国内第三方检测首台TIMA来啦！南京宏创TESCAN TIMA自动矿物分析系统       近日，南京宏创地质勘查技术服务有限公司成功将 TESCAN TIMA自动矿物分析系统配置到南京大学科学园实验室。目前，该实验室的TIMA自动矿物分析系统已通过全面调试工作。工作人员在调试TESCAN TIMA自动矿物分析系统    南京宏创成立于2016年，是国内功能最全的第三方地质检测机构，业务涵盖单矿物分选、磨片及制靶、岩矿鉴定、流体包裹体测试、CL、SEM、BSE、TEM、TIMA自动矿物识别、同位素定年、主微量分析及工业CT扫描等全面地质检测工作。公司在职员工五十余人，其中包括南京大学博士、高级工程师若干名。实验室仪器设备十三台，包含场发射扫描电镜、能谱、TIMA自动矿物分析系统、LA-ICPMS等多台大型试验设备。总部设在南京大学科学园，毗邻百年名校南京大学，并在北京拥有分支机构和实验室，总面积1000多平方米。公司拥有CMA检验检测机构资质认定证书、IS09001质量管理体系等国家权威机构认证，为国内外数百家科研单位、高校、生产单位的广大专家学者们提供最优质最可靠的技术服务，是国内公认的权威检测机构之一。         为了更好的为广大地质工作者提供优质服务，南京宏创坚持“不断创新”的经营理念，在新技术新方法的开发方面紧跟国际前沿科技脚步，以建立完备的现代化的分析测试实验室。近年来，随着地球科学研究在宏观和微观角度的不断深入，在进一步探索微观世界的路上，地质工作者遇到了共同的难题：如何有效的选取研究对象？究其原因，无论是岩石、矿物，或者构造等研究领域，受科学技术发展限制，最初广泛使用的群分析手段都具有明显的不确定性，近年来不断遇到瓶颈。因此，微区原位成分、同位素等分析手段应运而生。TIMA作为近年来新开发的集成矿物分析系统，是一款新型的结合SEM、BSE、EDS的自动矿物分析的扫描电子显微镜，能快速有效呈现矿物相以及定性定量分析。矿物冶金技术领域TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行矿石矿物丰度、粒度解离、矿物组合和颗粒尺寸等参数智能化全自动分析。特别是关于钨、锡、铌、钽、稀土、铍、钪等稀有散金属矿矿石工艺领域，有着极大的应用前景。另外，逐颗粒分析还可以有助于铜锌矿的定比稀释，可以得到贱金属矿石特征、铜锌矿的整体分析、铜锌精矿中铁的迁移等。值得注意的是，TIMA可提供样品的矿物含量、有用有害元素的赋存状态、颗粒粒度分布、共生矿物的单体解离度等工艺矿物参数，并可给出选矿精矿品位与回收率关系曲线，对低品位稀有矿物元素样品的测量效果尤其好，是选矿流程诊断监控的最佳手段。地质科学研究领域在科研工作中，TIMA分析系统可以对矿物微区结构构造进行系统扫描成像，出具定量化的成分及微区填图数据和图像，为进一步有针对性的开展微区研究提供非常可靠的、直观的基础支撑。另外，TIMA分析系统还能可视化和量化蚀变接触带、断裂、脉体、等多种地质体的微区参数，在一定程度上为找矿提供微区证据。在国际地球科学研究上，TIMA已成功应用到对矿物溶蚀结构、重结晶现象、流体和熔体包裹体、矿物共生等相关领域，并有百余篇高级别SCI论文相继发表。  国际上用TIMA取得的相关研究成果的展示1、锆石的成分阴极发光对比图单张石英阴极发光图像单张锆石阴极发光图像2、解离度分析、冶炼工艺含砷矿物筛选、及亮相搜索解离度分析   亮相搜索3、矿物分类及BSE图像BSE图像    矿物分类图4、不同矿物的占比扫描成像（左）   成分分析图（右）   5、Hrstka等对TIMA的最新发展典型示例细粒岩石的手标本照片（a）；TIMA的矿物学（b）；单层的矿物成分（c）6、Xu等利用TIMA对榴辉岩样品进行面扫描，得到粗粒的石榴石边部为石英和多硅白云母，暗示了高压低温变质TIMA矿物学图像7、Neave等通过面扫获得不同样品中长石的结构和成分信息，辅助获取岩浆分异信息，探讨分异过程仅在短期（八个月）存在还是在整个作用过程中都存在。不同样品中晶体的分布8、Honeyands等利用不同方法，包括光学显微镜和电脑计数、定量X射线衍射（QXRD）、QEMSCAN、TIMA，对铁矿石进行矿物学研究，提出TIMA可以很好地将铁的氧化物和其他矿物区分开。             背散射图像                    矿物成分解离分析图像9、Ward等通过TIMA对系统采集的样品进行详细的矿物大小、分布统计，样品显示出渐变的特征，从而帮助判断古沉积物和土壤的来源和发展。该研究说明TIMA可以对沉积物进行系统矿物学、矿物成分、颗粒大小和结构的研究。16个亚单元的矿物成分含量参 考 文 献1. HoneyandsT, Manuel J, Matthews L, et al. Comparison of the mineralogy of iron oresinters using a range of techniques[J]. Minerals, 2019, 9(6):333.2. Hrstka T,Gottlieb P, Skala R, et al. Automated mineralogy and petrology –applications of TESCAN Integrated Mineral Analyzer (TIMA) . Journal of Geosciences,2018, 63: 47-63.3. Neave DA, Buisman I, Maclennan J. Continuous mush disaggregation during thelong-lasting Laki fissure eruption, Iceland[J]. American Mineralogist, 2017, 102(10):2007-2021.4. Ward I, Merigot K, Mcinnes B I A. Application of QuantitativeMineralogical Analysis in Archaeological Micromorphology: a Case Study fromBarrow Is. Western Australia[J]. Journal of Archaeological Method and Theory, 2017.5. Xu C,Kynicky J, Song W, et al. Cold deep subduction recorded by remnants of aPaleoproterozoic carbonated slab. Nature Communication, 2018, 9, 2790, doi:10.1038/s41467-018-05140-5.

2019年11月5日，第二届中国国际进口博览会（以下简称“进博会”）在上海国家会展中心正式开幕。本届展会规模空前，约有来自150多个国家和地区的3000多家企业签约参展，共分为国家展区和七个企业展区。第二届中国国际进口博览会TESCAN作为捷克共和国的高科技明星企业亮相捷克馆，并与中国钢研科技集团签约。11月7日，中央企业交易团中国钢研科技集团有限公司与TESCAN签署了FIB-SEM双束扫描电子显微镜的采购协议。TESCAN（中国）总经理冯骏、技术总监焦汇胜、商务总监Milan Hauser先生、市场部经理顾群、应用部经理李威、华东区销售经理朱晓敏出席，捷克共和国驻沪总领事馆馆长Richard Krpac先生、捷克共和国工商局Miroslav Scheiner先生莅临现场。   在本届进博会上，TESCAN向现场观众展示了新一代超高分辨 FIB-SEM 系统 —— AMBER。TESCAN AMBER 超高分辨FIB-SEM系统中国钢研科技集团有限公司领导和捷克领馆外宾到访TESCAN展位 TESCAN AMBER 是TESCAN新一代超高分辨FIB-SEM系统的代表，配置了最新的 BrightBeam™ 镜筒，真正的无磁场超高分辨（UHR）可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析，以及在 FIB 操作时 SEM 的实时监测。另一方面，创新的 Orage™  FIB 镜筒配有最先进的离子光学系统和气体注入系统，使得 TESCAN AMBER 成为了世界顶级的样品制备和纳米加工的仪器。可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，在提供无与伦比的图像质量的同时，可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性。因而 TESCAN AMBER 是高端FIB-SEM应用的理想选择，也是所有追求日常科学和技术突破的人士的首选分析平台。

2019年11月1日， TESCAN（中国）公司与北京工业大学固体微结构与性能研究所携手成功举办了“扫描电镜原位高温-拉伸-成像技术研讨会”，会上主要以原位高温技术新进展为主题进行了精彩的学术报告，来自清华大学、北京科技大学、中国科学院金属研究所、北京航空材料研究院、钢铁研究总院等40余位材料领域专家学者参加了本次会议。北京工业大学固体所 张跃飞教授北京工业大学固体所张跃飞教授在会上致辞，首先欢迎各位专家学者能够到场参会。张教授表示固体所近年来始终探索先进的电子显微学方法，张泽院士主持的国家重大科研仪器设备研制专项（11327901），已于今年5月通过了国家自然基金委组织的验收，其中部分成果是微观尺度高温力学原位研究系统，成功开发了在扫描电镜样品室内从室温～1200℃高温同时可以施加到3000N载荷，并能进行原位高温显微成像的原位仪器系统，实现了对材料在跨宏观-微观-纳米尺度下显微结构与材料热力学性能间关系的原位研究。在此基础上，固体所与TESCAN公司展开了积极合作，去年购买的S8000场发射扫描电镜，为项目的实验结果与方法探讨起到了重要作用。TESCAN（中国）北区销售经理 王凯TESCAN（中国）北区销售经理王凯在会上致辞，他表示张老师课题组的科研工作为原位电镜的高温-拉伸-成像提供了很好的技术，实现了我国该方面仪器的国产化与现代化。同时感谢百忙之中能够到场的各位专家学者，也感谢上海交通大学的李传维老师与固体所的张跃飞老师将带来的原位电镜的精彩报告。之后，TESCAN（中国）顾群经理，上海交通大学材料改性及数值模拟研究所李传维博士以及北京工业大学固体所张跃飞教授分别在会上做了精彩报告。TESCAN（中国）顾群经理主题：TESCANAll In One微分析综合解决方案上海交通大学材料改性及数值模拟研究所 李传维博士主题：双相钢多尺度原位力学性能表征研究 北京工业大学固体所张跃飞教授主题：扫描电镜中高温力学性能原位测试仪器开发与应用报告结束后，张跃飞课题组为各位参会人员进行了原位高温拉伸成像现场实验演示，并现场进行深入的交流，与会专家对仪器项目取得的进展和超过1000℃在扫描电镜中开展原位实验的仪器性能指标表示赞赏。参观实验室和交流 合  影

        对材料的力学性能进行研究，寻求提高材料力学性能的途径，一直是材料科学研究中的重要工作。        在可控的机械负荷下，通过扫描电镜对材料的微观结构形态变化进行原位成像，可以充分利用扫描电镜大景深、高分辨和多种分析功能，将加载作用与对材料表面结构的显微观测研究结合起来，甚至与材料的宏观力学性能研究相结合，深入理解形态变化的原凶，进而研究细、微观区域内的许多问题，从而为评估和改善材料各细观与微观结构的性能，建立细观力学模型提供依据。所以，从20世纪60年代末期开始，扫描电镜-原位加载技术逐渐成为材料性能研究中的一种主要技术，获得广泛应用。        而今，随着材料研究的发展，在役使环境（实际工作温度、受力条件）下，研究材料的原位力学性能，成为科研人员的需求，例如高温（1000℃以上）和受力环境是金属、陶瓷等材料热处理、烧结、制备的主要工艺条件，也是发动机、核电、火电等关键部件苛刻的服役条件之一。只有通过扫描电镜原位高温力学测试，才能够从纳米到宏观尺度深入、全面、准确的研究材料在高温受力条件下微观结构演变、成分、取向、力学性能等相互之间的定量化关系，从而完成优化材料制备工艺、材料质量检测、材料服役寿命评估、安全性评价等必要工作。        由张泽院士负责的国家重大科研仪器研制项目 “针对若干国家战略需求材料使役条件下性能与显微结构间关系的原位研究系统”于2019年5月26-27日在杭州通过国家自然科学基金委组织的验收。该重大仪器项目主要包含基于扫描电子显微镜的微观尺度高温力学原位研究系统和基于透射电子显微镜的原子点阵分辨高温力学原位研究系统两部分仪器开发。其中基于扫描电镜微观原位仪器系统，开发出了从室温～1200℃高温，同时施加3200N载荷，可以同时原位高温显微成像，能够进行跨宏观-微观-纳米尺度的显微结构与材料热力学性能间关系的原位仪器系统。        为推动国内扫描电镜高温原位应用技术的推广，TESCAN（中国）公司与北京工业大学固体微结构与性能研究所联合举办“扫描电镜原位高温-拉伸-成像技术研讨会”，介绍原位高温技术的新进展，欢迎您的莅临。时间：2019年11月1日 （周五）  地点：北京工业大学固体所理科楼M314会议室日程安排：9:30- 9:50   TESCAN All In One 微分析综合解决方案报告人：TESCAN（中国） 顾群 经理9:50-10:20   双相钢多尺度原位力学性能表征研究报告人：上海交通大学 材料改性及数值模拟研究所 李传维博士10:20-10:30  茶歇10:30-11:30  扫描电镜高温力学原位研究系统报告人：北京工业大学 固体所 张跃飞教授11:30-13:00  午餐13:00-16:00  演示及研讨会议联系人：顾群 经理，qun.gu@tescanchina.com

仪器信息网讯　2019年10月15日，合肥市，在2019全国电子显微学学术年会期间，泰思肯(中国)有限公司(TESCAN)发布了双束FIB-SEM新品。2018年，TESCAN先后发布了S9000G超高分辨型Ga离子FIB-SEM和S9000X超高分辨型Xe Plasma FIB-SEM;1年后，TESCAN再次发布双束FIB-SEM新品——TESCAN AMBER和TESCAN AMBER X，这两款新品都是基于S8000平台的升级版。发布会上，TESCAN为来宾准备了捷克风情的啤酒、红酒以及点心，让来宾在轻松愉快的气氛下品尝美食的同时，了解TESCAN的历史和最新产品。　　本次活动，TESCAN特别邀请到中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽出席并致辞，并与泰思肯(中国)有限公司总经理冯骏一起为TESCAN AMBER揭幕。　　　　张泽院士和冯骏总经理共同为新品TESCAN AMBER揭幕　　TESCAN AMBER作为基于S8000平台的升级版，是一款结合了高分辨分析型FIB和超高分辨扫描电镜的综合分析平台。从现场获取的产品展示页上看到，TESCAN AMBER与S9000系列相比较，配置电子镜筒有很大不同，S9000系列配置的是Triglav™ 超高分辨SEM 镜筒，TESCAN AMBER系列则是无漏磁动态加速BrightBeam™型超高分辨SEM镜筒，对于分析磁性样品、电子束敏感样品以及不导电材料等有较大优势。TESCAN AMBER 配置了2套镜筒内探测器系统，具有多种SE和BSE探测模式。TESCAN AMBER X的FIB使用了Xe等离子源,相较使用Ga离子的FIB-SEM, 在同样工作条件下，Xe离子的作用速度为Ga离子的50~60倍;另一方面，Ga离子可以获得比Xe更小的束斑：Ga 离子分辨率约为2.5nm, Xe等离子约为15nm。Ga离子FIB是要要求高精度刻蚀的首选方案，而Xe 等离子FIB对于需要高效率、大体积加工的样品，则具有更大的吸引力!　　产品经理Ondrej Nezhyba在《Background, Current Business and Product Overview》报告中把TESCAN AMBER系列具有的特点归纳为以下几个方面：　　超高分辨聚焦离子束扫描电镜　　BrightBeam™扫描电子镜筒提供无磁场的超高分辨成像　　高效率、截面宽度达到1mm大面积FIB样品加工　　可灵活选择镜筒内SE和BSE探测器　　自动优化电子束，实现高通量、多模态FIB-SEM断层扫描　　超大视野、便捷的导航　　双束FIB-SEM新品TESCAN AMBER　　新品发布会现场　　自称从2014年开始被公司内部“封杀”——不许公开发言的冯骏，在今天的新品发布会上出人意料地并未有多少笔墨言及新产品TESCAN AMBER,却从2014年那一场风波开始讲起，分享这5年来带领泰思肯(中国)有限公司深入思考用户的需求并制定、践行“聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质”发展战略的历程。在实践中，TESCAN采取了调整维修工程师的管理制度、加强用户应用支持、增加零备件库存、电话回访售后现场服务、建立用户群等措施，在用户和厂家之间建立良好互动。冯骏表示，TESCAN中国的特色服务已经广受TESCAN中国用户的赞誉。5年，冯骏终于被“解封”了!仪器信息网也见证了兰州大学等TESCAN用户“解封”的点点滴滴!　　本次新品发布会简短而隆重，并未对仪器的各项参数指标、具体应用案例展开详细介绍。仪器信息网编辑从现场了解到，16-18日，TESCAN将连续3天开展现场Demo演示和技术交流会(合肥丰国际大酒店1楼百合厅)，内容包括：原位高温拉伸成像演示、TESCAN新一代通用型 FIB -SEM 演示。TESCAN AMBER产品的详细内容和产品亮点，在3天的现场演示和交流中，等待着用户去亲身体会!了解更多会议同期报道，点击下图进入会议报道专题！

2019年10月15日-18日，在2019全国电子显微学学术年会期间，TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM，连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间，我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动，您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食，欢迎您前来参观和交流！演示和交流会的名额有限，请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦！ 2019年10月15日下午15:30开始，TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百合厅召开新品发布会，我们准备了捷克风情的啤酒、红酒以及点心，您可以在轻松愉快的气氛下品尝美食的同时，了解TESCAN的历史、产品以及在材料、生命、地质等领域的具体应用案例，对TESCAN公司感兴趣的老师请一定不要错过本次机会！ TESCAN 新品发布会时间：2019年10月15日（周二） 16:00~17:00地点：合肥丰大国际酒店一楼 百合厅（合肥经开区繁华大道10555号）时间和安排：时间题目人数限制10月15日16:00 – 17:00TESCAN 新品发布会-15:30 – 18:00主题沙龙- TESCAN 分会特邀报告时间：10月16日 16:25~16:45地点：第八分会场报告人：张芳报告题目： 冷冻电镜在生物领域的应用TESCAN 分会特邀报告时间：10月17日 15:05~15:25地点：第三分会场报告人：李景报告题目：TESCAN ALL IN ONE 解决方案在锂电行业的应用 TESCAN 现场DEMO演示演示时间：2019年10月16-18日（周三~周五）演示地点：合肥丰大国际酒店一楼 百合厅（合肥经开区繁华大道10555号）演示时间和安排：时间题目人数限制10月16日10:00 – 11:30原位高温拉伸成像演示30人14:30 – 16:00原位高温拉伸成像演示30人16:30 – 17:30 主题沙龙200人10月17日10:00 – 11:30TESCAN 新一代通用型FIB-SEM演示30人14:30 – 16:00TESCAN 新一代通用型FIB-SEM演示30人16:30 – 17:30 主题沙龙200人10月18日15:00 – 16:00TESCAN 新一代通用型FIB-SEM演示30人16:30 – 17:30 主题沙龙200人演示安排期间，TESCAN安排了应用工程师在现场进行演示，参与者可以通过网络报名的方式，在网上进行报名参观演示过程，每场上限30人。优先接受网上报名，如果该场次网上预约人数未达上线，可以接受现场预约。 TESCAN 交流会时间：2019年10月16-18日 每日中午地点：合肥丰大国际酒店一楼 百合厅（合肥经开区繁华大道10555号）  时间及安排：时间报告题目人数限制16日 12:30 –   13:30扫描电镜中原位高温力学实验技术分享30人17日 12:30 –   13:30TESCAN FIB-SEM-TOF-SIMS一体化在材料表征中的应用30人18日 10:00 –   11:00TESCAN RISE 拉曼一体化在材料表征中的应用30人18日 12:30 –   13:304D X-CT 应用方案介绍30人 交流会报告简介：扫描电镜中原位高温力学实验技术分享高温（1000℃以上）和受力环境是金属、陶瓷等材料热处理、烧结、制备的主要工艺条件，也是发动机、核电、火电等关键部件苛刻的服役条件之一。扫描电镜原位高温力学测试，能够从纳米到宏观尺度深入、全面、准确的研究材料在高温受力条件下微观结构演变、成分、取向、力学性能等相互之间的定量化关系。是优化材料制备工艺、材料质量检测、材料服役寿命评估、安全性评价重要的科学手段。扫描电镜的原位高温力学研究对加快我国高温合金、耐热钢等国家战略材料的研发进程、推动我国新材料产业的发展具有重要的作用。 TESCAN FIB-SEM-TOF-SIMS一体化在材料表征中的应用TESCAN TOF-SIMS和双束电镜联用，进一步弥补了目前最常见的EDS进行元素分析的缺憾。TOF-SIMS可以对包含H在内的元素进行分析，是目前氢脆、渗氢、储氢等研究热门领域的良好解决方案；TOF-SIMS也可对目前非常热门的锂电行业中的Li元素进行分布解析，这为锂电池失效分析提供了有力的分析利器；TOF-SIMS也可以进行同位素分析，为电镜和大型专业质谱之间建立了新的桥梁。除此之外，TOF-SIMS的高空间分辨、更灵敏的检出限以及三维重构能力也将电镜的微观元素分析能力推升到新的高度。 TESCAN RISE 拉曼一体化在材料表征中的应用RISE 将扫描电镜和拉曼光谱完全整合在一起，将电镜的功能能力除了常规形貌和元素分析之外，拓展到碳结构、有机结构、相结构、结晶度、应力等其他基本微观信息的表征，使得扫描电镜成为一个强大的微区分析测试平台，能够在观察到试样的同时，一次性、全面地、原位地对样品进行综合分析，为科研工作者提供更多有用的微观信息，尤其在碳材料、二维材料、有机材料、无机和地质材料等领域发挥不可估量的作用。  4D X-CT 应用方案介绍TESCAN全新推出的DynaTOM有别于常规的X射线CT装置，是一款专为动态和原位实验开发的真正意义上的时间分辨4D u-CT。DynaTOM有极快的时间分辨率，旋转一圈的时间可以小于10秒；另外，特殊的几何关系可以方便客户直接使用原位样品台无需任何改造；除此之外，独一无二的4D软件包颠覆了常规CT对数据分析的限制，科研工作者可以非常方便地从海量的三维数据中进行提取和重构。识别二维码，报名参加演示和交流会！ 

上一章（电镜学堂 |细谈二次电子和背散射电子（一））中我们详细的介绍了不同类型的二次电子的特点以及它们与衬度的关系，今天让我们来认识一下扫描电镜中另一个极其重要的信号----背散射电子（BSE）。背散射电子       背散射电子是入射电子在试样中受到原子核的卢瑟福散射而形成的大角度散射后，重新逸出试样表面的高能电子。由于背散射电子的能量相对较高，其在试样中的作用深度也远深于二次电子，通常而言是在0.1-1μm左右。在很多情况下，大家把BSE像简单的认为是试样的成分衬度，但是这种说法并不完全正确。背散射电子（BSE）和衬度之间有些什么关系？A.  BSE的成分衬度        背散射电子的产额和成分之间的确存在非常紧密的关系，在整个原子序数范围内，BSE的产额都是随原子序数的增大而提高，而且差异性高于SE（见图1）。所以，这也是大家都用BSE图像来进行成分观察的最主要原因。图1 铜包铝导线截面的SE、BSE像和铝、铜电子产额       不过，这并不意味着BSE的产额仅仅就取决于原子序数，它和试样的表面形貌、晶体取向等都有很大的关系，甚至在部分情况下，BSE在形貌立体感的表现上还要更优于二次电子。B.  BSE的形貌衬度        试样表面形貌的起伏同样会影响BSE的产额，只不过BSE产生的深度相对SE更深，所以对表面的细节表现程度不如二次电子。不过，如果对表面形貌不是特别关注的情况下，可以尝试使用BSE图像来进行形貌表征。特别是在存在荷电现象的时候，由于BSE不易受到荷电的干扰，较SE像会有更好的效果（见图2）。在前一章的SE章节中，我们已经介绍过这部分内容，这里不再赘述。图2（左图）5kV， SE图像         （右图）15kV，BSE图像C.   BSE的阴影衬度      在进行形貌观察的时候，有时候需要的是图像的立体感。立体感主要来源于在一个凹坑或者凸起处，对其阴阳面的进行判断。在这方面，大角度的SE和BSE因为对称性的关系，在阴阳面的产额及实际探测到的信号量完全一样，所以体现立体感的能力相对较弱。低角SE2信号反而可以较好的体现图像的立体感，处于样品室侧方的ETD探测器在采集低角SE信号时，朝向探测器的阳面信号不受阻碍，背向探测器的阴面的上部分的SE可以绕行后被探测器接收，而下部分则由于无法绕行从而产额降低，此时阴阳面原本产额相同的低角SE信号，在实际采集的过程中发生了接收数量的不一致，从而在图像上表现出阴阳面的亮度不同，我们把这种现象称之为阴影效应。图3  ETD的阴影效应当凸起区域比较高时，阴影效应会显得比较明显，而随着凸起区域高度的逐步降低，当处于阴面的低角SE能够完全绕行时，此时阴影效应就会变得非常微弱。而基于BSE不能绕行的特点，在这种情况下则可以增强阴影效应。BSE产生后基本沿着出射方向传播，不易受到其它探测器的影响。阴阳面的实际BSE产额是相同的，但是如果探测器不采集所有方向的BSE，而是只采集一侧的BSE，阴阳面收集到信号的差异就会变得非常大，而且由于BSE不能像SE那样会产生绕行，所以这种差异要远高于SE。换句话说，利用非对称的BSE得到的阴影效应要强于ETD的低角SE。图4 不同方向接收到的BSE强度及叠加算法除了形貌衬度之外，我们已经在上一章节已经介绍过。对于电位衬度，SE要强于BSE；对于通道衬度，BSE则要优于SE。我们现在再回到SE和BSE的关系上，简单总结一下，BSE以成分为主，兼有一定的形貌衬度，电位衬度较弱，不过通道衬度较强，抗荷电以及阴影衬度也都强于SE，详见表1。表1BSESE能量高低空间分辨率低高表面灵敏度低高形貌衬度兼有为主成分衬度强弱阴影衬度非对称很强低角有电位衬度弱强抗荷电强弱图5 断口材料的SE和BSE图像及衬度对比背散射电子如何分类？在明确了BSE和衬度之间的关系以及与SE的对比之后，接下来介绍一下BSE的分类。不同类型的背散射电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，为了能在以后电镜观察中获得最适合的条件，我们也要对BSE细致的分类，并对其各自的特点进行详细的了解。      BSE有弹性散射和非弹性散射之分，弹性散射的BSE能量接近入射电子的能量，非弹性散射的BSE能量要稍低一些，从200eV到接近入射电子能量均有分布。从发射角度来说，从很低的角度到很高的角度也都有分布。无论是能量分布上，还是空间分布上，BSE都表现出不同的特点，在此进行逐一说明。A.  高角BSE：       高角BSE是以接近90° 出射的背散射电子。此类BSE属于卢瑟福散射中直接被反射的情况，经过样品原子散射碰撞的次数也少，且和原子序数衬度也存在最密切的关系。高角BSE相对所包含的原子序数衬度最高，相对作用深度也较小，且和形貌关系较小。因此，高角BSE可以体现最纯的成分衬度。另外，当试样表面有不同取向时，不同取向的原子密度不同，也会影响直接弹性散射的概率。所以，高角BSE也能够很好的体现通道衬度。        因而，在多相的情况下，高角BSE可以表现出最强烈的没有其它衬度干扰的成分衬度；在试样抛光平整的情况下，高角BSE也可表现出对表面很敏感的通道衬度。        不过由于高角BSE的出射角的角度要求很高，因此其立体角很小，所以在所有BSE中相对来说占比也较少，信号相对偏弱。B.   中角BSE：        中角BSE是指那些能进入到镜筒内但达不到高角角度的BSE，角度一般不低于60°。中角BSE由于出射角度降低，因此在其中混有的非弹性散射BSE相对高角BSE而言有所提高，在试样表面的作用深度有所增加，其产额随形貌不同开始受到较大的影响。        中角BSE已经开始兼具成分和形貌衬度，不过由于出射角度依然比较大，作用深度也并不深，分辨率也没有受到太大的影响，依然可以维持在较高水平。而且，由于BSE的抗荷电能力要明显强于高角SE和轴向SE，因此，中角BSE可以作为它们的一个很好的补充。不过中角BSE和高角SE、轴向SE存在一个共同的问题，就是立体感同样不如低角信号。C.   低角BSE        低角BSE是以较低角度出射的背散射电子，通常在20°～60°之间。低角BSE的出射角度进一步降低，因此非弹性散射的电子所占比例也进一步提高，作用深度有了较为明显的加深。相应的，低角BSE的成分衬度较之前二者有了一定的弱化，而对形貌衬度的体现则会进一步的加强。        因此，低角BSE是属于兼具成分和形貌衬度，但是相对能够体现的表面细节不多，且图像分辨率有所降低。不过其抗荷电能力却有了进一步的提高，因此在荷电效应很强时，也可以作为形貌像的重要补充。        以上是按照BSE的出射角度来进行分类，我们把这三种BSE先简单的总结一下，如表2。表2低角中角高角形貌衬度降低成分衬度提高表面灵敏度提高立体感降低抗荷电降低分辨率提高信号强度降低图6 不同角度BSE的衬度对比     前面我们都是按出射角度来进行区分BSE，接下来，我们再看两种比较特别的类型。D.  Topo-BSE        Topo-BSE是指非对称的低角BSE，具有较为强烈的阴影衬度。由于低角BSE在所有角度BSE中对形貌最为敏感，再根据前面提到的BSE的阴影衬度，将两者结合起来，便可产生强烈的阴影衬度。        例如，对于试样上的一个凸起来说，各个方向产生的BSE信号是对称的，但是低角BSE产额和其形貌有关。如果只采集特定方向的低角BSE，那么朝向这个特定方向的信号量接收就要偏多，而背向这个方向的信号就明显偏少，反映在图像上就会出现明显的阴阳面，从而提高了图像的立体感。        Topo-BSE因为不会像SE那样产生绕行，所以其立体感要优于低角SE。而且，因为Topo-BSE比SE更不容易受到荷电影响，所以对于导电性差的试样，往往会有非常好的效果，如图7。图7 黄铁矿样品（左图）没有荷电，立体感强；(右图)立体感稍弱，且有一定的荷电        试样本身并不会产生这种不对称性，这种不对称性主要是人为故意造成，常用的方法有双晶体或五分割等不对称的BSE探测器的算法、对称BSE探测器的Topo模式采集、试样台的倾斜、以及其它的一些特殊技术。这部分内容将在以后的章节中再为大家详细介绍。E.  Low-Loss BSE出射角度不同外，BSE的能量分布也大相径庭，从比较低的能量到接近原始电子束的能量范围内均有分布，如图8。图8 BSE的能量分布其中相对比较特殊的就是非常接近原始电子束能量的弹性散射电子。这些能量非常接近原始电子束的背散射电子，因为几乎都是弹性散射，没有受到能量损失，所以它们最大的特点就是作用深度很浅。因为只有作用深度浅，它们才有较大的概率不受到试样原子的非弹性散射。        所以，我们将这类背散射电子称之为Low-LossBSE，能够反映非常表面的成分的变化，而且出射角度相对较高，因而不容易受到形貌的影响。图9  3kV、2kV和1kV电子束在硅基底内的穿透深度BSE的作用深度要比SE深的多，所以BSE信号对试样表面的灵敏度远不及SE。若要提高BSE的灵敏度，通常需要降低加速电压。以Si基底样品为例，使用的加速电压从3kV降到2kV、1kV，其作用深度分别为80nm、35nm和15nm，如图9。虽然表面灵敏度得到了提高，但是依然无法和SE相提并论，而且加速电压的下降导致了BSE信号的急剧下降。此时，让我们来看Low-Loss电子的作用深度，当加速电压为3kV的电子打到Si基底试样上，如果不进行能量过滤，作用深度在80nm；而能量在2.9keV-3keV的BSE电子，即能量损失在100eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为5nm；如果能量在2.95keV-3keV，即能量损失在50eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为2-3nm，见图10。这样的表面敏感度已经堪比二次电子。图10 3kV入射到硅基底上，不同能量的BSE的作用深度所以Low-Loss BSE是对表面极为敏感的背散射电子，有着和SE相当的表面敏感度。对于那些非常关注表面灵敏度的应用需求上，Low-Loss BSE可以起到极其重要的作用。让我们来看一个实例，二维材料中的石墨烯的观察。众所周知石墨烯的厚度非常薄，如果作用深度比较大的话衬度就会变得很弱，所以我们通常都是用低电压的SE来进行成像。如图11中的低角SE和高角SE图，一般很少有人会选择BSE来对二维材料进行成像，因为常规BSE作用深度较深，衬度非常弱。图11 二维材料，（左图）低角SE图，（中图）高角SE图，（右图）常规BSE图然而，试一下用Low-Loss BSE成像，却得到了出乎意料的效果。使用Low-Loss BSE成像，相当于用极浅的信号将非常薄的石墨烯和基底区分开，此时体现出了极佳的衬度。Low-Loss BSE表面灵敏度远优于常规BSE和低角SE，几乎和高角SE的成像效果不相上下。  图12 二维材料,Low-Loss BSE不同类型背散射电子有些什么特点？我们将通常大家并不注意区分的BSE信号，也根据出射角度的不同，将其分成高角BSE、中角BSE和低角BSE，根据低角BSE接收时的对称性分出Topo-BSE，再根据BSE的能量分布分出对表面极为敏感的Low-Loss BSE。这五类BSE信号会有不同的办法加以区分和接收，这将在以后的章节中为大家说明。我们把这五种BSE的特点，归纳如表3。表3高角BSE中角BSE低角BSETopoBSELow-LossBSE形貌衬度弱中强很强弱成分衬度强中中弱强通道衬度中中强弱弱表面敏感度高中低低很高立体感很低中中高很低阴影衬度无无部分条件有强无抗荷电中中很强很强强分辨率很高高低低中信号强度弱中强强弱好了，今天的介绍就到此为止，同样留下几个小问题，答案将留待下一章揭晓！问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？        010203上一期答案问题：您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？01低角SE            分辨率的不同         高角SE02低角SE      立体感的不同        高角SE03高角SE     荷电的不同        低角SE04高角SE   对表面灵敏度或深度信息的不同   低角SE05低角SE   受到电位影响电位衬度的不同      高角SE

二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号，对于很多扫描电镜使用者而言，二次电子可以用来表征形貌，背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而，二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天，我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型，各自的特点，以及它们和衬度之间的关系。二次电子       二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子，一般能量小于50eV，产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌，因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而，这种说法并不严谨。二次电子（SE）和其它衬度的关系          二次电子的产额其实和成分也有很大的关系，尤其是在低原子序数(Z                                                        图1 SE产额随原子序数Z的关系        这类实际例子非常多，如图2中的碳银混合材料，SE像不但可以区分出碳和银的成分差异，而且相对BSE图像来说具有更多的形貌细节。图2  碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额        所以，如果对于低原子序数试样，或者原子序数差异非常大时，若要反映成分衬度，并不一定非要用BSE像，SE像有时也可获得上佳的效果。        除了成分衬度外，SE还具有较好的电位衬度，在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低，图像偏暗，反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高，所以产额受电位影响小，因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3        另外，如果遇上试样的导电性不好，出现荷电效应或者是局部荷电，这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下，相对SE图像受到的影响大，BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下，有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。        至于通道衬度，一般来说因为需要将样品进行抛光，表面非常平整，这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向，但是相比BSE来说则要弱很多，所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4        SE和衬度的关系，总结来说就是SE的产额以形貌为主，成分为辅，容易受到电位的影响，取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候，可以参考表1，SE和BSE特点刚好互补，并没有孰优孰劣之分，需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类        刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系，接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此，为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果，我们有必要对SE的类别进行详细的了解。        如果按照国家标准来进行分类的话，SE主要分为四类，分别是：SE1：由入射电子在试样中激发的二次电子；SE2：由试样中背散射电子激发的二次电子；SE3：由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子；SE4：由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。        国标这样定义完全正确，然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢？因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子，探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么，我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用，我们在此不进行讨论。A.  SE1：    由原始电子束激发，因此其作用深度最浅，对表面最为敏感，我们知道SE本身也有成分衬度，所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。   其次，正因为SE1信号来自于样品的极表面，作用体积小，所以其出射角度应该相对比较高。因此，SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。   再者，正是因为SE1的出射高度都是高角，所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响，因而其分辨率虽好，但是立体感则相对比较弱。B.  SE2和SE3：    由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大，所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多，正因如此， SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。    其次，SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发，它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE，而且它们作用区域较深，也更能体现出试样深处的成分信息。    再者，SE2和SE3由不同方向的BSE产生，因此其出射角度相对也较为广泛，从高角到低角均有分布。C.  另外，我们需要再考虑到荷电因素，荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射，所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。        SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度，荷电SE分布在高角。这样一来，我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即：高角电子以“SE1+荷电SE”为主，低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点，我们分别来看一下。A.  轴向SE：        轴向SE是以接近90° 出射的二次电子，其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小，分辨率相应也是最高，且具有最高的表面敏感度，因此可以分辨极表面的成分差异，但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等，也会一览无遗。同时，因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多，所以，一方面对电位衬度最为敏感，另一方面受到荷电的影响也最为严重。B.  高角SE        高角SE是以较高角度出射的二次电子，也是以SE1为主，不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低，不过由于荷电SE占比减少，所以和轴向SE相比，高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射，所以图像的立体感都比较差。C.  低角SE        低角SE是以较低角度出射的二次电子，其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息，表面灵敏度低，作用体积大，分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好，抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点        这样，我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3，转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后，在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的，我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样，我们现在可以总结一下几种类型SE的特点，如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜，对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号，与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触，很明显两者的立体感相差很大，见图5。图5 低角SE图像（左）和高角SE图像（右）        但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生，虽然前面我们已经对二者进行了介绍，但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6，两张图都是使用镜筒内探测器获得，分辨率和立体感都很类似，总体效果非常接近，但是轴向SE（左图）受到小窗口聚焦碳沉积的影响，而同时获得的高角SE（右图）的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像（左）和高角SE图像（右） 图7的样品为硅片上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）图8的样品为绝缘基底上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）         总结一下，我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型，它们没有优劣之分，均有自己的特点，有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势，才能获得最适合的图像。      好了，关于SE的分类相对比较简单，相信您已经完全理解，我们将在下一篇中详细说一下BSE。        为了更好的理解这篇的内容，让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧！        您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？我们将会在下一期文章中公布答案哦！0102030405

2019年8月5日， “M&M 2019”（M&M，Microscopy and Microanalysis）在美国俄勒冈州波特兰市隆重开幕。TESCAN公司携多款扫描电镜和聚焦离子束系统亮相M&M 2019，包括镓离子双束聚焦扫描电镜系统（Ga FIB-SEM）---- TESCAN S8000G，氙离子双束聚焦扫描电镜系统（Xe FIB-SEM）---- TESCAN S9000X，钨灯丝扫描电镜 ---- VEGA3, 以及最新发布的超高分辨热场发射扫描电镜 ---- TESCAN CLARA。                                               TESCAN 展位（BOOTH #1108）TESCAN 展位一角（BOOTH #1108）TESCAN S8000G和TESCAN S9000X是TESCAN分别于2017年和2018年最新推出的两款仪器。 TESCAN S8000G集成了新一代的Bright Beam TM SEM镜筒、Orage TM Ga FIB镜筒、OptiGIS 气体注入系统等多项创新设计，在高分辨成像、原位应用扩展和分析扩展等方面达到了业内顶尖水平。TESCAN S9000X配置了新一代的Triglav TM SEM镜筒和iFIB + TM FIB 镜筒，其设计最适合用于面对半导体和材料表征中最具挑战性的物理失效分析，具有极高的分析、加工精度和加工效率。TESCAN的应用专家在为客户演示TESCAN CLARA是基于TESCAN S8000系列进一步研发的新机型，在设计时更着重于材料研究方面的需求，可以为各种类型的材料分析研究提供全面的支持。相对于TESCAN S8000,  TESCAN CLARA优化了低电压下的分辨率，同时也能更适应一些苛刻条件下才能完成的分析实验。软件方面，CLARA更直观的模块化设计可以为每个操作者都定制最适合的操作界面和流程，协助他们更高效、便捷、可靠的完成工作。TESCAN公司CPO -- Bruno Janssens曾经说过：“我们期待着在2019年于波特兰举行的M&M大会上，推出以TESCAN CLARA为主题的新分析产品组合。CLARA能够分析各种类型的材料，并能满足最苛刻的实验要求，从高端科研到教学，它都是一个理想的选择。”来自于美国、日本、中国、澳大利亚、比利时、捷克等国家的众多客户参观了TESCAN的展位，本次TESCAN展位上的所有仪器都受到了这些与会者的强烈关注，其中最新发布的TESCAN CLARA最引人注目，在会议第一天就进行了多次演示和说明。所有TESCAN仪器的演示时间都在会议的第一天就被预约完。最新发布的 TESCAN CLARA本次会议上，您还可以在Oxford（牛津）展位（Oxford BOOTH #915）上看到TESCAN公司的MIRA3 LM型热场发射扫描电镜，在这台仪器上同时安装了Oxford公司的2台能谱和1台EBSD。Oxford展位上的MIRA3 LM在EDAX公司的展位（EDAX BOOTH #428）上您也可以看到MIRA3 XM型热场发射扫描电镜的身影。 EDAX展位上的 MIRA3 XM TESCAN就在这里，与您相会在 M&M 2019! 展会日期：2019年8月5日~ 8日 展会地点：美国·俄勒冈州·波特兰市  TESCAN BOOTH #1108   活动安排（8月6日）   

2019年8月5日~ 8日，“M&M 2019”（M&M, Microscopy and Microanalysis）将在美国俄勒冈州波特兰市召开，TESCAN作为电子显微镜行业的全球供应商，应邀参加了本次盛会。M&M是由美国显微学会MSA（Microscopy Society of America）主办的全球最大的显微技术和分析科学大会，是一年一度的盛会。本次大会上，TESCAN将携多款扫描电镜和聚焦离子束系统（S9000X，S8000G，VEGA3）亮相M&M 2019。同时，TESCAN将隆重发布一款最新的超高分辨热场发射扫描电子显微镜 TESCAN CLARA! M&M 2019 上TESCAN公司展示仪器TESCAN的展位号为#1108，我们欢迎您前来参观和咨询，TESCAN的设备在展会期间会进行公开展示和演示。今年，您也可以在Oxford公司（#915展位）上和EDAX公司（#428展位）上寻觅到TESCAN 公司MIRA3电镜的身影。如果您想了解更多的信息，欢迎您于5日-7日莅临 TESCAN展位，我们的科学家们为您带来了前沿显微技术与应用讲座，内容将涉及最新的TESCAN CLARA，micro-CT，Cryo-FIB-SEM，FIB-SEM，S8000X以及在材料和半导体领域的应用等。值得一提的是，M&M大会报告日程上将有我们两个报告。1、8月5日（周一）下午14:00点，Dr Dean Miller会为您介绍如何利用集成了Raman和TOF-SIMS的FIB-SEM系统对锂电池电极的异质性的研究。2、8月6日（周二）Arno Merkle将介绍如何在实验室中进行时间分辨动态CT成像。 展会日期：2019年8月5日~ 8日 展会地点：美国·俄勒冈州·波特兰市  欢迎前去参展的各种专家学者莅临 TESCAN BOOTH #1108 参观交流！更多详情，请关注 https://2019mm.splashthat.com/

喜讯频传，以TESCAN S8000G双束FIB-SEM为基础的TESCAN All In One综合微分析系统，成功中标河南开炭新材料设计研究院的“微纳米分析加工系统等设备采购”项目！中标金额达1300万人民币！本次中标的综合微分析系统包含双束聚焦扫描电子显微镜（FIB-SEM）、飞行时间-二次离子质谱（TOF-SIMS）、共聚焦拉曼光谱（Raman）等，是国内第一套以TESCAN S8000G FIB-SEM为基础的“All In One”系统。河南开炭新材料设计研究院外观效果图河南开炭新材料设计研究院由中国平煤神马集团开封炭素有限公司出资承建，隶属于中国平煤神马集团，主要服务于集团新能源新材料板块，致力于新能源、新材料尤其是炭材料方面的研究。 中国平煤神马集团是一家以能源化工为主导的国有特大型企业集团，旗下拥有平煤股份、神马股份、易成新能3个上市公司和5家新三板挂牌公司，营业收入、资产总额均达1500亿元。中国平煤神马集团一直是我国品种最全的炼焦煤、动力煤生产基地和亚洲最大的尼龙化工产品生产基地。近年来集团按照“四个转变”的战略思想，坚持“以煤为本，相关多元”发展战略，构建了以煤焦、化工、新能源新材料为核心产业，装备制造、建工等产业协同发展的产业体系。其中新能源新材料板块拥有2个完整的产业链：1.世界上唯一一条从炼焦煤到煤焦油、煤沥青、针状焦、沥青焦、UHP石墨电极、高强高密特种石墨、负极材料和锂电池的全产业链；2.从煤化工到硅烷气、单晶硅、光伏材料、光伏电池和光伏电站的全产业链。河南开炭新材料设计研究院由中国平煤神马集团开封炭素有限公司出资承建，该公司是我国首家专业化生产超大规格超高功率石墨电极的高新技术企业，公司核心产品在国内市场占有率稳居第一位，国际市场占有率位居前五。2018年，公司实现销售收入33.77亿元，实现利润21.38亿元，缴纳税费8.28亿元，人均纯利约534.5万。河南开炭新材料设计研究院以集团的两条产业链生产过程中所遇到的科学和技术问题为研究对象，以推动板块更加节能、环保和科学的生产出更高品质、更高性价比的新能源、新材料产品为工作目标，同时结合研究院所处地理位置，致力于服务河南乃至整个中原地区的科技发展工作。本次中标的TESCAN S8000G是TESCAN公司最新的一款镓离子双束扫描电子显微镜（FIB-SEM）系统，可完成复杂的微纳米操作和分析，并保证极佳的精度和操作灵活性，是优秀的微观分析平台。系统还包括，TESCAN独有的共聚焦拉曼（Raman）联用系统及飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）联用系统，同时安装了彩色阴极荧光探测器（CL）和扫描透射探测器（STEM）等,以及第三方提供的EDX、EBSD分析仪器，构建了一套功能强大、高分辨、高灵敏度的微观综合分析系统。河南开炭新材料设计研究院通过认真、细致且全面的调研，邀请国内外多家知名电镜厂商进行技术交流和沟通，根据实际需求讨论制定了基本方案，并选择了各家电镜厂商符合该方案的产品。之后，还安排人员进行实地考察，不仅前往各家位于国内的DEMO实验室，还参观了多家拥有厂家同类设备的用户，走访了中科院上海微系统所，上海交通大学分析测试中心，上海交通大学材料学院等多个单位，了解仪器的使用情况，对配置的软件和附件、操作界面及使用功能进行了现场考察，听取用户对仪器的使用意见，并现场安排样品测试。经过半年的广泛调研和实际操作、考察，结合实际工作需要，最终才选择了TESCAN S8000G FIB-SEM为基础的”All In One”系统。TESCAN S8000G双束FIB-SEM系统 本系统是TESCAN在国内第7套电镜-拉曼联用系统和第6套双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统。TESCAN一直遵循的是“ALL IN ONE”微区综合表征的设计理念，即在一套系统中集微观形貌、元素分析、取向分析、结构分析、分子组成、结晶及应力等多种信息表征为一体，让用户能够充分体验TESCAN设备在微区综合分析能力上的强大优势。值的一提的是，正是由于“ALL IN ONE”的设计理念，TESCAN产品可以在后期根据用户的需要，非常方便的加配原子力显微镜、EBL、EBIC、CL、原位加热台、冷台及拉伸台等，各种探测器和拓展的分析附件，为科研拓展新的思路和可能性！TESCAN独有的综合解决方案在市场上被推广后，迅速地受到广大客户的认可和欢迎，充分证明了当今微区综合分析的重要性以及TESCAN在这一领域的优势。TESCAN公司将继续不断地进行科技创新，重视客户的所想所需，致力于为客户提供更专业的技术支持和售后服务！

2019年第十届中国电子显微摄影大赛已经拉开了帷幕，“中国电子显微摄影大赛”活动是由中国电子显微镜学会主办，《电子显微镜学报》编辑部协办，旨在为提高我国电镜技术水平，普及科学知识，加强同行间技术交流的一次盛会，至今已经成功举办了9届。历年来，评选活动都得到众多显微学工作者和青年学生的积极参与，大赛对参赛作品从科学性、艺术性和技术性上提出了要求，获奖作品会刊登在次年《电子显微学报》封面上。 本次比赛得到了全国电镜工作者和青年学生的关注，都摩拳擦掌准备一展身手。借此机会，我们就来聊一聊在拍摄扫描电镜图片时构图方面的技巧。一张优秀的电镜图片，除了有明确的主题思想，还需要根据主题思想的要求，运用画面的布局和结构，组成一定的画面，使客观对象比现实更富有表现力和艺术感染力。构图的规则在于要艺术性地对图片上的主题、陪体和背景进行排布，画面结构要求做到“明确主题、辨别主次、弃繁就简、布局适宜”，“简洁、多样、统一、均衡”是构图的基本要求，这些要求也可用在扫描电镜拍摄的图片上。扫描电镜图片构图规则中非常重要的一点是，图片想要表达的主题应该被放置在图片的中心位置，图片的整体布局要让人觉得赏心悦目而不是给人带来不舒适的感觉。我们经常会见到的是黄金分割的规则，黄金分割的规则与构图的规则很接近，因为黄金分割比例被公认可以为不同长度的物体给出完美的分割比例。在自然界中，完美的黄金分割随处可见（如蜗牛壳、叶序、树枝的针状生长、向日葵的盛开等）。                                                                                                            图1：黄金比例 什么是黄金比例？如图1所示，如果总长度对长边a的比值与长边a对短边b的比值相等，a和b就是黄金比例，比值约为1.618（约等于1.62）。在构图中最常见的就是三分构图法，三分构图法就是黄金比例的实际应用，对矩形而言是黄金分割。将图片区域在水平方向和垂直方向平均三等分，将待观察对象放在黄金分割线处（图2）。三分构图法是黄金分割比例的典型代表，按照三分法安排主体和陪体，图片就会显得紧凑有力。  图2： 三分构图法 在图片中，待观察物的位置是一个很重要的因素。斜线构图能够很好地进行布局，但是并没有必要把图像分成两部分。如果只有一个目标对象，可以放置在中心（图3）或是显微图片的交叉点；如果同时观察两个目标对象，最好选择让两者的位置呈对角关系，而不是简单地在发现目标时就拍照。同时应该考虑目标的视场惯性中心，尽量将目标放在黄金分割比例的交叉点（图4）。如果有超过两个以上的目标，可以一个挨一个的进行布局（图5）或是垂直布局（图6）。通常，对角线能够很好地呈现空间感、动态感，并让人留下多样性的印象。 图3: 目标居中    图4：视觉上的惯性中心 图5：水平布局 图6: 垂直布局 线条会引导人的眼睛从一个物体看向另一个物体；从左上角到右下角的对角线呈现了一个下降趋势；从左下角到右上角的对角线呈现了一个上升趋势。需要注意的是，尽量减少使用水平线的布局方式，水平线的布局会抑制空间感，而垂直线能够更好地展现高度和强度。另外需要注意是，使用汇聚线条的方式代替杂散线条，汇聚线条的方式能够延伸距离，使观察者的眼睛看向线条的汇聚点，从而判断图像的深度，杂乱无规则的线条则只会造成视野的混乱。不加选择、不分主次、纪录式的自然主义都是构图中坚决反对的。 图7: 上升趋势对角线 应该为待观察的目标预留足够的空间以便抓住观察者的眼球。目标的形状应该由多种颜色（灰度）组合构成而不是边界线。图像的主题应该从颜色（灰度）上与周围环境区分开来，最好将颜色最浅区域尽可能地只布局在待观察区域附近，而不是靠近边界或是几何中心，浅色区域看上去比深色区域显得更大。如果某一区域被更深颜色的区域包围，它看上去会更浅；反之亦然（图8）。图8: 对比的优势 通常，绝大部分人的注意力很容易被不寻常的事物吸引，如鲜明的对比和鲜艳的颜色（图9），较大的或是深色的目标，复杂的形体，或是在一群相似的物体中显得与众不同的物体（图10），两个接触的观察物（要避免不必要的接触，如图像的边缘，图11），被标记或是较亮的结构（例如在观察形貌结构时，侧向图像比较亮会更容易被注意）。图9: 鲜明的对比 图10: 不同的形状 图11:图像边缘不必要的接触 另一个非常重要的建议是，在获取图像的过程中我们应该尽可能减小干扰元素的存在。我们的眼睛和大脑只能集中在一个事物上，因此尽可能消除干扰元素，哪怕这些元素本来就在图片上。在很多实例中，只要改变目标的观察角度就可以有效的解决这一问题。以上就是我们需要注意的构图规则，构图是表现作品内容的重要因素，是作品中全部视觉艺术语言的组织方式，它使内容所构成的一定内部结构得到恰当的表现，只有内部结构和外部结构得到和谐统一，才能产生完美的构图。 参考文献 [1]   http://en.wikipedia.org/wiki/Golden_ratio[2]   http://www.digital-photography-school.com/digital-photography-composition-tips[3]   http://photoinf.com/General/Klaus_Schroiff/Perspective.htm

TESCAN是一家致力于为材料科学、石油化工、生物医药、半导体和电子器件等领域提供综合微观分析解决方案的全球供应商。公司总部位于欧洲电子光学研发和制造基地捷克布尔诺市，汇聚了电子显微镜及其零配件方面的顶尖人才。目前，TESCAN已建立起全球的销售和服务网络，在捷克、法国和美国拥有5家研发中心、2个生产基地以及7家海外子公司。TESCAN以满足客户需求，开发具有创新性、能够提升客户竞争力的产品作为产品研发宗旨，在经过充分调研的基础上，满足当前以及未来客户应用需求的发展，因而更多的知名高校、研究院所和企业选择TESCAN，其中不乏清华大学、北京大学、上海交通大学、香港大学、中科院微电子所、中科院生物物理所、中石油勘探研究院、故宫博物院、中芯国际、京东方、乾照光电等等。TESCAN于2009年正式进入中国市场，成立了TESCAN CHINA中国分公司，总部设在上海，且在北京、上海两地建立了DEMO实验室，在北京、上海、广州、重庆、南京、武汉、西安、无锡、苏州等城市设立9个维修站。10年来，TESCAN凭借优异的设备性能、及时有效的售后服务，以及独特的联用技术和解决方案，赢得了越来越多的用户认可，在中国的电镜销售台数已经超过600台！      在TESCAN中国的整个团队中，售后服务和应用支持人员高达65%，其中大部分人员均取得了硕士及博士学位，能够为用户提供“专家级”的技术支持和售后服务。TESCAN中国公司正在快速发展中，我们急需新鲜的血液加入TESCAN中国~在这里，你将获得→? 极具竞争力的薪资体系? 丰富的培训机会和完善的晋升机制? 五险一金、生日/节假日福利、各种补贴? 享有额外商业保险（包括本人和子女，以及重大疾病险）? 15天带薪年假，不定期团队建设和工会活动，年度国内外旅游机会等? 幸福有爱的团队文化，贴心的人文关怀招聘岗位：应用工程师Application Engineer岗位职责  Work Description1. 负责扫描电镜的应用以及技术支持工作；2. 为销售人员提供售前售后技术支持，负责设备演示和测样操作；3. 负责产品资料整理和应用开发；4. 负责产品的深入学习，为销售和市场提供多方位技术支持；5. 参与公司市场推广及创意、文案的撰写，快速结合公司动态与行业进行技术销售。任职要求  Mandatory Requirements1.  硕士及以上学历，理工类相关专业，仪器，光电、材料，化学以及物理类专业优先考虑；2.  英语4级或以上，听说读写熟练；3.  勤于学习和钻研技术，有扫描电镜使用和操作经验者优先；4.  熟练使用办公软件，具有较好的语言使用能力；5.  工作认真、为人诚实、责任心强，有团队合作精神。联系我们简历投递： hr@tescanchina.com 咨询电话： 021-64398570 转 853 (工作日 9:00~17:00）愿有梦想的你加入我们，一起前行！

2019年6月28日，TESCAN联合珀金埃尔默公司，首度举办了“锂电池检测专题”网络研讨会，来自全国各地的155位专家和技术人员参加了本次网络研讨会，对锂电池的检测标准、分析手段、综合评估等做了深入的剖析和交流，大家在会上展开了热烈的讨论。珀金埃尔默的原子光谱资深应用工程师陈观宇老师介绍了锂电池正极材料主量元素、负极材料掺杂元素以及电解液的分析方法，例举多个实际案例对分析方案进行了详细说明、介绍了实践中要注意的操作要点，并通过实际的结果比对来进一步阐述Avio系列ICP产品主量元素0.1%超凡稳定性的独特优势，以及ICP-MS在杂质元素分析上的特点和方案。除此之外，陈观宇老师还形象地讲解了GC-MS、红外光谱、热重分析等多种类型检测方法在锂电行业的综合应用。图1 珀金埃尔默Avio系列等离子体光谱仪图2 珀金埃尔默Nexion系列等离子体光谱仪图3 珀金埃尔默气质联用仪检测浓度为100 μg/mL的11种碳酸酯色谱图图4 用于原材料检验的珀金埃尔默便携式高性能红外光谱仪及红外显微镜系统图5 珀金埃尔默热分析仪检测电池原材料的热稳定性评价曲线本次会议还特邀广州能源检测研究院主任工程师，广东锂电关键新材料产业技术创新联盟专家技术委员会委员邵丹博士，来会上对动力电池关键材料检测现状做了详细的分析和报告，报告密切围绕动力电池产业背景、动力电池关键材料检测标准以及全方位的测试评价动力电池及其关键材料的新技术，内容详实、引人入胜。TESCAN公司的资深应用工程师张芳女士介绍了新颖的以扫描电镜为平台组建的综合微分析系统在锂电池正负极材料以及隔膜材料微观表征中的应用，以及使用X射线显微镜完成电池的三维无损分析，实现从宏观到微观的整体观测。图6 正极材料的表面形貌图7 正极材料的截面图8   锂元素的检测图9 负极材料石墨化/非晶化分析图10 负极材料析锂分析图11 电池的内部结构的三维成像        本次网络专题讨论会是TESCAN公司和珀金埃尔默公司首度联手，从不同角度和使用不同的分析手段对锂电池检测进行系统、完整的分析和介绍，进而为广大的用户群提供综合有效的结果方案。珀金埃尔默公司和TESCAN公司都有各自擅长且独特的解决方案，此次携手合作，势必为多个领域的用户群体提供更多的前沿分析技术和专业的行业解决方案。

我们大多数人可能都喜欢在闲暇的时候约上三五好友“来两杯”，或在特殊的日子为自己的爱人精心准备一场浪漫的红酒晚餐，亦或只是“我自饮来我自醉”的消遣，但是我们却很少关注并意识到葡萄酒酿造及酿酒工艺的科学。一瓶葡萄酒，从开始种植到酿造装瓶，大约需要生长5年、发酵3个月、橡木桶存放6~18个月，有时甚至还需要在海上运输2~3个月，毫无疑问，这是一门需要时间和耐心的技艺。在葡萄培育和酿酒工艺中，科学培育出优良的葡萄品种、改进酿造工艺、提升质量都是至关重要的环节，而这需要借助先进的科学手段和工具，扫描电子显微镜（SEM）作为一种超高分辨率的微观观测和分析的工具，在葡萄酒酿造产业中也“大有用武之地”！扫描电镜可从细胞、亚细胞水平乃至生物大分子水平对各种样品进行深入细致的分析观察。通过观察研究葡萄树的叶片、花朵、果实等的形态结构，可对葡萄品种选育、种植管理、采摘储藏等生产环节提供重要参考；通过观察分析发酵过程中原料、菌种、发酵产物等的状态和性质，可以帮助研究人员改善发酵工艺，分析生产中遇到的实际问题。图：由TESCAN合作发布的利用电镜研究葡萄培育和葡萄酒酿造工艺的相关文章入选《Lab+Life Scientist》期刊封面为了培育出优良的葡萄品种，研究人员需要借助高分辨率的扫描电子显微镜观察不同组织、器官的形貌结构（如植物表皮细胞组织、维管组织、气孔等），寻找优良植株的内在原因，最终培育成需要的品种。图：葡萄藤死表皮组织细胞的表面形貌（注：使用TESCAN MIRA3 FE-SEM在高真空下观察）图：在显微镜下观察到淀粉颗粒（绿色）沉积在葡萄藤的维管组织中（注：研究使用了TESCAN FE-SEM与冷冻传输系统对样品进行冷冻固定、冷冻断裂并保持在冷冻下观察，以获取样品的真实形貌。冷冻电镜方案特别适用于脆嫩的植物组织及一些冷冻下才能稳定保存的样品，如冰激凌等。）在具有超高分辨率的电子显微镜下，还可以清晰地观察到葡萄叶的形态细节以及位于葡萄叶表面的气孔。气孔在植物碳同化、呼吸、蒸腾作用等气体代谢中，成为空气和水蒸气的通路，在生理上具有重要的意义。图：葡萄叶及其表面气孔的微观形貌细节（注：样品使用化学固定、脱水及临界点干燥处理）酵母菌在葡萄酒酿制中是不可缺少的。简单来说，酿酒酵母就是一种单细胞微生物，可以将葡萄中的糖分转变为酒精，也就是俗称的酒精发酵。为了培养、识别出优质的酵母，研究人员需要通过观察菌种的大小、形貌等细节来辨识不同菌种。酒香酵母（Brettanomyces），是一种在酿酒过程中随时可能出现的物质，它因为能够为葡萄酒增加“香味”，而被人铭记。适量的酒香酵母可以为葡萄酒增添风味，但过量存在时则会使葡萄酒散发出一种类似“臭袜子”或“马骚味”的气味，破坏酒的气味和口感。图：电子显微镜下观察到的酒香酵母细胞（注：样品使用化学固定、脱水及临界点干燥处理） 另外，在葡萄酒酿造中，还会产生一种副产品—酒石酸氢钾。这是一种无色至白色的斜方晶系结晶性粉末，无臭，有令人愉快的清凉酸味，通常被食品工业称作塔塔粉。但在酿酒过程中，产生的酒石酸氢钾会与酵母细胞结晶产生浑浊的细白色或淡黄色沉淀物，这些沉淀物虽然不会影响葡萄酒的味道或气味，但它会影响葡萄酒的美感。图：肉眼观察到的的酒石酸氢钾图：电子显微镜下的酒石酸氢钾与附着在其表面的酵母细胞（注：酒石酸氢钾易溶于水，样品不能用常规制样方法，例如化学固定，因此使用TESCAN MIRA3 FE-SEM低真空功能直接进行观察。TESCAN的低真空功能特别适用于不导电样品的直接观测及电子束下不稳定的生物样品。）在葡萄酒发酵成熟时，酒液中也会有残留的死酵母、杂质、葡萄残渣以及部分酒石酸结晶，这些物质会沉淀形成酒泥。因此，在装瓶前，酿造者通常会使用“倒桶”、过滤或下胶澄清、冷却结晶等方式去除这些沉淀物，来保证葡萄酒的“美感”。图：在电子显微镜下观察葡萄酒的澄清过滤（过滤孔筛的孔隙范围为0.45~1.2μm）（注：使用TESCAN水汽注入系统可直接观察样品，保持样品最原始的状态。水汽注入系统特别适用于易失水的生物样品及水汽参与反应的原位实验，如食盐溶解与重结晶、水泥固化等）以上图像及数据来自于由全球扫描电子显微镜的领先制造商TESCAN与捷克国家葡萄酒中心合作开展的一项研究，该项研究利用超高分辨扫描电子显微镜探究葡萄培育和葡萄酒的酿造工艺。这项研究工作在TESCAN MIRA3超高分辨场发射扫描电镜（FE-SEM）上完成，在本研究中使用的样品由位于布尔诺的孟德尔大学的葡萄培育和葡萄栽培部提供。目前，相关研究成果已在捷克国家葡萄酒中心公开展览，展览地设在著名的Valtice城堡的总部，该城堡也被联合国教科文组织列为世界遗产地。图：在捷克葡萄酒酒都Valtice城堡展出的“特殊展览” 该项研究的合作和技术支持—TESCAN公司的总部位于捷克布尔诺市，该地区被称为欧洲电子显微镜的摇篮。布尔诺也是捷克共和国南部与奥地利和斯洛伐克接壤的摩拉维亚地区的首府，这里是捷克主要的葡萄酒产区，占其国家总产能的96%。捷克国家葡萄酒中心主任Pavel Kr?ka谈到：“据我们所知，这个展览是同类型展览中的第一次，展览非常受欢迎。参观者们被这些图像所震撼，因为这个展览在吸引葡萄酒爱好者，传播葡萄酒文化的同时，还为参观者展示了葡萄酒种植及酿造相关的科学内容！“

2019年4月20-21日，由吉林省电镜学会主办的“吉林省第十二届电子显微学会议”在长春市吉林大学南岭校区成功举办。本次会议期间进行了吉林省电镜学会组织领导机构换届、电子显微学及最新技术和应用发展交流。吉林省第十二届电子显微学会议本次会议开幕式由上届吉林省电镜学会理事长崔丽教授致开幕词，并主持了新一届电镜学会组织领导机构的换届选举。新一届吉林省电镜学会理事长由吉林大学郭作兴教授担任，副理事长由吉林大学张伟教授、李艳茹教授、长春工业大学吕威教授、东北师范大学邢艳教授担任，学会秘书长由吉林大学韩双教授担任，副秘书长分别由吉林大学姚立、郑伟研究员担任。吉林省电镜学会上届理事长崔丽教授（左）和新任理事长郭作兴教授（右）TESCAN作为此次会议特邀厂商，出席并带来了“TESCAN微分析综合解决方案”的精彩报告，并重点分享了TESCAN“All In One 综合显微分析平台”近年来在显微领域的技术创新和客户应用成果。目前，电子显微分析的主要发展方向是提升电镜的高分辨能力、原位观测能力和综合分析能力。TESCAN作为全球知名的电子显微仪器制造商，开发创新了很多独有技术，能够提供完善的微分析综合解决方案。对于高分辨能力，TESCAN 开发、应用了静电-电磁混合透镜、电子束无交叉、透镜内和样品表面电子束减速等多种技术，以及高性能的镜筒内和镜筒外探测器等，实现了形貌和成分图像的高分辨观测能力。对于原位观测能力，TESCAN 设计了大空间的样品室，承载力强大的样品台，并能够实现包含超高真空、低真空、饱和水蒸气等多种分析氛围，既满足了样品外部工作环境的严苛条件，并尽可能减小了氛围对仪器正常工作的影响 。对于综合分析能力，TESCAN创新开发了SEM-Raman、FIB-SEM-TOF-SIMS等一体化联用技术，将电镜的分析应用拓展到更多领域。TESCAN独特的样品室结构和精细的扩展接口位置设计，也使得TESCAN电镜平台能够兼容各种分析附件，并保证各分析附件高性能工作，实现样品的微观综合分析。TESCAN市场部马耀娇女士精彩会议报告会议期间，来自吉林省的各位专家和老师与TESCAN中国公司的工作人员积极互动，展开了热烈的交流。感谢这个平台和交流机会，TESCAN将持续保持创新和对电镜应用技术的不懈钻研，为广大用户提供更全面、更专业的综合解决方案！参会人员合影

2019年4月19-21日，“2019年华东地区(电子) 显微学学术交流会”在浙江省杭州市顺利召开，会议由山东省、江苏省、安徽省、上海市、福建省、浙江省电镜学会联合举办，主题涵盖电子显微学相关技术的应用基础研究，以及综合运用多种显微形态学技术的研究和实验室技术、实验室管理等经验交流。本次会议特设材料科学与生命科学分会场，共吸引了来自华东地区高校、科研院所及企业单位的200余人参会。2019年华东地区（电子）显微学学术交流会TESCAN作为会议特邀厂商，出席并参加了此次学术交流会，TESCAN中国市场部经理顾群也带来了“TESCAN微分析综合解决方案”的精彩报告，并向参会的各位专家和学者重点介绍了TESCAN“All In One综合显微分析平台”的最新技术发展及其在材料、生命、地球科学及半导体等领域的应用成果。TESCAN市场部经理顾群精彩报告TESCAN能够提供二维、三维、四维动态的高分辨形貌观测、成分分析、微量轻元素检测及化学结构解析等集多种分析功能于一体的综合电镜分析平台，并能够提供从宏观到微观的多尺度分析解决方案。TESCAN在电镜综合分析性能的拓展上拥有多项创新，包括在电镜中集成拉曼一体化的首创技术(SEM-Raman)，以及在双束电镜平台上一体化集成飞行时间-二次离子质谱的独特技术等 (FIB-SEM-TOF-SIMS)。最后，顾经理也向大家介绍了TESCAN最新发布的第四代电镜S8000、S9000系列产品及TESCAN于2018年新推出的X射线显微CT系列产品的技术优势和创新应用。TESCAN“All In One综合显微分析平台” 的创新设计理念，使得在TESCAN电镜平台上同时接入EDS、EBSD、CL、Raman、TOF-SIMS等多种分析附件以及原位的加热台、拉伸台等成为可能，这对样品的进一步组合分析提供了很大的便利。会议合影

TESCAN UniTOM 是一款配置灵活的多分辨率3D X射线显微镜，可以对大尺寸的风机叶片（长约40 cm）整体3D成像，这是一种非破坏性的技术，可以在不破坏材料的前提下，快速方便地获取风机叶片材料的内部结构，从而进一步研究和分析结构缺陷对叶片材料结构完整性的影响。毫无疑问，风是一种潜能巨大的新能源，在数秒钟内就能发出一千万马力（750万千瓦）的功率。风很早就被人类利用，比如用风车来抽水、磨面等，而现在风能主要被用作风力发电，通过风力带动风机叶片旋转，再透过增速机将旋转的速度提升，来促使发电机发电。由于风力发电非常环保，无需使用任何燃料，也不会产生辐射或空气污染，因此得到广泛的应用。（图片来源于网络）但风机叶片作为风力发电机的核心部件之一，因积年累月的运转在自然环境中，长期受日照、风雪、雷电，沙尘，甚至大气污染等环境的侵蚀，叶片材料容易老化和损坏，这不但会导致昂贵的维修费用和停机成本，不良的叶片性能还会影响整个叶片的完整性，造成发电量的严重损失，甚至引发事故。风机叶片材料的损坏和老化（图片来源于网络）    为了有效避免事故，减少风险，我们首先需要探究一个问题：风机材料的老化和损坏到底是如何影响叶片结构完整性的呢？我们知道风机叶片对材料的要求很高，不仅需要具有较轻的重量，还需要较高的强度、抗腐蚀、耐疲劳性能，因此复合材料在风机叶片的制造中被广泛应用，它占整个风机叶片的比重高达90%。但复合材料是由多种非均质材料组成的，在宏观和微观尺度上的结构都非常复杂，需要利用多尺度三维成像方法才来获得其完整的内部结构。    那有没有一种方便快捷的多尺度成像方法能帮助我们快速获得叶片材料的完整内部结构呢？TESCAN UniTOM 是一款配置灵活的多分辨率3D X射线显微镜，可以对大尺寸的风机叶片（长约40 cm）整体3D成像，这是一种非破坏性的技术，可以在不破坏材料的前提下，快速方便地获取风机叶片材料的内部结构，从而进一步研究和分析结构缺陷对叶片材料结构完整性的影响。（一）全局扫描，无损获取材料内部宏观结构首先，使用TESCAN UniTOM对叶片材料样品进行了整体扫描成像，获得了复合材料的内部宏观结构。如下图中的横向切片所示，我们可以看到风机叶片是由多层玻璃纤维组成，在层之间的树脂中还存在许多孔隙，并且在复合材料的表面覆盖有涂层。对叶片材料整体成像，观测内部结构从风机叶片材料的概览图像和横截面中，可以观察到叶片材料中存在不同大小的孔隙，对这些孔隙进行进一步分析，发现检测到的大多数孔隙可能与存留在材料不同玻璃纤维层之间的气泡有关。孔隙度三维成像分析（蓝色代表较小的孔隙，红色代表最大的孔隙）孔隙度直方图统计分析（二）对概览图实时缩放分析，洞悉更多细节利用TESCAN UniTOM系统，可以非常方便地在获得的概览图上选择感兴趣区域，进行实时缩放扫描，来对特征区域进行更加细节的观测。在对感兴趣区域的高分辨观察中，我们发现原本观测不到的存在于玻璃纤维层内和涂层内的孔变得清晰可见（不用对样品做任何处理，分辨度可增加5~10倍，达到12μm），并且借助于高分辨率的细节图像，也可以区分穿过涂层并在涂层下方的树脂内延伸的微小裂缝。局部扫描成像，洞悉更多结构细节然后，从较大叶片的垂直层中，选择一块具有代表性的区域，提取直径为5mm的样品。通过对样品的高分辨率扫描分析，可以得到材料内部不同层的详细信息，甚至可以区分出单根的玻璃纤维。此外，根据样品的横截面剖析，也可以观察到材料内部存在有不同类型的孔隙。对样品进行高分辨扫描，获取更多复杂信息 材料内部不同层的特性分析分析表明，在这种叶片的复合材料中确实存在较大的孔隙，而这主要与材料内部玻璃纤维层中的起伏和这些层之间的空气泡有关。（三）涂层分析在叶片复合材料结构的顶部，通常会采用覆盖涂层的方式来增强材料的性能。但这种涂层非常的薄而且涂覆面积非常大，分析时既要求很高的分辨率，又需要分析很大的面积，采用传统的表征方法是不可行的。但TESCAN UniTOM具有亚微米级的高分辨率（真实空间分辨率可以达到500nm），并能够分析大尺寸的样品（容纳样品直径可达40 cm，高度可达50cm），非常适合叶片复合材料中覆盖涂层的分析。我们利用UniTOM系统对复合材料的内部结构进行局部扫描和放大分析，并借助软件将涂层与材料其他结构分离，对涂层的内部成像，可以发现在整个涂层中也存在大量的小气泡。对涂层结构成像分析，分类筛选出涂层中的小气泡可见，TESCAN UniTOM是一款灵活的、模块化的多分辨率X射线显微镜，能够对完整的叶片材料样品整体成像来评估材料宏观尺度上的内部结构，还可以在获得的概览图像上选择感兴趣的区域，实时缩放进行更高分辨率的变焦扫描，最大化图像质量、分辨率和分析速度，是一种非常高效和实用的多尺度分析工具。风机叶片材料结构缺陷的多尺度高分辨研究

生物体从宏观到微观，再到纳米尺度的多级复合结构，使其具有诸多独特的优异性能。人们很早就开始模仿生物的特殊功能，来发明和应用新技术。例如人们根据苍蝇特殊的“复眼”结构，仿照制成了“蝇眼透镜”，用它作镜头可以制成“蝇眼照相机”，一次就能照出千百张相同的相片；还有仿照水母耳朵的结构和功能，人们设计了水母耳风暴预测仪；根据蛙眼的视觉原理，研制成功了一种电子蛙眼，能准确无误地识别出特定形状的物体！图：苍蝇特殊的“复眼”结构（图片来源于网络）这就是早期的仿生学应用，但随着科技的进步和纳米技术的迅速发展，人们开始将仿生学应用到纳米尺度，研究者通过模仿生物的纳米结构仿生制造出类似的超微结构，以此来探究和获取生物的特殊功能。在纳米微结构加工领域，常用的微纳光刻技术有纳米压印、紫外光刻、X射线曝光等技术。而在最近的一项研究中，昆士兰科技大学的研究团队首次将电子束曝光（EBL）技术应用于生物纳米结构的仿生制造，并取得了重要研究成果。目前，该项研究论文已被Journal of Materials Chemistry（IF=4.776）录用，论文题目为Multi-biofunctional properties of three species of cicada wings and biomimetic fabrication ofnanopatterned titanium pillars。研究中涉及的大量仿生制备工作由TESCAN 的EBL完成，并使用了TESCAN MIRA3场发射扫描电子显微镜表征细胞间相互作用。图：研究论文已被Journal of Materials Chemistry（IF=4.776）录用由于蝉翼具有多功能生物特性，如超疏水性，自清洁和杀菌作用等，人们对其在生物医学上的应用产生了浓厚兴趣。昆士兰科技大学Prasad KDV Yarlagadda及其研究团队对蝉翼的杀菌和细胞相容特性进行了系统研究，并首次使用电子束曝光技术（EBL）进行蝉翼结构的仿生制造，加工出类似的纳米锥阵列结构，经研究发现，其同样具有杀菌和生物相容性。首先，研究人员使用了SEM，AFM，TEM等多种微观分析技术对三种不同种类的澳大利亚蝉翅膀表面的纳米结构进行了表征。研究人员观察到，三种蝉翼表面均具有独特的形貌结构，虽然凸起的高度、直径、间距和密度并不完全相同，但都呈现出锥状的纳米柱阵列。图：不同物种的蝉翅具有不同高度、间距、直径和密度的纳米柱结构研究人员分别采用了在蝉翼上附着铜绿假单胞菌、金黄色葡萄球菌细胞和人成骨细胞的方法来探究昆虫翅膀的杀菌活性和生物相容性。实验证明，三种蝉翼均具有很好的杀菌活性，且附着人成骨细胞的蝉翅细胞形态在24小时后仍然保持完整，表明它们仍然具有生物相容性。在该项研究中，研究人员尝试进行蝉翼结构的仿生制造。由于是纳米尺度的阵列结构，一般的刻蚀、沉积方法均无法实现。而常规的电子束曝光（EBL）技术也无法实现如此规模的锥体制造。昆士兰科技大学的研究团队巧妙地利用电子束在光刻胶中的散射，通过控制电子束能量，制作出椎体的“模子”，然后利用沉积生长出需要的椎体，最后腐蚀掉所有光刻胶，得到了完美的纳米锥阵列。图：仿生纳米锥阵列的制作过程示意图最终制备的仿生Ti纳米锥的高度为116 ~282nm，锥形柱的顶端直径最小达13.3nm，底部直径93.6nm左右。并且，进一步实验发现，其同样具有杀菌性和生物相容性。昆士兰科技大学的这项研究成果对于纳米仿生学的应用具有重大意义。  图：通过EBL技术制备的仿蝉翼结构的Ti纳米锥陈列图：（E）在制备出的仿生Ti纳米锥阵列上附着铜绿假单胞菌细胞；（F）对照Ti柱和仿生纳米Ti柱上附着的人成骨细胞的活性；（G）在仿生Ti纳米锥阵列上附着扩散良好的成骨细胞；电子束曝光（EBL）技术是一种电子束直写技术，是利用电子束在涂有对电子敏感的高分子聚合物（光刻胶）的基底上直接描画出图形，通过刻蚀实现微小结构的加工。电子束曝光（EBL）技术避免了传统方法中对模板加工和使用的复杂过程，其高分辨、高度灵活性、高灵敏度的特点也受到研究人员关注，且EBL制备方法更加简单，更容易制备出小尺寸的各种花样的周期性结构。在上述工作中，昆士兰科技大学研究团队使用了TESCAN MIRA3高分辨场发射扫描电子显微镜搭配TESCAN自主研发的电子束曝光（EBL）技术出色完成了相关工作。不久前，昆士兰科技大学新采购了一台TESCAN最新的S8000X Xe Plasma FIB-SEM，这是一款功能强大的氙等离子源FIB，配置了TESCAN最新一代的多项专利技术，期待昆士兰科技大学未来取得更多的研究成果！图：昆士兰科技大学最新采购的TESCAN S8000X Xe等离子源FIB-SEM 注释：该项研究由昆士兰科技大学研究团队完成，相关论文目前已通过了英国皇家化学学会（Royal Society of Chemistry）评审，论文稿件已被录用，将于不久后在网上公开发布。

近日，昆士兰科技大学（Queensland University of Technology）很高兴地宣布，他们刚刚订购了一台TESCAN S8000X氙（Xe）等离子源FIB-SEM系统。TESCAN S8000X是TESCAN最新推出的全新一代超高分辨超高通量的氙（Xe）等离子源 FIB 系统，具有无与伦比的多功能性和优异的超高分辨成像及高速纳米加工功能，它将成为昆士兰科技大学的CARF平台（Central Analytical Research Facility）在未来几个月安装的“旗舰机”之一。2016年，该平台也向TESCAN采购了一台MIRA3 FE-SEM系统。图：TESCAN S8000X 氙（Xe）等离子源FIB-SEM系统昆士兰科技大学（QUT）是一所研究性大学，在澳洲大学中排名前十，世界TOP 3%，历史悠久，声誉卓著。CARF位于昆士兰科技大学内城校区的科学与工程中心，平台实验室拥有最先进的科学分析仪器，CARF除研究广泛的跨学科应用及升级搭建新的科学仪器外，还为各行各业的企业和政府机构提供测试服务。图：昆士兰科技大学科学与工程研究中心Xe等离子与Ga离子相比，有更大的质量和原子半径，溅射速度是传统Ga离子源的50倍以上，非常适合长耗时和大体积的铣削任务。此外，Xe等离子还具有注入效应小、不形成金属间化合物、不改变加工区域电学性质等优点。TESCAN是全球第一个推出氙气等离子FIB-SEM系统的厂家，已发展了多代产品，具有业内顶级技术水平和多项发明专利。昆士兰科技大学CARF的研究专家表示：“我们采购的这台TESCAN S8000X Xe Plasma FIB-SEM将配置顶级的EDS（能量色散X射线光谱仪）和EBSD（电子背散射衍射）探测器，用于3D化学和微观结构分析。特别的是，S8000X还会将ToF-SIMS（飞行时间-二次离子质谱）一体化集成，这为3D化学成像分析提供了最佳方案。集成的ToF-SIMS不但使电镜拥有了超高的空间分辨率（低至50 nm）和极高水平的表面灵敏度（ppm级），系统还可以检测元素周期表中的所有元素以及同位素，这远远超过了电镜常用的其他元素分析技术，如EDS。”负责管理TESCAN S8000X的CARF设备专家Annalena Wolff博士说：“我们非常高兴能将新系统引入我们的实验室。它将帮助我们的研究人员保持领先的科学研究地位，我们非常期待与TESCAN更多的合作，以帮助大家更容易地掌握一流的FIB技术“。CARF显微镜高级研究员Jamie Riches博士补充道，“我们拥有庞大的客户群，他们非常渴望使用这个新系统，因为他们知道这将有利于他们对于地球科学、生命科学和材料的研究。S8000X的大面积截面加工能力为地球科学和生命科学提供了全新的FIB-SEM技术，而这些通常需要纳米分辨率的大面积横截面分析应用，使用常规的Ga离子源FIB铣削无法完成”。Annalena Wolff 和Jamie Riches博士以及昆士兰科技大学CARF平台也特别感谢了澳大利亚研究理事会（ARC）的LIEF资助计划，正是该计划使这项重大的购买成为可能。他们表示这项重大采购将有助于加强他们在专业领域的研究优势，并使这一尖端技术被更广泛地应用。

生物体从宏观到微观，再到纳米尺度的多级复合结构，使其具有诸多独特的优异性能。人们很早就开始模仿生物的特殊功能，来发明和应用新技术。例如人们根据苍蝇特殊的“复眼”结构，仿照制成了“蝇眼透镜”，用它作镜头可以制成“蝇眼照相机”，一次就能照出千百张相同的相片；还有仿照水母耳朵的结构和功能，人们设计了水母耳风暴预测仪；根据蛙眼的视觉原理，研制成功了一种电子蛙眼，能准确无误地识别出特定形状的物体?图：苍蝇特殊的“复眼”结构（图片来源于网络）这就是早期的仿生学应用，但随着科技的进步和纳米技术的迅速发展，人们开始将仿生学应用到纳米尺度，研究者通过模仿生物的纳米结构仿生制造出类似的超微结构，以此来探究和获取生物的特殊功能。在纳米微结构加工领域，常用的微纳光刻技术有纳米压印、紫外光刻、X射线曝光等技术。而在最近的一项研究中，昆士兰科技大学的研究团队首次将电子束曝光（EBL）技术应用于生物纳米结构的仿生制造，并取得了重要研究成果。目前，该项研究论文已被Journal of Materials Chemistry（IF=4.776）录用，论文题目为Multi-biofunctional properties of three species of cicada wings and biomimetic fabrication ofnanopatterned titanium pillars。研究中涉及的大量仿生制备工作由TESCAN 的EBL完成，并使用了TESCAN MIRA3场发射扫描电子显微镜表征细胞间相互作用。图：研究论文已被Journal of Materials Chemistry（IF=4.776）录用由于蝉翼具有多功能生物特性，如超疏水性，自清洁和杀菌作用等，人们对其在生物医学上的应用产生了浓厚兴趣。昆士兰科技大学Prasad KDV Yarlagadda及其研究团队对蝉翼的杀菌和细胞相容特性进行了系统研究，并首次使用电子束曝光技术（EBL）进行蝉翼结构的仿生制造，加工出类似的纳米锥阵列结构，经研究发现，其同样具有杀菌和生物相容性。首先，研究人员使用了SEM，AFM，TEM等多种微观分析技术对三种不同种类的澳大利亚蝉翅膀表面的纳米结构进行了表征。研究人员观察到，三种蝉翼表面均具有独特的形貌结构，虽然凸起的高度、直径、间距和密度并不完全相同，但都呈现出锥状的纳米柱阵列。图：不同物种的蝉翅具有不同高度、间距、直径和密度的纳米柱结构研究人员分别采用了在蝉翼上附着铜绿假单胞菌、金黄色葡萄球菌细胞和人成骨细胞的方法来探究昆虫翅膀的杀菌活性和生物相容性。实验证明，三种蝉翼均具有很好的杀菌活性，且附着人成骨细胞的蝉翅细胞形态在24小时后仍然保持完整，表明它们仍然具有生物相容性。在该项研究中，研究人员尝试进行蝉翼结构的仿生制造。由于是纳米尺度的阵列结构，一般的刻蚀、沉积方法均无法实现。而常规的电子束曝光（EBL）技术也无法实现如此规模的锥体制造。昆士兰科技大学的研究团队巧妙地利用电子束在光刻胶中的散射，通过控制电子束能量，制作出椎体的“模子”，然后利用沉积生长出需要的椎体，最后腐蚀掉所有光刻胶，得到了完美的纳米锥阵列。图：仿生纳米锥阵列的制作过程示意图最终制备的仿生Ti纳米锥的高度为116 ~282nm，锥形柱的顶端直径最小达13.3nm，底部直径93.6nm左右。并且，进一步实验发现，其同样具有杀菌性和生物相容性。昆士兰科技大学的这项研究成果对于纳米仿生学的应用具有重大意义。  图：通过EBL技术制备的仿蝉翼结构的Ti纳米锥陈列图：（E）在制备出的仿生Ti纳米锥阵列上附着铜绿假单胞菌细胞；（F）对照Ti柱和仿生纳米Ti柱上附着的人成骨细胞的活性；（G）在仿生Ti纳米锥阵列上附着扩散良好的成骨细胞；电子束曝光（EBL）技术是一种电子束直写技术，是利用电子束在涂有对电子敏感的高分子聚合物（光刻胶）的基底上直接描画出图形，通过刻蚀实现微小结构的加工。电子束曝光（EBL）技术避免了传统方法中对模板加工和使用的复杂过程，其高分辨、高度灵活性、高灵敏度的特点也受到研究人员关注，且EBL制备方法更加简单，更容易制备出小尺寸的各种花样的周期性结构。在上述工作中，昆士兰科技大学研究团队使用了TESCAN MIRA3高分辨场发射扫描电子显微镜搭配TESCAN自主研发的电子束曝光（EBL）技术出色完成了相关工作。不久前，昆士兰科技大学新采购了一台TESCAN最新的S8000X Xe Plasma FIB-SEM，这是一款功能强大的氙等离子源FIB，配置了TESCAN最新一代的多项专利技术，期待昆士兰科技大学未来取得更多的研究成果！图：昆士兰科技大学最新采购的TESCAN S8000X Xe等离子源FIB-SEM注释：该项研究由昆士兰科技大学研究团队完成，相关论文目前已通过了英国皇家化学学会（Royal Society of Chemistry）评审，论文稿件已被录用，将于不久后在网上公开发布。

在德国莱比锡的Panometer馆，一场盛大的艺术展览正在举行，柏林艺术家Yadegar Asisi向参观者们展示了一幅巨大的360°全景艺术作品—“Carola’s Garden”，美丽的卡罗拉花园此时竟像是一个巨大的王国，将人们带入一个从未感受过的迷人世界。图：德国莱比锡Panometer馆特别的是，这并不是一幅简单的巨幅花园景色，而是把花园中稀疏平常的事物放大100倍并采用特殊的技术、图像捕捉工具及软件处理拼合。Asisi在“纳米摄影师”Stefan Diller和生物学家Mirko Wlfling的共同帮助下，花费两年多的时间才最终完成了该幅作品。最后，通过向Panometer圆形大厅的360°全景屏幕上投射作品映象，整个全景图像便像画卷般徐徐展开，向人们展示出肉眼观察不到的别样世界。图：Yadegar Asisi巨幅艺术作品“Carola’s Garden”在全景图中，这座花园拥有巨大的花朵、野生植物、昆虫和其他生物等。一只约25米高的蜜蜂正在为洋甘菊花授粉并采集花蜜，观众置身其中，仿佛走入了一个充满异国情调的天堂。图：游客参观被部分放大100倍的全景花园全景图像的制作采用了最先进的技术，如纳米摄影、微距摄影、扫描电子显微镜和聚焦堆叠等。在这幅作品中，由于图像打印尺寸（约32米高，28米宽）的限制，使用普通的光学和堆叠技术无法满足像素要求，因此只有利用场发射扫描电子显微镜才能完成这项工作。图：高像素大景深的蜜蜂和洋甘菊花的SEM图像Stefan Dill—科技摄影公司的CEO Stefan Dill使用TESCAN MIRA3 FEG-SEM拍摄出了其中超高像素的大景深蜜蜂和洋甘菊花的SEM图像，这两张图像分别由51和25个独立的8000 x 8000 px像素的图像扫描处理而成，为了保持整体的清晰度，图像景深达到了900微米。在这项工作中，数TB的图像数据和共计1100小时的图像扫描均使用TESCAN MIRA3场发射扫描电子显微镜完成。图：TESCAN MIRA FEG-SEM安装于Stefan Diller—科技摄影公司“洋甘菊花上的蜜蜂”可能是迄今为止在扫描电子显微镜上获得的最大印刷图像......这在技术上非常复杂，但Stefan Dill最终完成了这一巨作，使得“Carola’s Garden”在Panometer圆形大厅的墙壁上能够完美呈现，向人们提供一个感知已知和未知世界的新视角。

日前，上海交通大学材料科学与工程学院 · 金属基复合材料国家重点实验室刘河洲教授及其团队田然等人在新型具有高放电效率的锂离子电池复合阳极材料研究方面取得重要成果！在这项工作中，刘河洲团队首次发现了一种Li的新的亚稳态形式—Li团簇。经实验研究，这种能够生长出微小Li团簇的碳纤维布(CC)/Li簇复合阳极材料具有出色的电化学可逆性和高放电效率，在实际应用中具有广阔的前景。该项研究的相关成果已发表在材料领域的综合性权威期刊Small（2018年，IF=9.598），论文题目为High-Coulombic-Efficiency Carbon/Li Clusters Composite Anode without Precycling or Prelithiation。其中，动态的微观形态学表征使用TESCAN MIRA3场发射扫描电子显微镜完成，关键工作如锂元素不同沉积形式（如Li团簇和Li枝晶）的分布及Li+ 和Li元素之间的转变活性表征，则采用了TESCAN FIB-SEM与飞行时间二次离子质谱联用分析技术。图：研究成果发表在材料综合性权威期刊 Small (2018年)近年来，新能源汽车和消费电子市场的迅速增长，带动了电池产业的快速发展，高能量密度电池成为电池发展的主旋律。元素Li由于重量轻、电化学势能低且具有高理论能量密度，而被认为是锂电池的理想阳极材料。但使用Li作为电池阳极材料，仍然存在一些不可避免的问题，如不可控的Li沉积、体积膨胀、Li晶枝的生成等等，严重影响电池效率和安全性。为了改善Li金属阳极的性质，刘河洲研究团队在这方面做了大量研究和尝试，例如采用在合适的衬底上生长锂的方案。基于此，研究团队首次发现了一种Li的新的亚稳态形式—Li团簇，这种团簇形成在电池过锂化过程中，从生长出LixC6之后到形成Li枝晶之前。并且，这种微小的Li团簇表现出很高的Li+和Li元素之间的转变活性。 图：刘河洲团队首次发现了一种Li的新的亚稳态形式—Li团簇研究团队使用了裸碳纤维布(CC)作为阳极，过量的LiCoO2作为阴极来组装电池，在碳纤维上观察到了这种Li团簇。并且，使用新型CC / Li团簇复合材料作为阳极的电池，性能相比常用的电极提升了57.2％，且没有观察到容量波动，放电效率与石墨阳极一样好。  图：研究团队使用TESCAN场发射扫描电镜进行动态的电极充放电循环的微观形貌表征通过制备CC/Li簇复合阳极来获得可逆且具有电化学活性的Li团簇，研究团队得到了具有显著能量密度和高放电效率的研究结果。此外，CC/Li簇复合阳极无需预循环或预锂化，可直接组装成电池，消除了繁琐昂贵的电池预循环和预锂化过程。这种有效且简便的方法极大地简化了工艺，为下一代高能量密度锂电池的高容量阳极设计提供了一种新方法。  图：研究团队采用FIB-SEM-Tof-sims联用分析技术进行Li元素的面分布分析及Li簇和Li枝晶的分布分析，并验证了不同形式锂沉积电化学性能的不同刘河洲教授团队在关于锂离子电池正极材料的实用化方面做了大量研究，除了这项工作，研究团队还进行了3D Al2O3材料抑制锂离子电池中锂沉积及锂枝晶形成机理的研究，相关成果已发表在CHEMSUSCHEM期刊（2018年，IF=7.411），该研究同样使用了TESCAN FIB-SEM-Tof-sims联用分析技术。目前，TESCAN FIB-SEM-Tof-sims新型联用分析技术已成为锂离子电池材料研究的利器，在国际上，已经有多个课题组采用该项分析技术进行了相关研究，并在多种期刊发表了高水平文章。在上述工作中，刘河洲教授团队使用的是安装在上海交通大学分析测试中心的TESCAN MIRA高分辨场发射扫描电子显微镜及TESCAN 双束电镜与飞行时间二次离子质谱联用系统。上海交通大学分析测试中心是一个面向校内外开放的校级测试平台，目前已配置多台TESCAN电镜及FIB系统，包括一台VEGA3 W-SEM，一台MIRA3 FE-SEM，一台配置拉曼的超高分辨MAIA3 FE-SEM-Raman系统和一台配置有飞行时间-二次离子质谱的超高分辨GAIA3 FIB-SEM-Tof-sims系统。  图：上交大分测中心TESCAN FIB-SEM—Tof-sims联用分析系统 

TESCAN中国战略：聚焦TESCAN用户，创新服务内容，提升服务品质！   客户的满意度是一个企业松柏长青，在市场竞争中立于不败之地的真正秘诀。TESCAN中国一直把“优质的服务”作为长期战略发展要求，制定了“聚焦TESCAN用户，创新服务内容，提升服务品质！”的公司战略目标，从售后服务，应用支持乃至整个销售团队都围绕这个战略方向制定和改进工作目标！一、从产品研发到生产销售，每一个环节都以满足客户需求为出发点TESCAN从产品设计之初就针对客户需求全面调研，充分了解当前以及未来客户应用需求的发展，把满足客户需求，开发出具有创新性、能够提升客户竞争力的产品作为产品研发宗旨。因此，TESCAN先行一步，为客户提供创新性的“电镜-拉曼一体化系统”、“双束电镜-质谱一体化系统”等个性化产品，构建All In One综合微分析平台，保证客户在科研领域的优势地位。二、销售售后紧密相连，提供整个产品周期的优质服务   TESCAN中国核心价值观包括“成就客户”，“专业精神”，“团队协作”，“主人翁精神”，其中核心价值观的第一点就是“成就客户”。我们提供的不仅仅是先进的科学仪器，还有与仪器相关的应用技术支持，售后服务支持等相关产品及服务。完成销售是我们和用户建立连接的起点，而售后的一系列支持和服务才是我们和用户建立长期紧密合作关系的重点。TESCAN中国的销售、售后服务和应用支持是一个整体，统一领导。在和用户签订合同后，TESCAN的销售、售后服务和应用支持团队会紧密结合，为客户提供全面的场地测试、实验室装修建议、仪器安装、操作及应用培训、维修保养、定期回访等一系列服务内容。三、不限次免费培训班，针对特殊产品特设“一对一”培训服务为了使购买TESCAN仪器的广大用户都可以零成本的、快速高效的掌握仪器操作和高阶应用技巧，TESCAN售后服务团队特设“TESCAN学院”，定期在上海的TESCAN应用中心为广大用户提供不限次数的免费培训服务。针对场发射电镜和FIB的仪器用户，因使用难度和操作门槛较高，想要彻底掌握需要大量的知识和技巧，TESCAN还推行了“一对一”的上门培训服务。2019年，除继续推行“不限次数免费培训计划”外，TESCAN还将针对其它用户较集中的地区及“出差难”的用户，特设一系列地区免费培训班，将从电镜基本原理、仪器操作、高阶应用技巧、维护保养等各个方面培训客户，直至用户完全掌握为止。即使是因操作人员换届、离职等原因，TESCAN也提供长期的免费培训服务，免去客户的忧虑。四、创新售后服务管理和要求，以客户全面满意为目标（1）100%零备件库存，帮助客户在最短时间内解除故障：TESCAN中国零备件与耗材在库率基本达到100%，可以保证快速完善的帮助客户在最短时间内解决故障问题，让仪器迅速恢复正常使用，避免影响客户的日常工作流程。接近100%的零备件库存开创了电镜行业的首例，成为TESCAN客户满意度大幅提升的重要创新。我们承诺用户，会用最快的方式将客户所需要的零件寄出，并保证所有的零件10年内不会停止提供，以全面保证客户的售后无忧使用。（2）专属工程师，快速帮您解决问题：TESCAN为每位仪器用户都配置了专属工程师，用户有任何操作疑问或发现设备故障时，都可以第一时间与专属工程师直接取得联系，而无需经过复杂的工作分配和审批流程。（3）远程协助，帮助客户提高效率：为了帮助客户节约时间成本，TESCAN工程师会了解具体情况优先采用“远程遥控”的解决方案，根据客户的特别需求，TESCAN电镜也能够支持原厂的技术专家远程协助，以最优化服务。事实证明，TESCAN的个性化远程协助服务，已经高效解决了80%的客户疑难问题，为客户有效节约了成本。（4）4小时快速响应，72小时到达客户现场：TESCAN在全国设有专门的维修站和联络中心，保证用户能得到及时有效的售后服务。当设备出现问题时，我们的售后团队会在4小时内快速响应。针对具体情况，维修人员会在72小时内到达客户现场并帮助客户解决问题。（5）全面保障的服务电话回访：针对每一次现场的售后服务工作，TESCAN都会有专人负责电话回访，了解仪器问题的解决情况和客户对现场服务的满意度。针对客户提出的问题，公司会第一时间督促解决。五、专家水准的售后服务团队，“人”才是服务的关键在TESCAN中国的整个团队中，售后服务和应用支持人员高达65%，其中大部分人员均取得了硕士及博士学位，且拥有非常丰富的电镜知识和仪器维修经验，能够为用户提供“专家级”的技术支持和售后服务。TESCAN中国的整个售后服务团队主要由两大部分组成：（1）应用支持：TESCAN特聘业内资深的技术专家焦汇胜博士（英国伯明翰大学材料科学博士，上海交通大学客座研究员）、李威老师（原上海交通大学扫描电镜专家），形成了以业内顶级专家为核心的应用支持团队，他们分别专注于不同的专业领域，能够为用户提供专家级的技术支持和培训指导，包括超高分辨率SEM，FIB微纳米加工，RISE，EBL ，CL, TOF SIMS分析等等。每年，应用支持团队还以网络电镜学堂、短期培训班和一对一应用培训为主的方式给予广大TESCAN用户全面的售后技术支持，帮助我们的用户也达到专家级的操作水平。（2）维修服务：TESCAN中国的维修服务团队由半导体维修团队和高校研究所维修团队组成。整个维修团队由常驻中国的原厂技术专家Martin、Ondrej负责技术指导，由资深工程师邱辰担任维修经理以及十多名经验丰富的工程师共同组成，每一台设备都专设工程师负责，提供即时的远程支持服务，4小时快速响应和72小时到达客户现场的无忧服务保障！“无忧高效”的售后服务已经变成科学仪器行业广大设备采购用户最看重的“硬实力”之一，对于电镜行业，越多越多的用户不再只看重技术指标，而是对售后服务的质量和内容更加关注，而这也为TESCAN中国提供了更多的机会，我们会一直坚守“成就客户”的核心价值观，秉承“聚焦TESCAN用户，创新服务内容，提升服务品质！”的发展战略，为用户提供更优质更高效的服务！

　　仪器信息网讯 近日，据TESCAN 集团总部最新消息，全球知名电子显微镜、聚焦离子束和光学显微系统供应商TESCAN宣布任命Ronald Daas为TESCAN全球客户支持总监，负责全球的客户服务和运营方面的工作，并向TESCAN董事兼首席战略官Radomír Kop?iva汇报，任命于2019年2月1日正式生效。TESCAN全球客户支持总监Ronald Daas　　TESCAN是电子显微领域的全球供应商，产品涵盖电子和聚焦离子束显微镜、X射线CT、生物显微镜等。近年来，随着TESCAN在全球业务的迅速扩张，越来越多的产品被安装在全球各个国家和地区;与此同时，TESCAN全球的销售和服务团队也在不断发展和扩大。　　为了满足不断增长的客户需求，提高综合竞争力，以应对全球业务竞争加剧的挑战和发展机遇，TESCAN邀请Ronald Dass加入，担任TESCAN全球客户支持总监。Ronald在电子显微业务领域拥有近25年的经验，在技术、应用、客户服务和运营等方面拥有深厚背景，将对TESCAN全球客户服务实行统一战略性管理，全面提升客户支持服务。　　据悉，Ronald曾就职于飞利浦公司电子光学业务领域，在Philips Electron Optics(大家熟知的飞利浦电镜)及后来的FEI公司(1996年，FEI和飞利浦电子光学合并)的服务、技术支持团队工作了10年，担任技术专家及高级管理职务，特别是针对半导体市场的客户服务和运营。　　此后，Ronald在FEI公司曾担任领导角色，管理多个客户服务团队并负责经销商管理，在日本、韩国、墨西哥和美国等国家生活和工作多年，拥有非常丰富的经验。　　TESCAN公司表示，Ronald在客户服务、运营以及服务战略上的优异成绩令他能够胜任这一重要角色，Ronald Dass将与TESCAN强大的团队紧密合作，更好的创造突破性的解决方案，为客户提供卓越服务。

TESCAN 2019 年度“扫描电子显微镜高阶应用培训计划”最新出炉！TESCAN 学院将继续为 广大 TESCAN 电镜用户提供免费的培训服务！（新学年，新课程！阅读原文即可快速报名） 为了更好地帮助广大 TESCAN 的电镜用户提高操作水平，TESCAN 学院特开设了一系列免费的“扫描电子显微镜高阶应用”培训班！  在这里，您将得到： 灵活的时间选择：您可以根据您的时间和需求，灵活的选择您想要参加的培训课程；专业的培训老师：TESCAN 学院的培训老师拥有非常专业的背景知识和丰富的电镜操作经验，可以根据您的具体需求为您调整相应授课课程。详细的培训教材：由 TESCAN 学院高级应用专家撰写的扫描电镜基础理论教材和详细生动的演示 PPT 将帮助您更好地掌握和巩固学习的知识。全面的实战演练：除培训电镜相关的理论基础外，培训班还提供多课时的上机实践课程，帮助您快速掌握实际的操作技巧。完善的培训考核：参加培训班的学员需参加培训考核，考核通过的学员将取得 TESCAN 高级应用培训的结业证书。高阶化的应用课程如何对不同的样品选择最佳的观测条件？ 如何充快速掌握软件的各种操作功能？ 如何让您的电镜保持最佳工作状态？ ...... ...... 快来 “TESCAN 学院“ 寻找答案吧！ 2019 年度免费培训计划 TESCAN 学院扫描电镜高阶应用培训安排 第一期（上海）1月24-25日扫描电镜高阶应用培训班（23日报到） 第二期（上海）3月28-29日扫描电镜高阶应用培训班（27日报到） 第三期（上海）4月25-26日 扫描电镜高阶应用培训班（24日报到） 第四期（上海）5月30-31日扫描电镜高阶应用培训班（29日报到） 第五期（上海）6月27-28日扫描电镜高阶应用培训班（26日报到） 第六期（上海）7月25-26日扫描电镜高阶应用培训班（24日报到） 第七期（上海）10月31-11月1日扫描电镜高阶应用培训班（30日报到） 第八期（上海）11月28-29日扫描电镜高阶应用培训班（27日报到）  2019 年度 TESCAN 学院也将走进全国各地，开设一系列区域性的 “扫描电镜高阶应用培训班“，更好的为 TESCAN 电镜用户提供培训服务！ 关于区域培训班的具体安排，我们届时会发布相关信息，请您及时关注“TESCAN公司”微信公众号发布的最新通知！ 温馨提示 1. 由 TESCAN 学院开办的系列扫描电镜培训班为高阶应用培训，报名学员要求是具备至少三个月以上实际操作经验的 TESCAN 电镜用户。 2. 为了保证培训质量，每期的培训名额有限，每位参加培训的学员都必须填写一份报名表，我们会根据您的报名表安排培训，针对具体情况培训安排可能会有所调整。 3. 在收到您的报名表后，我们会将培训邀请函和日程安排发送到您填写的邮箱中。 4. TESCAN 高阶应用培训班系列是为 TESCAN 用户提供的免费培训课程，无需缴纳任何培训费用，交通和食宿需学员自理。  “TESCAN学院”欢迎您 快点击链接 https://jinshuju.net/f/aDlusH 即刻报名吧！ 

       2019年1月14日，上海交通大学· 特种材料研究所“TESCAN奖学金”颁奖仪式在上海交通大学顺利举行。上海交通大学·特种材料研究所党委书记夏存娟、研究所副教授陈哲，TESCAN中国技术总监焦汇胜博士出席奖学金颁发仪式，为获得2018年度“TESCAN奖学金”的优秀硕士生、博士生颁奖。  上交大特种材料研究所“TESCAN奖学金”颁发仪式  “上海交通大学· 特种材料研究所—TESCAN联合实验室”于2017年正式成立，联合实验室配备有一台TESCAN MAIA3超高分辨场发射扫描电镜及多种原位分析样品台，主要用作原位EBSD分析。 特种材料研究所主要从事新型特种材料的制备及其成形技术研究，近年来在高性能铝基复合材料原位合成过程、组织调控和成形技术的机理、方法和工艺等方面取得了非常多骄人的成绩。 2017年，研究所团队取得惊人成果，研制出了新型纳米陶铝材料（在铝里“生长”出陶瓷），比强度和比刚度超过了钛合金。这是具有完全“自主知识产权”的中国原创新材料，引发了媒体和公众的广泛关注。 目前，该研究所研发的这种新型纳米陶铝合金已突破规模化工程应用的瓶颈，在航天、汽车、先进电子设备领域等得到了充分应用。 上海交通大学 · 特种材料研究所—TESCAN联合实验室 自上海交通大学· 特种材料研究所于2016年安装了TESCAN MAIA3 场发射扫描电镜后，TESCAN CHINA上海应用中心为联合实验室倾力提供了技术和人员支持。 由于研究所研发的陶铝材料中存在TiB2纳米颗粒，使得EBSD测试样品的制备遇到了很大困难。因此，TESCAN应用专家多次利用公司的FIB演示样机免费帮助客户探索样品制备方法，并经常与联合实验室用户一起研究讨论，帮助客户进行样品的切割抛光以及EBSD标定工作，解决了一直困扰客户的难题，最后相关文章也成功发表在了applied science期刊。 相关研究成果发表在applied science期刊 2017年11月份，TESCAN曾将Xe等离子FIB系统的demo机XEIA放置在上交大特种材料研究所联合实验室，并培训客户使用。 得益于TESCAN Xe等离子FIB系统的大面积快速切削加工能力，实验室的研究人员直接用其进行样品的定位加工，使得实验室的整个制样周期大大缩短。 TESCAN作为全球知名的扫描电镜和FIB系统供应商，近年来在中国市场取得了长足的进步，同时TESCAN的产品和技术也对国内的科研起到了积极的影响和推动作用。 为联合实验室优秀硕士博士生颁发“TESCAN奖学金” 希望未来在双方共同的努力下，共建联合实验室将取得更多高水平的研究成果，助力科研腾飞。   更多 TESCAN 技术和应用详情，请关注：“TESCAN公司”微信公众号

作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商，TESCAN赞助出席了本次年会，并带来了《氙气等离子双束电镜+飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告。2018年12月20日，“上海市显微学学会2018年学术年会”在上海市复旦大学成功召开，会议邀请了上海及周边共计200余位专家学者参会，共同交流电子显微学在相关领域的最新成果和应用。作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商，TESCAN应邀出席，并发表了大会报告。上海市显微学学会2018学术年会现场此次会议邀请了多位行业知名专家分享了电子显微镜在相关领域的最新应用与研究成果。作为材料微观分析的重要工具之一，电子显微镜一直被广泛地应用于材料、生物化工、半导体与电子器件等领域，但随着电镜技术的发展，与电子显微镜相关的联用扩展技术越来越受到关注。在会议上，TESCAN应用专家马瑞博士带来了《氙气等离子双束电镜-飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告，向参会的专家学者详细介绍了TESCAN独创的双束电镜-飞行时间二次离子质谱一体化系统（FIB-SEM-TOF-SIMS）的联用创新技术及应用前景。TESCAN应用专家马瑞博士带来精彩报告马瑞博士介绍到，“TESCAN在电镜的综合分析能力以及原位扩展能力上做出了很多创新，独创了很多新技术新方法，包括与拉曼，二次离子质谱等的一体化集成。其中，二次离子质谱联用系统是专门集成在双束FIB系统上的创新技术，可以提供元素定性（从氢元素开始）分析，快速高空间分辨率面分布分析和深度剖析及各种微量元素检测，检测浓度可达几个ppm，并可区分同位素。此外，将TOF-SIMS创新集成在FIB-SEM系统上，省掉了标准质谱仪的离子源，同时利用TESCAN氙等离子源的强大功能（快速成像、蚀刻、沉积、光刻及大面积微加工等），可以通过加工样品实现对特定纳米结构进行SIMS分析。”大尺寸页岩样品3D重构应用在会议展区，受到TESCAN 新技术报告的吸引，很多参会的老师纷纷来到TESCAN展台，了解和咨询TESCAN产品和新技术。参会老师纷纷来到TESCAN展台了解咨询 更多技术和应用详情，请访问：TESCAN公司微信公众平台

2018年12月18日，2018年度北京市电子显微学年会在北京天文馆4D科普剧场召开，会议聚集了北京及周边地区200余名电子显微学领域的专家和学者们，共同交流电子显微学新技术、新方法和新应用。作为全球电子显微镜及聚焦离子束领域的技术引领者和创新者，TESCAN应邀出席此次年会，介绍了TESCAN在显微学领域的最新技术进展。2018年度北京市电子显微学年会会场电子显微镜目前的主要发展方向是在：高分辨能力、原位观测能力和综合分析能力。TESCAN作为全球知名的电镜显微分析仪器的制造商，提出了“All-In-One 综合显微分析平台”的理念，给出了完善的解决方案。 在学术年会上，TESCAN中国市场部经理顾群带来了题目为“TESCAN微分析综合解决方案”的精彩报告，向参会人员介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新。除了向参会专家详细展示和讲解TESCAN微分析综合解决方案之外，顾经理还特别提到了TESCAN于2018年先后发布的四款电子显微镜新品。截至目前，第四代电镜产品S8000系列和S9000系列产品线均已发布齐全。未来，TESCAN其他系列的第四代电镜也将持续问世。TESCAN中国市场部经理顾群精彩分享关于第四代电子显微镜产品的命名，顾经理提到，“TESCAN的第四代电镜采用全新的命名方式，在新系列电镜命名中，“S”代表“SEM”，以字母“G”结尾的型号代表镓离子源的双束FIB系统，以字母“X”结尾的型号则代表氙等离子源的双束FIB系统。目前，TESCAN已发布的第四代电镜S8000系列和S9000系列分别包括：S8000高分辨型热场发射扫描电镜，S8000G高分辨型Ga-FIB，S8000X高分辨型 Xe Plasma-FIB；S9000超高分辨型热场发射扫描电镜，S9000G超高分辨型Ga-FIB，S9000X超高分辨型Xe Plasma-FIB等系列型号。谈及第四代电镜产品名称变化如此之大的原因时，顾经理解释道，“命名规则的变化，其中最主要的原因之一是方便客户识别和记忆。在TESCAN以往的产品系列中，多以星座名称为基准来命名电镜型号，但随着TESCAN全球化的迅速扩张，新的产品名称将能够更好的为客户提供便利。”TESCAN 12月新发布电子显微镜新品系列 更多技术和应用详情，请访问：TESCAN公司微信公众平台

关于开展2018年度“重庆大学电子显微镜中心-TESCAN公司联合奖学金”评选工作的通知"重庆大学电子显微镜中心-TESCAN公司联合奖学金"是重庆大学电子显微镜中心和TESCAN公司面向全校设立的奖学金项目，旨在鼓励和资助优秀在校研究生致力于显微分析研究，增进重庆大学电子显微镜中心和TESCAN公司的交流与合作。2018年度“重庆大学电子显微镜中心-TESCAN公司联合奖学金”已正式启动，现将有关事项通知如下：一、奖励对象在校期间品学兼优、综合素质好，在电子显微镜领域取得一定成果的重庆大学在读全日制博士研究生和硕士研究生。二、奖励办法电镜中心将在网站上公布获奖名单，并向获奖者颁发证书和奖金。突出贡献奖一等奖，2人；二等奖，4人。高水平应用奖一等奖，3人；二等奖，5人。三、参选条件1、品行端正，无不良记录；2、突出贡献奖颁发给在校的电镜助管（2018年1月1日-2018年12月20日担任助管）；3、高水平应用奖主要奖励在使用电镜设备中取得高水平研究成果的研究生（对电镜中心或中心设备管理人员有明确致谢的将优先资助）。四、评审程序1、符合基本参选条件的申请人填写并提交《重庆大学电子显微镜中心-TESCAN公司联合奖学金申请表》，并提交个人成果一份（使用设备、获奖、论文、专利等成果复印件），提交截止日期：2018年12月19日；2、由重庆大学电子显微镜中心评选小组对申请人进行资格审查，并与TESCAN电镜公司组成联合专家组评定奖项；3、获奖名单将在重庆大学电子显微镜中心网站emc.cqu.edu.cn上进行公布。五、奖学金的发放和跟踪管理1、奖学金发放：每年评选完毕后统一发放。2、获奖学生需要积极参加学校安排的相关纪念活动。3、获得“重庆大学电子显微镜中心-TESCAN公司联合奖学金”的学生，如经查实存在弄虚作假，违法违纪或道德品质方面严重问题，评选小组有权取消其荣誉资格，收回证书，并追回所发奖学金。六、联系方式重庆大学电子显微镜中心联系人：覃老师、刘老师、张老师（A区）；联系电话：65106001邓老师、洪老师、郝老师（虎溪）；联系电话：65678481重庆大学电子显微镜中心2018.12.17更多 TESCAN 技术和应用详情，请访问：重庆大学电子显微镜中心