TESCAN发布双束FIB-SEM新品AMBER和AMBER X

仪器信息网讯　2019年10月15日，合肥市，在2019全国电子显微学学术年会期间，泰思肯(中国)有限公司(TESCAN)发布了双束FIB-SEM新品。2018年，TESCAN先后发布了S9000G超高分辨型Ga离子FIB-SEM和S9000X超高分辨型Xe Plasma FIB-SEM;1年后，TESCAN再次发布双束FIB-SEM新品——TESCAN AMBER和TESCAN AMBER X，这两款新品都是基于S8000平台的升级版。发布会上，TESCAN为来宾准备了捷克风情的啤酒、红酒以及点心，让来宾在轻松愉快的气氛下品尝美食的同时，了解TESCAN的历史和最新产品。

　　本次活动，TESCAN特别邀请到中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽出席并致辞，并与泰思肯(中国)有限公司总经理冯骏一起为TESCAN AMBER揭幕。

　　张泽院士和冯骏总经理共同为新品TESCAN AMBER揭幕

　　TESCAN AMBER作为基于S8000平台的升级版，是一款结合了高分辨分析型FIB和超高分辨扫描电镜的综合分析平台。从现场获取的产品展示页上看到，TESCAN AMBER与S9000系列相比较，配置电子镜筒有很大不同，S9000系列配置的是Triglav™ 超高分辨SEM 镜筒，TESCAN AMBER系列则是无漏磁动态加速BrightBeam™型超高分辨SEM镜筒，对于分析磁性样品、电子束敏感样品以及不导电材料等有较大优势。TESCAN AMBER 配置了2套镜筒内探测器系统，具有多种SE和BSE探测模式。TESCAN AMBER X的FIB使用了Xe等离子源,相较使用Ga离子的FIB-SEM, 在同样工作条件下，Xe离子的作用速度为Ga离子的50~60倍;另一方面，Ga离子可以获得比Xe更小的束斑：Ga 离子分辨率约为2.5nm, Xe等离子约为15nm。Ga离子FIB是要要求高精度刻蚀的首选方案，而Xe 等离子FIB对于需要高效率、大体积加工的样品，则具有更大的吸引力!

　　产品经理Ondrej Nezhyba在《Background, Current Business and Product Overview》报告中把TESCAN AMBER系列具有的特点归纳为以下几个方面：

　　超高分辨聚焦离子束扫描电镜

　　BrightBeam™扫描电子镜筒提供无磁场的超高分辨成像

　　高效率、截面宽度达到1mm大面积FIB样品加工

　　可灵活选择镜筒内SE和BSE探测器

　　自动优化电子束，实现高通量、多模态FIB-SEM断层扫描

　　超大视野、便捷的导航

　　双束FIB-SEM新品TESCAN AMBER

　　新品发布会现场

　　自称从2014年开始被公司内部“封杀”——不许公开发言的冯骏，在今天的新品发布会上出人意料地并未有多少笔墨言及新产品TESCAN AMBER,却从2014年那一场风波开始讲起，分享这5年来带领泰思肯(中国)有限公司深入思考用户的需求并制定、践行“聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质”发展战略的历程。在实践中，TESCAN采取了调整维修工程师的管理制度、加强用户应用支持、增加零备件库存、电话回访售后现场服务、建立用户群等措施，在用户和厂家之间建立良好互动。冯骏表示，TESCAN中国的特色服务已经广受TESCAN中国用户的赞誉。5年，冯骏终于被“解封”了!仪器信息网也见证了兰州大学等TESCAN用户“解封”的点点滴滴!

　　本次新品发布会简短而隆重，并未对仪器的各项参数指标、具体应用案例展开详细介绍。仪器信息网编辑从现场了解到，16-18日，TESCAN将连续3天开展现场Demo演示和技术交流会(合肥丰国际大酒店1楼百合厅)，内容包括：原位高温拉伸成像演示、TESCAN新一代通用型 FIB -SEM 演示。TESCAN AMBER产品的详细内容和产品亮点，在3天的现场演示和交流中，等待着用户去亲身体会!

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