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产品简介
微区x射线荧光光谱分析技术是对大尺寸不规则、不均匀样品、甚至微小包裹体进行高灵敏度、非破坏性的元素分析方法。
1. 矩形的真空室设计,样品无需制备,可直接放入舱内无损检测;
2. 优化的X射线光路,*小光斑直径降到20μm范围内,且提供*高的束流;
3. 多种仪器配置:可以选择增加了X射线管或探测器,以提高性能至更高的水平;
4. 通过使用真空模式(低噪音泵)和SLEW窗口,获得轻质元素的高灵敏度;
5. EasyLoad功能:方便样本的装入、取出,测量同时可以通过两个影像系统查看样品被测位置,自动聚焦autofocus,样品台移动和其它操作完全由鼠标控制。
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