Dimension Icon

AFM检测性能的全新定义

 Dimension Icon展现出*的检测性能，功能，简便易用，为高质量AFM成像和相关科学检测设定了新的标准，科研领域和工业领域的研究者完成*的研究工作，轻松获得纳米尺度上的检测结果。

Bruker Dimension® Icon 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以*上应用*广泛的AFM大样品平台为 基础，齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平， 现在用户要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

Dimension Icon还配备了Bruker*技术ScanAsyst（自动扫描成像模式），用户可以简易快捷地获得重复性更好的数据，并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置*高的AFM，保证客户*完成所需的检测任务。

聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研 究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境 等领域

Dimension®  Icon的图像分辨率，与Bruker特有的电子扫描算法相结合，显著了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处 于行业*地位，*新的Dimension®  Icon?是针尖扫描技术的又一次革新，配置温度补偿位置传感器，实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平，将其应用在90微米扫描范围的大样品台体 系 上，效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头，即使在较高的扫描速度工作时，也不会损坏图像质量，实现了更大的数据 采集输出量。
*体验
的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有高的扫描分辨率
大地降低噪声水平，在轻敲模式下低于30pm，接触模式下可获得原子级图像
热漂移速率低于200pm/分钟，获得真正的样品图像
*率
XYZ闭环扫描器的*设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率
将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
高分辨率相机和X-Y定位可快速、*地找到样品测量位置
全功能
针尖和样品之间开放式的空间设计，不可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求
硬件和软件技术的不断创新，新开发的HarmoniX 模式，可以测量纳米尺度上材料性质

用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析

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