重金属含量检测仪

                   重金属含量检测仪
全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） 
X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以： 
根据荧光的波长和能量，确定元素； 
各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。 

X射线由Mo靶或W靶产生，在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射装有样品的样品架，并产生全反射。样品所产生的特征荧光被能量色散探测器(XFlash® detector) 探测，强度通过偶合的多通道分析器测量。 

与常规的XRF*大的不同，全反射荧光（TXRF）是使用了单色光和全反射光学部件。以全反射光束照射样品，降低了吸收、以及样品及衬底材料对光的散射。结果是大大降低了背景噪音，因此有高的多的灵敏度和明显地降低了基体效应。 

全反射荧光(TXRF)的主要优点是，相对于其他原子波谱分析法，如AAS 或 ICP-OES，无记忆效应。 

全反射荧光分析法，样品必须制备在能全反射X射线的样品架上。因此，样品架的直径30mm，材料通常是丙烯酸或石英玻璃。 

液体样品直接滴在样品架上，通常是使用微量移液管转移几微升（µl）试液到样品架上。然后在干燥器里蒸发或在烘箱中干燥。 

固体样品，有不同的制样方法。粉末样品（悬浮质、土壤、矿物、金属、色素、生化样品，等等）可以把样品直接放在样品架上直接测量。典型的方法是，使用小勺或无尘纸转移几微克（µg）的样品到样品架上。 

单个的微量样品（颗粒，长条等）也可以用类似的方法直接制样。 

另外，粉末样品可以使用挥发性溶剂如甲醇制成悬浮液，悬浮液用移液管转移到样品架上，还可以使用微波消解的办法。
 
主要特点：
可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，含量范围ppb至*，检出限到2pg。 
需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 
便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 
1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 
第四代XFlash®SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 
由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。
应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。