、汽车等领域。重点包括以下，

◆MEMS器件、精密机械部件以及半导体


◆材料和工件表面形貌分析与测量


◆摩擦学（摩擦磨损）以及腐蚀表面工程等 
NT公司扫描探针显微镜（SPM）
型号：SPM-SmartAFM　 参考价格：面议　 产地：欧洲
技术参数 ◆ Scanning range: 100um x 100um x 15um (+/-10%)
◆Scanning type: by sample
◆XY non-linearity: 0.03%
◆Z non-linearity: 0.1%
◆Noise: 0.1nm RMS in XY dimension in 200Hz bandwidth with capacitance sensors on;
 0.02nm RMS in XY dimension in 100Hz bandwidth with capacitance sensors off;
 <0.04nm RMS Z capacitance sensor in 1000Hz bandwidth
◆Digital closed loop control: for X,Y,Z axes
◆XY resonance frequency: 7 kHz (unloaded)
◆Z resonance frequency: 15 kHz (unloaded)
◆Active elimination of XY phase lag,
 overshooting and ringing results in fast scanning without any dynamic image distortion
◆Digital filtering of Z control signal at scanner resonant frequencies results in extremely short settling time
◆ Motorized sample positioning: range - 5x5mm, positioning resolution - 1um.

主要特点 - 完全机动化的AFM，提供自动的laser-to-tip alignment以及快速启动。


- 低噪音光学记录系统。


- 真正意义上的非接触式扫描。

- 高速100x100x15um 扫描器


- 先进的闭环控制

- 数字模块化控制器

仪器介绍 Measuring modes
●Contact AFM;
●Semicontact AFM;
●True Non-contact AFM;
●LFM;
●Conductive AFM:
●Advanced MFM, Kelvin Probe,
●Capacitance and EFM;
●Advanced nanolithography and nanomanipulation capabilities;
●STM;
●Tuning fork AFM;
●3D scanning imaging.

目前本公司正在提供免费的样品测试活动。如需测试样品，请与我公司联系。


◆生命科学及生物医学材料


仪公司动态·中精科科技有限公司 2009-3-2 ·CETR Celebrates Its 15th Anniversary 2009-3-2 ·CETR是机械摩擦测试设备的世界领导者 2009-2-27 ·日本二手半导体设备-日本MEDIKEN公司 消息 2009-2-27 ·NanoMap 500LS扫描三维表面轮廓仪 2009-2-25 ·什么是扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope-SPM 2009-2-25
所有仪器 LFV 电子万能试验机
W+B 公司以其高质量的材料测试系统而闻名于世，公司不断研究开发更新、更好的发展理念以及和广大用户和供应商的通力合作使得 W+B 的产品质量一直处于世界最高的水…
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CPM化学机械研磨材料 Abrasive Technology is pleased to introduce a diamond conditioning disk for in-situ pad conditioning in metal CMP processes. …
产品型号： CPM化学机械研.. 原产地： 美国 价格： 000 NT公司扫描探针显微镜
Measuring modes ●Contact AFM; ●Semicontact AFM; ●True Non-contact AFM; ●LFM; ●Conductive AFM: ●Advance…
产品型号： SPM-SmartAFM 原产地： 欧洲 价格： 面议 AFM-RAMAN原子力显微镜（TERS系统）
AIST-NT是经验丰富的扫描探针显微镜（SPM）制造商，在扫描探针显微镜领域有超过65年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新…
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三维共焦显微拉曼光谱仪装置Nanofinder®30 　Nanofinder®30 三维共焦显微拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内…
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该仪器可广泛的应用于材料、薄膜、化工、石油、岩石、微电子、微型传感器、半导体材料、自动控制、航空航天、汽车工业及机械工具的材料研究和开发，还可以应用…
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产品型号： UMT 原产地： 美国 价格： 面议 器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜 仪器 激光雷达 Lidar 摩擦 磨损 中精科科技 原子力显微镜
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