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FRITSCH激光粒度仪解决粒径形状测量难题
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传统的光学粒子筛分器通过评估散射光的极角(光轴相对角)，来确定粒子分散的大小。这种依靠方位角的方法，一般是不被提倡的，尽管它能得出关于粒子形状的有效信息。而来自Fritsch GmbH 的新型光学颗粒分析仪。它使用了一种特制的硅传感器来检测，基于散射光的极角和方位角，从而能同时测定粒子的大小与形状。 在过去的二十年里，基于激光衍射的光学粒子筛分器，已成为了实验室处理粉末、喷雾、和其他分散材料的标准设备。粒子样品的粒度分析，可以再几秒内得出。尤其是当检测样品中含有颗粒乳剂/悬浮液时，如此高的速度是理想的。使用激光衍射测量，粒子尺寸所能达到的下限是0.1nm，低分辨率，次nm级范围。在激光衍射中加入测量大角度散射，能够把尺寸下限降低至远低于0.1nm，大致为10µm。与此同时，.次µm级范围的分辨率得到了很大的改善。 傅立叶逆安装(或者叫做反傅立叶技术)，它的原理已被Fritsch GmbH公司证实，它能同时测量粒子的形状和尺寸。 |
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