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TESCAN扫描电镜高级应用培训讲座在北航成功开办
2017年4月25日，TESCAN在北京航空航天大学成功开办了“扫描电子显微镜与聚焦离子束原理及应用讲座”，来自TESCAN的两位技术专家为参加讲座的老师和学生们带来了关于扫描电镜（SEM）的工作原理及软件应用以及与聚焦离子束结合而成的双束FIB系统的特点和应用讲解。在分享结束后，TESCAN高级应用工程师李景女士现场演示了扫描电镜的使用并详细解答大家提出的问题，进行了很好的互动交流。
TESCAN市场部经理顾群先生精彩分享
TESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束领域的技术领导者。此次讲座，TESCAN市场部经理顾群先生首先向大家简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并重点介绍了“All In One”综合分析平台以及国内首创的电镜-拉曼光谱联用系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）在微观观测和分析领域带来的应用革新。目前，TESCAN TOF-SIMS已在核工业北京地质研究院分析测试研究中心安装并投入使用，另外一台也已在上海交通大学分析测试中心落户。
TESCAN高级应用专家李景女士培训讲解
扫描电镜（SEM）具有二维成像和成分、结构分析的能力，是微观观测和分析最重要的工具之一；聚焦离子束（FIB）具有精确微区加工的能力；而两者结合而成的双束FIB系统，可以实现成分和结构的三维分析。
应用实例-Cryo FIB-SEM
在讲座结束后，李景女士带大家参观了安装在北航材料学院实验室的DEMO机VEGA3钨灯丝扫描电镜，并在现场演示讲解了关于电镜应用以及软件功能方面的拓展使用。
李景女士在北航材料学院现场演示TESCAN钨灯丝扫描电镜
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