4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,*大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5 X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室 CMI900 CMI950
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
-*大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
任选:50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm 300mm x 300mm
-Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm
XY轴手动时,269.2mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,*大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5 X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室 CMI900 CMI950
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室
-*大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
任选:50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm 300mm x 300mm
-Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm
XY轴手动时,269.2mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制