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公司动态

全新发布 | TESCAN公司推出新一代适用于地球科学研究和矿物分析的 综合矿物分析系统TESCAN TIMA

2020年11月25日,TESCAN ORSAY HOLDING a.s.宣布正式发布新一代综合矿物分析系统---TESCAN TIMA,TIMA(TescanIntegrated Mineral Analyzer)是一款可满足地球科学研究和工业矿物分析的岩石矿物全自动化定量分析系统。TESCAN TIMA 可以对岩石、矿石、岩屑、精矿、尾矿、浸出渣或冶炼产品等进行快速定量矿物分析,能快速有效识别岩石类型、矿物种类、测量矿物含量、分布、颗粒大小、解离或锁定各种参数。TESCAN TIMA 综合矿物分析系统功能和优势:矿石的整体形态和矿物及元素的种类、含量及分布;矿石中矿物的结构构造、共生、连生和包裹关系特征;快速准确的金、银、铂和稀有金属亮相元素寻找功能;选矿和冶炼过程中矿物及成矿元素的品位和回收率计算;储油层岩石特征、岩屑分类、孔隙组合及孔隙度的测量;TIMA软件支持离线数据分析,数据永久保存,可随时查看。 TESCAN TIMA 可以快速解析复杂矿石和寻找贵重金属,提高资源利用,降低勘探成本,助力矿产资源勘查和潜力评估,精确监控粉碎、浮选、浸出和回收工艺,优化选矿流程设计,提高矿山运营效益。TESCAN TIMA 提供的特定矿物和亮相搜索模块,可以快速准确寻找目标矿物和金、铂等贵金属以及稀有和稀土金属。TIMA对矿物成分和结构的定量解析达到微米的尺度,相对于传统光学显微镜和扫描电镜具有非常大的优势,已广泛应用于地质、石油、矿业和冶金等领域。新一代的TESCAN TIMA在软件和硬件上都有了进一步的发展和融合,能够更准确的识别矿物,提高分析效率。提供的多达100个样品的全自动进样系统,24/7无人值守全自动分析功能更是带来前所未有的超脱体验!近几年来,无论在国内和国际上,已有多个课题组和公司采用该项技术进行了相关研究和实际应用,并在多种期刊上发表了高水平文章,相关的成果正在不断地涌现。 TESCAN TIMA 相关论文应用方向:地球1、Instantaneous rocktransformations in the deep crust driven by reactive fluid flow(Nature Geoscience,2020,DOI:10.1038/s41561-020-0554-9)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1u0c0r00x40s0g00143804h0e9320814&site=xueshu_se&hitarticle=1 2、Cold deep subductionrecorded by remnants of a Paleoproterozoic carbonated slab(NATURE COMMUNICATIONS,2018,DOI:10.1038/s41467-018-05140-5)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=5daab39185510fbab1e2466e7564a378&site=xueshu_se&hitarticle=1 3、Recoveryof an oxidized majorite inclusion from Earth's deep asthenosphere(Science Advances,2017,DOI:10.1126/sciadv.1601589)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=439db230a088a740edda4a498fff8349&site=xueshu_se&hitarticle=1 应用方向:选矿 4、The mineralogy and processingpotential of the Commonwealth project in the Molong Volcanic Belt, centraleastern New South Wales, Australia(Ore Geology Reviews,2019,DOI:10.1016/j.oregeorev.2019.102976)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1v3u08r0v71x0rm0qh2f0gj0mj513539&site=xueshu_se&hitarticle=15、Assessment of a spodumene oreby advanced analytical and mass spectrometry techniques to determine itsamenability to processing for the extraction of lithium(Minerals Engineering,2018,DOI:10.1016/j.mineng.2018.01.010)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=ee20d0507c9e3a57a5bea30d91e1076d&site=xueshu_se&hitarticle=1 6、Comparison of the Mineralogyof Iron Ore Sinters Using a Range of Techniques(Minerals,2019,DOI:10.3390/min9060333)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1g580c805b3a0my0mw7k08j07t615415&site=xueshu_se&hitarticle=1应用方向:石油 7、Mineralogy and pore topologyanalysis during matrix acidizing of tight sandstone and dolomite formationsusing chelating agents(Journal of Petroleum Science andEngineering,2018,DOI:10.1016/j.petrol.2018.02.057)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=68908abcdef9cbd15705dc2371b76934&site=xueshu_se&hitarticle=1 应用方向:文保8、Alkaline leaching ofbrannerite. Part 2: Leaching of a high-carbonate refractory uranium ore (Hydrometallurgy,2017,DOI:10.1016/j.hydromet.2017.08.019)文章链接:https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=d42c38df2bd81908adeb05bc74b14201&site=xueshu_se&hitarticle=1

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2020.12.01

五位院士,大咖云集 | TESCAN贺2020年全国电子显微学学术年会圆满闭幕

2020年11月24日,2020年全国电子显微学学术年会在成都圆满闭幕。本次大会以“显微学激发新希望”为主题,为期3天,来自高校研究所、企事业单位等千余电镜领域专家学者们出席了本次大会。大会现场大会开幕式由中国电子显微镜学会理事长韩晓东主持,中国科学院院士、大会主席张泽和中国工程院院士姚骏恩分别致辞。开幕式上,国家纳米中心特聘研究员甘雅玲代表全体会员祝贺了中国电子显微镜学会成立四十周年。之后的大会报告环节上,依次由中国科学院院士、大会主席张泽,东南大学教授孙立涛,中国科学院院士叶恒强,中国科学院金属研究所研究员马秀良,中国电子显微镜学会理事长韩晓东,北京林业大学教授林金星主持,十二位著名学者、相关仪器设备厂商专家代表分别为大家呈现了精彩的报告。朱新利 博士《TESCAN All-In-One 电镜综合解决方案》TESCAN公司应用部经理朱新利博士代表公司在大会报告上做了精彩发言,以《TESCAN All-In-One 电镜综合解决方案》 为题为在座的来宾带来了TESCAN的All-In-One电镜综合解决方案,包括扫描电镜、双束聚焦电镜系统FIB-SEM、自动矿物分析系统TIMA、TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱等,并详细介绍仪器的实际应用案例及帮助国内外科研人员取得的丰硕科研成果。TESCAN一直遵循的是“ALL IN ONE”微区综合表征的设计理念,即在一套系统中集微观形貌、元素分析、取向分析、结构分析、分子组成、结晶及应力等多种信息表征为一体,让用户能够充分体验TESCAN设备在微区综合分析能力上的强大优势。值得一提的是,正是由于“ALL IN ONE”的设计理念,TESCAN产品可以在后期根据用户的需要,非常方便的加配原子力显微镜、EBL、EBIC、CL、原位加热台、冷台及拉伸台等,各种探测器和拓展的分析附件,为科研拓展新的思路和可能性!TESCAN公司在大会现场展位TESCAN独有的综合解决方案在市场上被推广后,迅速地受到广大客户的认可和欢迎,充分证明了当今微区综合分析的重要性以及TESCAN在这一领域的优势。

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2020.11.25

强强联合,校企合作新篇章 | 中国矿业大学现代分析与计算中心—TESCAN联合实验室正式成立

2020年10月14日,中国矿业大学现代分析与计算中心—TESCAN联合实验室揭牌仪式在中国矿业大学现代分析与计算中心隆重举行。这是TESCAN继中科院南京地质古生物研究所之后在江苏地区成立的第二个联合实验室,开启了TESCAN校企联合的新篇章。中国矿业大学是教育部直属的全国重点大学,国家“世界一流学科建设高校”,国家“211工程”“985工程优势学科创新平台”建设高校,全国首批博士和硕士学位授予单位,其历史可溯源到1909年创办的焦作路矿学堂。现代分析与计算中心成立于2009年12月, 是为了适应研究型大学建设,构建有利于学科发展、科学研究、人才培养的跨学科、跨学院全校性共享基础平台,为学校直属机关单位。目前中心正逐步建成以微观结构、超微形貌、表面成分分析为主的配套完善、管理服务水平高、设备性能指标在国内领先的多学科分析测试公共平台。TESCAN公司是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司,有超过60年的电子显微镜研发和制造历史,是多项应用技术的创新者,也是行业领域的技术领导者。中国矿业大学现代分析与计算中心—TESCAN联合实验室揭幕仪式中国矿业大学实验室与设备管理处吴祝武处长,中国矿业大学现代分析与计算中心主任冯培忠教授,TESCAN 中国区总经理冯骏先生以及双方代表出席了本次联合实验室揭幕仪式。联合实验室揭幕仪式现场吴祝武处长在揭幕仪式上首先代表中国矿业大学对参加本次会议的来宾和代表表示热烈欢迎,并详细介绍了中国矿业大学发展历程,介绍了矿大一代又一代师生的家国情怀和奋斗历史。现代分析与计算中心的TESCAN场发射扫描电镜冯骏总经理代表TESCAN公司感谢中国矿业大学对TESCAN 的信任和支持,介绍了TESCAN的历史和现状。TESCAN公司在全球已经有3000多个用户,在国内的设备数量也已经超过了600台,国内客户对TESCAN产品特别是高端设备的认可度在持续攀升。TESCAN(中国)已经在全国多个省市选择有影响力的用户建立了多个联合实验室,联合实验室的建立是TESCAN 全面提升和展现产品和服务质量的重要一环。现代分析与计算中心的TESCAN FIB-SEM系统 冯培忠主任在致辞中提到现代分析与计算中心现有17台大型设备,其中有4套是TESCAN公司的仪器,根据统计已经开放运行的TESCAN设备的使用率极高。冯主任提出希望双方在将来能够进一步开展全面地合作,帮助校内的科研工作者们不断提高应用水平,为培养教育科研人才、在科学前沿领域研究做出更多的贡献。随后,双方进行了隆重的签约和揭幕仪式。此次联合实验室的建立对于双方都有着重要意义,将进一步开启和创新校企合作模式,共建创新平台,实现优势互补,促进双方共同发展。联合实验室合作签约仪式联合实验室合作揭幕仪式 揭幕仪式结束之后,随即开展了电镜应用技术交流会,TESCAN市场发展部经理李威分享了《TESCAN SEM-FIB双束平台的综合应用》主题报告,详细介绍了SEM-FIB双束平台的原理和在不同领域的实际应用,在两个小时内为在座师生带来了精彩详实的报告。报告分享现场 此次联合实验室的建立,是校企合作的新拓展,双方在未来将深入合作,发挥各自的优势,进行更多前沿性的技术创新和应用尝试。

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2020.10.19

官宣 | TESCAN 中国官方登陆B站

        近年来,TESCAN 已经累计了大量的视频,内容涵盖了实验、产品介绍、仪器操作、实际应用、培训和不同领域相关报告等,为了能够将这些视频分享给广大的中国用户,TESCAN中国于今年9月在哔哩哔哩(Bilibili)上注册官方账户,所有电镜相关工作者都可以在这里找到感兴趣的视频,欢迎大家关注、观看和收藏~        登录哔哩哔哩网站或打开哔哩哔哩APP,搜索“TESCAN 中国”,就能轻松找到我们啦~已上传部分视频实践出真知专访类实际应用报告类产品介绍

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2020.09.30

推荐收藏 | TESCAN中国电镜用户之家

TESCAN中国电镜用户之家(www.tescan-china.com.cn)以服务TESCAN中国用户以及全体电镜工作者为宗旨,网站内容涵盖电镜相关原理知识、电镜相关联用技术、电镜资料分享和下载、前沿应用、行业最新动态以及会员专区等。会员专区中提供了大量的基础理论培训、TESCAN电镜软件、操作步骤和技巧的视频和教程,与TESCAN免费提供给用户的高阶应用培训进行互补,为TESCAN中国用户了解、熟悉电镜相关内容和行业动态,快速提高电镜操作和分析能力提供了很好地帮助。电镜技术 | 基础知识要了解并使用好电镜,对基础知识的熟练掌握必不可少,但面对海量的专业书籍会觉得无处着手,这里就会有您需要的内容--- 由行业资深从业人员整理,从电镜基础原理和知识到样品制备和分析等应用知识,更系统地认识电镜及其能发挥的作用,对获得的图片和数据进行正确地判断和分析。应用中心 | 联用技术随着科研的深入及学科的交叉,常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系统所得的数据,和电镜系统的数据往往非同时同位。我们通过在线视频报告的形式,为您介绍一种创新的设计理念----TESCAN All-In-One综合解决方案,可以在常规的SEM系统上,增加电镜与拉曼(Raman)、飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS) 和原子力显微镜(AFM)等多种表征系统,可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力,做到所见即所得。随着国际和国内客户科研成果的不断涌现,All-In-One 的理念已经被广大老师认同,该方案的应用前景将越来越广泛。在线视频电镜-拉曼(Raman)联用方案简介电镜-飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)联用方案简介 应用中心 | 资料分享   ?  提供免费下载的相关资料和在线阅读的文章,内容将持续更新。在线阅读文章下载的相关资料列表应用中心 | 行业应用电子显微技术是人类直观观察微观世界的重要手段,电镜在材料、物理、化学、冶金、生物、医学等学科的研究工作中已成为不可替代的重要工具,分析手段的不断进步帮助人类更好地探索各个领域。近年来,电镜功能一直在不断的拓展,为了能够更快速地普及最新的电镜分析技术,我们根据不同的行业邀请专家学者来介绍最新的应用和技术进展,与时俱进的了解相关知识。至今为止,已经分享微束分析原位技术应用、地球科学分析检测技术及应用以及锂电池检测三个专题页。专题页部分截图会员专区---TESCAN中国用户的专享福利??会员专区中分为了三部分:视频教程、文档教程和使用技巧,TESCAN的所有用户都可以在这里找到需要的资料。热点新闻 | 应用热点?

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2020.09.30

TESCAN第四代VEGA震撼来袭

电镜圈里十年以上工龄的老师,一提起 TESCAN,很自然就想到了其独特的中间镜设计,大视野、大景深成像能力和简易的操作,而这一切是从 TESCAN 的第一代扫描电镜 VEGA 就开始的。从2019年开始,TESCAN 产品线进入了更新换代期,推出了第四代扫描电镜(SEM)和双束电镜(FIB-SEM),我们此前已经介绍过了 TESCAN 两个靓丽的女儿——场发射扫描电镜 CLARA 和 MAGNA,今天来介绍 TESCAN 于2020年最新发布的第四代电镜系列中的钨灯丝扫描电镜——VEGA 4 系列。回到1999年,TESCAN第一代钨灯丝扫描电镜VEGA 诞生了。TESCAN 第一代钨灯丝扫描电镜公司的创始人团队利用TESLA公司的电镜研发工作的积淀,对未来电镜的发展方向有自己独到的见解,所以采用了颠覆性的设计,取消了物镜活动光阑,利用中间镜来精细调节电子束的束流强度和束斑尺寸,没有了头疼的光阑机械合轴操作,同时带来了大视野、高景深成像能力,并且使得仪器操作十分简单,此外还标配SE和BSE探头,让设备拥有极佳的性价比。作为第一个“女儿”,名字可是有大学问的,VEGA--织女星,我们国人想到的是牛郎织女的爱情故事,但在西方就是另一个寓意了。VEGA——织女星,是天琴座中最明亮的恒星,距离地球约 25 光年。织女星星空图它是太阳之外,第一颗被人类拍摄下来的恒星,第一颗有光谱记录的恒星,第一批经由视差测量估计出距离的恒星之一,而且长久以来都是望远镜标定的标准星,既视星等?0。(视星等apparent magnitude,符号:m,是将恒星按照亮度划分为6个等级,即1等星到6等星。1等星要比6等星亮100倍,每级之间亮度则相差2.512倍)。看到这么多第一,很容易想到 VEGA 代表了 TESCAN 的第一,可以看出 TESCAN 希望能设立一个标杆,能够对没有大的技术变化的钨灯丝电镜市场形成冲击,而 VEGA 确实不负众望,迅速赢得了市场的认同, VEGA 已经历经了3代产品,目前牢牢占据钨灯丝扫描电镜市场的四分之一以上份额。俗话说女大十八变,来看看“ VEGA ”的近照(最新推出的第四代VEGA分为TESCAN VEGA4 COMPACT 和TESCAN VEGA4 两款机型)。TESCAN VEGA4 COMPACTTESCAN VEGA 4 第四代VEGA继承前三代机型的优点,并且搭载了最新的Essence™软件,操作上更便捷和安全。 第四代VEGA 特点: TESCAN独特的无机械光阑光路设计及实时电子束追踪技术(In-flight Beam Tracing™),可快速获得最佳的成像和分析条件。  独特的大视野光路(Wide Field Optics™)设计,可实现最小放大倍率低至2倍,因而无需额外的光学导航相机,即可轻松、精确的对样品进行导航。 完全集成的 TESCAN Essence™EDS 分析平台,可在 Essence™软件的同一个窗口中实现扫描电镜实时成像和成分分析。 Essence™3D 防碰撞模型,可确保样品台和样品移动时,安装在样品室内探测器的安全性。 真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间,提供一款环保、高经济效益的电子显微镜。

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2020.09.27

公益讲座 | 生如夏花,绚烂之“媛”--科研创新系列讲座3

“生命短暂,既然生,便与夏花一样的绚烂!”                                  ——支持媛媛在行动【生如夏花,绚烂之“媛”--科研创新系列讲座】第3讲:TESCAN在材料科学领域的综合解决方案讲座时间:2020/8/7 09:30-11:30(北京时间)会议 ID:650 470 844会议链接:https://meeting.tencent.com/s/Ialarw1WAjFk会议直播:https://meeting.tencent.com/l/oYPRVTeEg8Wz?要达成爱心?支持媛媛的众筹目标,请关注或转发http://aixin.5youchou.com/app/index.php?i=2&c=entry&id=15642&is_share=1&shareid=14113676&do=detail&m=dustfox_qingsongchou期待在这里或任何其它方式方法支持媛媛是您的选择

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2020.08.04

邀请函 | Microscopy & Microanalysis 2020

2020年对所有人而言都是特殊的一年,全球疫情的蔓延使得人们不得不保持安全距离,但是发达的网络仍然让我们可以“面对面”交流。2020年8月3-7日,全球电镜界盛会 M&M2020 (Microscopy & Microanalysis 2020) 首度以网络线上会议的形式向全球公众开放!作为国际知名的电镜及微分析解决方案厂商,TESCAN公司将会在本次大会上举办多场活动,欢迎各位老师莅临指导!更多信息和视频内容请关注TESCAN官方微信公众号--“TESCAN 公司”。

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2020.08.04

访谈 | 浅谈动态Micro CT的优势和应用

以下为材料科学界的知名网站AZoNetwork对TESCAN Micro-CT 产品市场总监Arno Merkle博士的专访内容。◆ Micro-CT是材料成像领域中最令人兴奋的表征手段之一,您能介绍一下它的工作原理和原因吗?Micro-CT利用X射线照射在进行360°匀速旋转的样品,获取二维的投影图像。通过对这些二维图像进行大量的计算和重构,生成样品的数字三维结构。Micro-CT和医用CT的基本原理是相同的,但是Micro-CT能够提供更高的分辨率。Micro-CT技术之所以在材料研究中如此重要,部分原因是其分析方式对样品是无损的——无需对样品进行加工或切割,人们就能够三维可视化的分析样品的内部结构;还有一部分原因是,除了对“静态”的样品内部结构进行了解之外,该技术可以对样品实现“动态”成像——也就是随时间变化(可以称之为“4D”)成像,研究人员可以了解随时间的变化样品内部的变化过程。◆ TESCAN Micro-CT专业从事动态或4D Micro-CT。什么是动态CT,与传统的Micro-CT相比有什么优势?在时间分辨领域,Micro-CT成像技术一直在发展,经历了静态、延时成像、“4D”成像等。这些技术试图对样品在一段时间内的变化进行成像,无论是间断的还是连续的过程,时间范围可以是数秒、数分钟、数小时甚至数天或数周。“动态”CT是时间分辨X射线成像最高级别的应用,要求能够追踪样品的变化,并需要不断对其进行成像。我们可以将“延时成像”看作是定格动画,图像有间断,是不连续的,而“动态成像”是平滑的运动图像。动态CT的优势在于能够进行真实的、不间断的原位实验。到目前为止,大多数基于实验室系统的4D研究仅使用间断的“延时”方法进行,而速度更快、不间断的动态CT一般需要用到同步加速器才能实现。TESCAN致力于为实验室提供动态CT分析能力,我们开发了新的硬件和软件,可以更轻松地促进此类与时间相关的研究,从而扩大了可以在实验室中进行的动态实验的范围。 我们最近发表了一篇论文《Innovations in laboratory‐based dynamic micro‐CT to accelerate in situ research》,DEWANCKELE,J.(2020年),Journal of Microscopy,277:197209.doi:10.1111/jmi.12879),重点介绍了动态CT的方法,感兴趣的读者可以查看。◆ 新系统的哪些功能保证了可以进行这些动态或延时研究?为了优化“动态”CT的工作流程,需要大量的开发工作,包括硬件、软件,还有应用程序工作流程,并需要将它们融为一体。在硬件方面,优先考虑提升数据通量,为此就需要开发高功率X射线源和高效的检测器。此外,必须实现连续的、不停顿的360°连续扫描功能——我们开发了两种方案,一种是集成电源、数据接口的专用旋转样品台;另一种是独特的DynaTOM,我们开发了类似于龙门架结构的成像系统,实现样品固定不动,X-射线源和检测器围绕样品旋转。这种结构可以让研究人员不必再担心电缆、流体管线或传感器的在实验过程中出现缠结或实验系统的复杂性过高,专心原位实验设计,而通常这些问题是传统原位实验的主要障碍。硬件部分仅仅是实现“动态”CT的一部分,我们还在软件和应用程序工作流程方面的开发进行了多种尝试,主要集中在对扫描系统的优化以实现能够连续采集、重建,并让用户可以更便捷、更直观地完成可视化处理。而且,为了能够应对最复杂的实验,在各方面我们都保留了高度的灵活性。我们在动态影像应用开发领域拥有多年丰富的应用经验,可以为我们的客户提供世界一流的培训和咨询团队。◆ 针对系统的动态性能进行优化,这是否意味着不得不牺牲空间分辨率?在速度、信噪比和分辨率方面始终存在取舍——每个测量或成像系统都是如此。在专注于优化动态CT的能力的同时,我们在这些需求之间取得了很好的平衡。市场上有一些CT具有更高的空间分辨率,但是它们是用于满足不同的需求的,无法实现动态CT所需的高速、高保真度的采集。我们认为所有这些CT之间彼此是高度互补的,就像SEM、FIB-SEM和TEM在电子显微镜领域中相互补充一样。◆ 在材料科学中动态CT有许多很好的潜在应用,您能举一些例子吗?原位实验的类型确实是无穷无尽的,在过去的几年中,我们在材料科学的许多应用中都看到了动态CT的应用需求。例如,结构材料(例如金属、3D打印的零件或复合材料)的机械性能研究领域就是一个明显的例子,我们需要通过成像和分析研究载荷下的故障与裂纹、空隙,以及其它缺陷的相关性。在这里,我们需要样品在压缩、弯曲或拉伸状态下成像,并尝试将变形事件与力-位移测量值相关联。在破坏或变形的时候,我们会使用Micro-CT或其它技术(例如SEM或等离子体FIB-SEM)对感兴趣位置进行深入研究,这样能够更精细地观测微观结构细节的变化。其它应用领域:包括研究多孔和轻质结构的变形,例如泡沫金属或聚合物;食品科学中例如面包在烘烤中的空隙变化或啤酒泡沫的塌陷;包括消费品在内的各种材料中的水合、过滤或吸收过程;电池的腐蚀和充电循环代表了另外两个非常普遍的应用,尽管时间跨度会稍长。最近,我们致力于研究液体中的颗粒悬浮液并探索相关的流动行为。最重要的是,我们的动态CT有能力适应各种感兴趣的时间范围,从最快的时间分辨率小于10秒的快速反应过程,一直到间断的、延时的缓慢移动的过程——其实验时间可能需要持续几周或几个月。◆ 地球科学是从该技术中受益的其中一门学科,您能提供一些他们感兴趣的应用示例吗?无论是在环境地质,工程地质,自然资源,石油工程还是地球动力学等子领域,我们都遇到了许多利用动态CT的有趣应用案例。例如,岩石在压缩载荷下的断裂动力学,多孔岩石中的两相和三相流,沉积物中的压实以及矿化/溶解过程,最令人兴奋的是能够可视化和分析不稳定多相流中的变化。在不使用动态CT的情况下,研究人员只能对处于平衡状态的液体进行成像。换句话说,当不同的液体最初相互交互时,他们实际上只能看到交互的后果,而不会看这种交互的过程中到底发生了什么。◆ 在被TESCAN收购之前,XRE NV已经积累了多年的显微CT成像专业知识,构建了定制化的系统。您能否与我们介绍一些独特的设计,并分享这些设计的实际应用价值?我们开发的最受认可的系统是DynaTOM,核心是独特的基于龙门架结构的旋转系统。它是一个完全创新的设计,能够完全避免样品的旋转,并且优化了采集时间(低至◆ 从操作和分析的角度来看,用户界面和软件需要将海量数据集整合在一起,这至关重要。您的软件有哪些功能?它的灵活性如何?我们的软件平台可完全控制我们的显微CT系统进行3D和4D数据集的采集,实现重建和基本可视化。我们认为良好的用户体验是能够在同一个公共环境中体验3D和4D工作流程,并且能够将采集、重建和可视化工作有效地连接起来。例如,我们能够进行快速调查采集、快速重建和可视化,然后(通过视觉)寻找、识别感兴趣的子体积——以便以更高的分辨率或更多的细节进行后续扫描。一旦标记了这些区域,软件便可以将坐标发送回我们的采集界面,并以高度集成的方式在所需区域进行无缝采集。我们称此方法为“感兴趣扫描体积”,即“VOIS”(Volume Of Interest Scanning),并且我们已经以最直观的方式构建了此方法,这是其它商业解决方案无法比拟的。我们还提供了一些工具,可轻松设置复杂的动态采集,处理动态CT数据集并以直观的方式可视化。◆ 目前同步加速器是唯一能进行您定义的动态CT实验的解决方案。鉴于使用这些设施可能很困难,您是否将您的系统视为它的有效筛选工具?同步加速器提供了惊人的功能,并在许多领域远远超出了实验室系统可以完成的范畴。但是,由于使用这些设施受到限制,研究人员通常一年只能访问1到2次。我们坚信,研究人员通过在实验室中使用动态CT进行类似实验,可以优化实验工作流程,更好的发挥同步加速器的宝贵机时。我们预计在未来,实验室系统和同步加速器之间的这种共生关系会进一步增长。◆ 您还进行了很多的“科普性”研究,这些研究有效地展示了动态CT的适用性。您能和我们聊聊这些吗?一些“科普性”研究由于其学科的相关性而受到了一些关注。事实上,在这些领域的背后都有强大的科学基础和群体。 例如,在植物科学中,我们研究了水芹种子的早期萌发过程,如下面的视频链接所示。土壤中自由基的出现,以及叶子的发芽,只是触及了我们希望在植物科学中探索的表面:在炎热的夏天,几乎每个人都喜欢吃一份美味的卷筒冰淇淋。本着这种精神,我们在DynaTOM里放入了一个正在融化的卷筒冰淇淋进行研究,在那里可以很容易地看到其变化过程。这只是我们在食品科学中探索的众多例子中的一个,在这些例子中,质地和结构的变化对产品质量和消费者的口味体验有直接的影响。下面的视频显示了溶于水的维生素药丸,很多人都能想到,这是制药行业可以用动态CT进行给药相关研究领域的典型。研究药物与液体环境的相互作用是控制药效和优化药效的关键步骤。视频:Pharmaceutical Multi-vitamin pill dissolution◆ 在哪里可以找到有关这些独特的动态CT系统的更多信息?请访问我们的官方网站或访问TESCAN的YouTube频道,您可以在其中找到最新的动态CT并了解有关我们的显微CT产品的更多信息,您也可以联系所在地区的TESCAN人员咨询。图:安装于沙特阿卜杜拉国王科技大学ANPERC研究中心的TESCAN Micro CT

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2020.07.29

SGS集团第四台TESCAN TIMA-X自动矿物分析系统投入使用

2020年7月2日,国际公认检验、鉴定、测试和认证的权威机构SGS集团(SGS S.A.)宣布,其位于加拿大不列颠哥伦比亚省本那比市的实验室正式开始使用TESCAN TIMA-X 自动矿物分析系统提供测试服务。SGS是国际公认的检验、鉴定、测试和认证机构,在全球有94000多名员工、2600多个分支机构和实验室。SGS拥有广受业界好评的专业矿物学分析团队,TESCAN的矿物自动分析系统TIMA-X为其相关的矿物学分析工作提供系统的解决方案,增强SGS团队的矿物分析能力的同时,也进一步提高了SGS的矿物学分析效率。TESCAN TIMA-X 自动矿物分析系统与传统矿物学分析方法相比,(1)TIMA-X具有更灵敏的检出限,可以获得EDS检测范围内的所有元素信息;(2)TIMA-X能多通道同时成像,通过一次分析可同时获得更高分辨的BSE图像、SE图像、PHASE图像以及CL样品全拼图;(3)TIMA-X专配EDAX能谱,与扫描电镜高度集成,且可最多配置4个EDS探测器同时工作,具有更高的分析速率;(4)TIMA-X独有分析专利-解离技术,依据采集的BSE信号和元素面分布信息将样品进行相分割,将分割后获得的每个矿物相的EDS信号分别进行累积拟合,从而获得足够的能谱计数,保持较高采集效率的同时,提高了谱图数据的精准度,增强了识别微量元素的灵敏度;(5)TIMA-X独有的亮相搜索功能,可以高效的对金、银、稀土和铂等贵金属矿物进行搜索,目前为止在已经成功分析过小于200nm的金颗粒。TESCAN TIMA-X自动矿物分析系统顶部俯视图“SGS致力于利用先进技术为全球冶金和选矿业提供优质服务,也正是由于其长久以来对先进技术和解决方案的不懈追求与探索,SGS才能始终保证为全球各行各业的客户提供最优质的服务。” SGS表示,这已经是SGS集团全球服务实验室体系中的第四台TESCAN自动矿物分析系统,其中第一台TIMA-X于2018年在智利开始运营,而且后续还将继续采购,以满足全球范围的高效矿物分析服务需求。

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2020.07.27

微束分析原位技术应用论坛邀请函(第二轮)

本次论坛即将在7月23~24日召开,为了能为诸多志同道合的朋友们构建一个技术交流平台,我们诚意邀请您加入到“微束分析原位技术应用” 微信群中,群内会发布最新的论坛消息以及会后的资料分享。欢迎您点击 “我要报名”报名参会,对我们提出意见和需求,我们会以邮件的方式将邀请函和会议信息发送到您的邮箱!在两天的会议中,我们每天会抽取10位幸运观众赠送手机无线充电器1个,快来报名吧~

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2020.07.21

邀请函 | 微束分析原位技术应用论坛邀请函(第一轮)

电子显微技术是人类直观观察微观世界的重要手段,电镜在材料、物理、化学、冶金、生物、医学等学科的研究工作中已成为不可替代的重要工具。原位电镜技术使得电镜研究由静态发展到了动态、实时的观察,可施加热、力、电、磁、气氛等多种外场,模拟现实环境,极大地拓展了电镜的功能,在诸如生物分子、纳米材料、催化反应、电化学、力学等研究领域具有广泛的应用前景和独特的价值。但原位应用中的外场环境对观测和分析造成了很大影响,阻碍了原位应用的普及,所幸经过长期探索,很多老师开发出了新工具、新方法,成功解决了部分问题,并取得了很好的科研成果。为推动原位技术的普及,TESCAN将于7月23-24日举办微束分析原位技术应用论坛(线上),邀请业内多位原位科研的老师分享他们的经验和成果。此外我们还安排了原位Micro-CT的报告,分享在更大的尺度上的原位应用最新进展。您可以扫描下方二维码报名参加。

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2020.07.10

外企直聘 | 诚聘售后工程师和应用工程师

TESCAN是一家致力于为材料科学、石油化工、生物医药、半导体和电子器件等领域提供综合微观分析解决方案的全球供应商。公司总部位于欧洲电子光学研发和制造基地捷克布尔诺市,汇聚了电子显微镜及其零配件方面的顶尖人才。目前,TESCAN已建立起全球的销售和服务网络,在捷克、法国和美国拥有5家研发中心、2个生产基地以及7家海外子公司。TESCAN 公司以满足客户需求,开发具有创新性、能够提升客户竞争力的产品作为产品研发宗旨,在经过充分调研的基础上,满足当前以及未来客户应用需求的发展,因而更多的知名高校、研究院所和企业选择TESCAN,其中不乏清华大学、北京大学、上海交通大学、香港大学、中科院微电子所、中科院生物物理所、中石油勘探研究院、故宫博物院、中芯国际、京东方、乾照光电等等。TESCAN 于2009年正式进入中国市场,成立了TESCAN CHINA 中国分公司,总部设在上海,且在上海建立了 TESCAN 中国演示中心,在北京、上海、广州、重庆、南京、武汉、西安、无锡、苏州等城市设立9个维修站。10多年来,TESCAN凭借优异的设备性能、及时有效的售后服务,以及独特的联用技术和解决方案,赢得了越来越多的用户认可,在中国的电镜销售台数已经超过600台!      在TESCAN中国的整个团队中,售后服务和应用支持人员高达65%,其中大部分人员均取得了硕士及博士学位,能够为用户提供“专家级”的技术支持和售后服务。TESCAN 中国公司正在快速发展中,我们急需新鲜的血液加入TESCAN 中国~TESCAN中国现诚聘售后工程师(上海)和应用工程师!在这里,你将获得  极具竞争力的薪资体系  丰富的培训机会和完善的晋升机制  五险一金、生日/节假日福利、各种补贴  享有额外商业保险(包括本人和子女,以及重大疾病险)  15~20天带薪年假,不定期团队建设和工会活动,年度国内外旅游机会等  幸福有爱的团队文化,贴心的人文关怀招聘岗位:售后工程师(上海)Service Engineer(Shanghai)岗位职责  Work Description1.   负责扫描电镜的安装、日常保养、维修、客户培训和异常情况的处理等;2.   安装前的安装地点、环境测量、运输通道等方面的测试和确认工作;3.   安装后负责在现场为用户进行产品的安装、调试、故障排除和产品演示;4.   日常通过电话、现场等方式协助用户解决产品的操作和技术问题;5.   撰写和发送维修报告、工作报告、出差报告等,及时汇报寻求技术支持。 任职要求  Mandatory Requirements1.   掌握机电气一体化的专业基础理论知识;2.   具有良好的动手能力和一定的分析解决问题能力;3.   具备同等设备调试维修经验者优先;4.   能够适应出差进行安装、调试等针对设备的工作;5.   机械类或相关专业,英语听说读写熟练。招聘岗位:应用工程师(上海)Application Engineer(Shanghai)岗位职责  Work Description1.   负责SEM以及FIB的应用以及技术支持工作;2.   为销售人员提供售前售后技术支持,负责设备演示和测样操作;3.   负责产品资料整理和应用开发;产品的深入学习,为销售和市场提供多方位技术支持;4.    参与公司市场推广及创意、文案的撰写,快速结合公司动态与行业进行技术销售。任职要求  Mandatory Requirements1.    硕士及以上学历,理工类相关专业,仪器、材料,化学以及物理类专业优先考虑;2.    勤于学习和钻研技术,有扫描电镜使用和操作经验者优先;3.    熟练使用办公软件,具有较好的语言使用能力;4.    工作认真、为人诚实、责任心强,有团队合作精神;5.    英语4级或以上,听说读写熟练。愿有梦想的你加入我们,一起前行!联系我们简历投递: xiaolin.sun@tescan.com 咨询电话: 021-64398570 转 853 (工作日 9:00~17:00)

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2020.06.18

电镜-拉曼联用助力在环保领域科研——自然环境下风化微塑料研究

中国地质大学(武汉)环境学院罗泽娇教授课题组联合地球科学学院佘振兵教授课题组发表了一篇利用电镜、能谱、拉曼和红外研究自然界中风化微塑料的新成果。                                                自2004年,英国普利茅斯大学的汤普森等人在《科学》杂志上发表了关于海洋水体和沉积物中塑料碎片的论文,首次提出了“微塑料”的概念,指的是直径小于5毫米的塑料碎片和颗粒。实际上,微塑料的粒径范围从几微米到几毫米,是形状多样的非均匀塑料颗粒混合体,肉眼往往难以分辨。微塑料的危害是成为了制造环境污染的主要载体。微塑料由于体积小,意味着更高的比表面积(比表面积指多孔固体物质单位质量所具有的表面积),比表面积越大,吸附的污染物的能力越强。环境中已经存在大量的多氯联苯、双酚A等有机污染物(这些有机污染物往往是疏水的,就是说它们不太容易溶解在水中,也容易被水体稀释),但微塑料一旦和这些污染物相遇,正好聚集形成一个有机污染球体。微塑料相当于成为污染物的坐骑,二者可以在环境中到处游荡。与一般的“白色污染”不可降解塑料相比,微塑料对于环境的危害程度更深,因此被形象地称为“海中的PM2.5”。一般认为老化或风化会增强微塑料吸附有机污染物和重金属的能力,以往关于老化或风化的塑料表面变化的研究大多是在实验室中通过模拟光氧化或化学氧化进行的,但自然环境中风化的微塑料的降解过程比实验室模拟中的降解过程更为复杂。所以研究自然界风化的微塑料的表面变化对于了解微塑料污染的持久性和小型微塑料的起源具有重要意义。罗泽娇老师的课题组的董明潭同学运用了扫描电镜、能谱、拉曼和红外光谱综合分析了风化微塑料的光谱特征与表面变化。图1:环境中风化微塑料的SEM图像(a~d为PE,e~h为PP)相比于标准塑料的光滑表面(图见论文补充材料),风化后塑料的表面是粗糙且不规则的,有裂纹、破裂、缺口、凹坑等,PP比PE具有更多的裂口。上图的c~d显示了塑料的表面层状剥落过程,提示风化过程会产生更多更微小的微塑料甚至纳米塑料。  图2:(a)二次电子图像;(b)碳元素EDS面分布;(c)氧元素EDS面分布图(d)线扫描 微塑料的SEM图像反映了内外层的形貌的明显差异,EDS分析发现风化的外表面氧元素含量较高,碳元素含量低;而与之相反,光滑的内表面,氧元素(含量较低,碳元素含量高, 风化的外表面的O / C比约为0.1-0.5,无风化的内表面的O / C比为0.01-0.03。互补的C和O元素图表明,O/C比是判断氧化程度的潜在指标。EDS还揭示了PET和PVC表面上的钛,这与用作阻光剂的二氧化钛有关。图3:PE微塑料碎片的拉曼光谱(左)和ATR-FTIR光谱(右) 研究发现拉曼光谱在鉴定环境微塑料中具有巨大潜力,而光谱和元素分析相结合可用于破译自然条件下的微塑料降解过程,并且初步建立了包括124个风化微塑料拉曼光谱的风化微塑料拉曼光谱数据库(RDWP),以用于准确识别自然环境中的微塑料,并且向所有用户开放。 自2014年 TESCAN 正式推出扫描电镜和拉曼联用系统—RISE显微镜,这是台真正实现实用化的扫描电镜-拉曼光谱联用设备,因为它独特的功能和应用创新,在国内和国际上都已经有了很多重量级用户,它的科研和分析价值已经被越来越多的人认可和发现。TESCAN RISE电镜-拉曼一体化系统

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2020.06.17

TESCAN 第三期线上高阶应用培训通知

受新冠疫情影响,TESCAN公司的2020年度第一期、第二期以及第三期的高阶应用培训都转为线上培训,我们已经圆满地完成了第一期和第二期线上培训!为了能够让更多的 TESCAN 用户参与到线上培训中,决定将原定于5月28日 — 5月29日第三期线上培训延期至6月11日 — 6月12日。尊敬的各公司领导和TESCAN 用户:您好!我公司诚邀您参加我公司举办的扫描电镜应用培训,培训日期为2020年6月11日到6月12日,共计2天。培训的对象是具备至少三个月以上实际操作经验的TESCAN 电镜用户,培训的目标是为了进一步提高电镜操作人员的理论知识,在用户具备熟练操作的前提下如何针对不同的样品选择最佳的观测条件,如何充分利用操作软件的各种功能,以及如何对样品进行微区分析等。由于受到疫情影响,培训地点转为线上培训。受线上培训操作局限,烦请大家:1. 提前下载腾讯会议APP至电镜电脑或个人笔记本,无论使用电镜电脑或是个人笔记本均不会影响参加在线上机操作培训;2. 我们在培训日程中安排了用户远程上机进行对中练习(11号下午)和高分辨拍照练习(12号下午),电镜电脑需要联网以便能够共享学员电镜操作界面。如果电脑不便联网,可以使用个人笔记本连接手机网络,利用笔记本摄像头采集学员电镜操作界面。    3. 自备样品进行高分辨拍照练习(可以选择电镜自带工具箱中的ADJ样品或者锡球标样,也可以使用自己的感兴趣样品)。        4. 理论培训和软件操作培训不限参与人数,但是受上机时间限制,上机操作培训限8人进行远程上机实际操作。如有意愿进行线上对中和高分辨拍照实际操作,请在报名的培训建议中进行备注,以便为大家安排上机时间,根据收到报名先后安排8位学员进行实际操作,额满即止。    报名链接,https://jinshuju.net/f/C7qyD2

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2020.05.28

TESCAN 扫描电镜全球销量突破3000台

TESCAN 全球第3000台扫描电镜 — TESCAN AMBER X 氙气等离子双束 FIB 已在德国弗莱堡大学(University of Freiburg)完成了安装调试。TESCAN AMBER X 是 TESCAN 公司近年来最新推出的第四代电镜中的一员,它完美地结合了超高分辨 SEM 和等离子 FIB,用于样品表面成像以及刻蚀加工等。  这台 TESCAN AMBER X  安装在弗莱堡大学的微系统工程系(IMTEK),近期实验室为新设备举办了技术讲座,除了扫描电镜的演示之外,还介绍了这款设备即将发挥重要作用的两个研究项目。第一个研究项目是弗莱堡大学正在研发的先进神经反馈义肢,将在假肢上集成有“感觉”的反馈系统来实现缺失的神经系统的功能,患者使用这种特殊的义肢接触物体后,就产生“触感”,例如可以感知到物体的表面信息和硬度等。另一个研究项目是燃料电池,最终目的在于能够发现新的解决方案。TESCAN 德国子公司的 Sven Gosda 总经理表示:“ TESCAN AMBER X 已经被证明广泛适用于各类科研。对于我们的电镜能为这两个宏伟的科研项目提供帮助,我完全无法抑制内心的喜悦。”去年,位于布尔诺的 TESCAN 工厂生产了近300台电镜,其中绝大部分出口到全球各大城市。TESCAN 全球营销总监 Maro? Karabino? 表示:“TESCAN 是全球著名的电子显微镜和聚焦离子束供应商,我们非常高兴看到这台对 TESCAN 具有重大纪念价值的电镜能够在德国安装,我们一向重视德国市场并有长期发展的计划。” 这也不是弗莱堡大学第一次选择 TESCAN 的产品,自2016年开始 TESCAN 第三代扫描电镜就已经是弗莱堡大学实验室设备中的一员。TESCAN 公司在德国一直有着良好的口碑。为了能够给客户提供更优质的服务,TESCAN 公司在2018年正式收购了原德国经销商 EOElektronen-Optik-Service GmbH ,成立 TESCAN 的德国子公司 TESCAN GmbH。关于扫描电镜扫描电子显微镜不仅可以用于样品观察,还可以使用聚焦离子束(FIB)实现精确地定位切削和沉积加工,是微纳尺度加工和制样必不可少的工具。TESCAN 是全球首家将等离子 FIB 集成到扫描电子显微镜(SEM)中的制造商,并于去年底推出了新一代的 TESCAN AMBER X 和 TESCAN SOLARIS X。其中 TESCAN AMBER X 完美地结合了可用于样品精确加工的氙等离子体 FIB 和无漏磁的超高分辨成像的 SEM,适合于各类材料的显微结构表征。氙等离子体 FIB 与传统的金属镓离子的 FIB 相比,在小束斑的大离子束流上具有明显的优势。因此,TESCAN AMBER X 可以用更快的速度完成样品切削工作,并且仍然能完成精细加工和抛光,并实现15 nm的高分辨率成像。弗赖堡的阿尔伯特·路德维希大学 (Albert Ludwig University of Freiburg) 是首批尝试使用这种新技术的机构之一。关于 TESCAN 公司TESCAN 公司位于欧洲电子光学研发和制造基地捷克布尔诺市,主要研发和生产扫描电子显微镜。公司成立于1991年,由原世界电子光学设备制造的领航者 TESLA 的研发人员和售后工程师创建。TESCAN 于1996年推出了首台仪器 PROXIMA,并凭借该系列产品跻身世界知名设备供应商之列。2013年,TESCAN 与法国公司 ORSAY PHYSICS 组建控股公司 TESCAN ORSAY HOLDING,在全球范围内进行扩张并建立多家子公司,公司总部、生产和研发部门仍然位于布尔诺-科胡图维斯。每一台 TESCAN 扫描电镜都在布尔诺生产,其中大约95%会运往全球各地。TESCAN 的主要客户包括大学,研究中心以及各个行业的工业企业和生产企业。TESCAN ORSAYHOLDING 拥有600多名员工,各类电镜的年产量约为300台,每年的营业额达到20亿捷克克朗。  2018年,TESCAN 收购了 X射线 CT 领域著名的制造商 XRE NV 公司,开始生产商业化可用于大尺寸样品三维、四维原位动态分析的 XCT 设备,可研究各种样品在真实环境(原位)下的材料演变,为科学研究及工业应用提供成熟的亚微米尺度分析解决方案。我们的 XCT 客户快速增长,截止2019年底,全球已有近20家科研院所和知名企业和 TESCAN 达成了合作协议并采购了 XCT,包括华威大学、鲁汶大学、CWI 研究所、美国国家能源技术实验室、加拿大国家研究院、沙特阿拉伯国王科技大学和 P&G 等高端科研和工业用户。TESCAN 公司不会停下前进的步伐,我们将致力于为更多的客户提供有价值的综合解决方案,以更好的产品质量以及应用售后团队服务于全球客户!

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2020.03.12

外企直聘丨TESCAN 招聘售后工程师!

TESCAN是一家致力于为材料科学、石油化工、生物医药、半导体和电子器件等领域提供综合微观分析解决方案的全球供应商。公司总部位于欧洲电子光学研发和制造基地捷克布尔诺市,汇聚了电子显微镜及其零配件方面的顶尖人才。目前,TESCAN已建立起全球的销售和服务网络,在捷克、法国和美国拥有5家研发中心、2个生产基地以及7家海外子公司。TESCAN 公司以满足客户需求,开发具有创新性、能够提升客户竞争力的产品作为产品研发宗旨,在经过充分调研的基础上,满足当前以及未来客户应用需求的发展,因而更多的知名高校、研究院所和企业选择TESCAN,其中不乏清华大学、北京大学、上海交通大学、香港大学、中科院微电子所、中科院生物物理所、中石油勘探研究院、故宫博物院、中芯国际、京东方、乾照光电等等。TESCAN 于2009年正式进入中国市场,成立了TESCAN CHINA 中国分公司,总部设在上海,且在上海建立了 TESCAN 中国演示中心,在北京、上海、广州、重庆、南京、武汉、西安、无锡、苏州等城市设立9个维修站。10多年来,TESCAN凭借优异的设备性能、及时有效的售后服务,以及独特的联用技术和解决方案,赢得了越来越多的用户认可,在中国的电镜销售台数已经超过600台!      在TESCAN中国的整个团队中,售后服务和应用支持人员高达65%,其中大部分人员均取得了硕士及博士学位,能够为用户提供“专家级”的技术支持和售后服务。TESCAN 中国公司正在快速发展中,我们急需新鲜的血液加入TESCAN 中国~TESCAN中国现诚聘售后工程师!在这里,你将获得→? 极具竞争力的薪资体系? 丰富的培训机会和完善的晋升机制? 五险一金、生日/节假日福利、各种补贴? 享有额外商业保险(包括本人和子女,以及重大疾病险)? 15天带薪年假,不定期团队建设和工会活动,年度国内外旅游机会等? 幸福有爱的团队文化,贴心的人文关怀招聘岗位:售后工程师(华东区)Service Engineer(East China Area)岗位职责  Work Description1.   负责扫描电镜的安装、日常保养、维修、客户培训和异常情况的处理等;2.   安装前的安装地点、环境测量、运输通道等方面的测试和确认工作;3.   安装后负责在现场为用户进行产品的安装、调试、故障排除和产品演示;4.   日常通过电话、现场等方式协助用户解决产品的操作和技术问题;5.   撰写和发送维修报告、工作报告、出差报告等,及时汇报寻求技术支持。 任职要求  Mandatory Requirements1.   掌握机电气一体化的专业基础理论知识;2.   具有良好的动手能力和一定的分析解决问题能力;3.   具备同等设备调试维修经验者优先;4.   能够适应出差进行安装、调试等针对设备的工作;5.   机械类或相关专业,英语听说读写熟练。愿有梦想的你加入我们,一起前行!联系我们简历投递: xiaolin.sun@tescan.com 咨询电话: 021-64398570 转 853 (工作日 9:00~17:00)

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2020.03.06

TESCAN 正式复工通知

尊敬的客户:您好!      经过当地政府批准,TESCAN(中国)上海办员工将于2月17日正式复工上班。为了保证客户和员工健康和安全,部分返沪未满14天隔离时间的员工,根据规定将继续保持在家办公状态,隔离期满后正式复工!      正式复工后,TESCAN 公司会保持疫情防控期间的客户服务工作安排,在做好疫情预防和控制前提下,为客户尽可能提供及时的服务。      疫情防控期间的TESCAN客户服务工作安排如下:1、对于亟需上门服务的客户,在确保工程师无威胁身体健康隐患的前提下,并严格依据当地政府规定,我们可以提供上门服务。疫情防控期间,鉴于各地的交通限行及隔离要求,可能有所延迟,希望能够得到您的理解和支持!2、上海演示中心的高阶应用培训暂停,我们会通过网络的方式组织在线用户培训,具体时间另行通知。暂停客户现场的培训工作,我们会提供多种远程培训的方式,帮助客户进行培训和解决问题。对于亟需现场培训的客户,我们将参照第1条来进行服务。3、疫情防控期间,公司网站正常运营,为了尽量减少人员流动和接触,建议您首选在线或远程解决方案,我司官方服务热线 400-821-5286 将24小时开通,同时所有工程师将随时提供远程诊断指导服务。4、备件可以正常订购,我们会进行全面的消毒后再发出,交货期可能会因为疫情造成的物流限制有所影响,敬请见谅!            在此特殊时期,TESCAN 提醒您出行一定要注意安全,戴口罩,勤洗手,保护好自己,就是对国家最大的贡献。 TESCAN (中国)                                                                                2020年2月14日 

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2020.02.14

爆竹声响辞旧岁,金鼠送福贺新春

新的一年即将到来,美妙的钟声又要敲响;新的一年开启新的希望,新的空白承载新的梦想!过去的一年是 TESCAN 中国分公司正式成立的第10年,TESCAN(中国)在国内从一家默默无闻的公司成长为中国客户所认可的仪器供应商,国内的用户突破第600台,一路走来风雨随行!为了满足客户的科研需要,TESCAN 推出了 All In One 的综合显微分析解决方案,在TESCAN扫描电镜平台上除了常规的 EDS,WDS,EBSD 等第三方设备以外,还能够集成包括拉曼光谱、飞行时间二次离子质谱仪、扫描探针显微镜、高温拉伸等多种仪器实现对微区的综合表征。其中,双束电镜-飞行时间二次离子质谱仪联用系统(FIB-SEM-TOF-SIMS)已经在国际和国内市场都获得了大量客户的一致好评,多个课题组利用该技术获得的研究成果已经在多家期刊上发表,其中不乏 Science 和 Nature 这样的知名顶级期刊。双束电镜-飞行时间二次离子质谱仪联用系统在中国已经安装了9台,上海交通大学分析测试中心是国内第一家采购了该系统的高校,目前仪器已经运行1年半,支持文章发表24篇,累计影响因子达218.9,相信在新的一年他们必将获得更加丰硕的成果。 随着材料研究的发展,动态的实时表征也逐渐成为了研究中必不可少的需求,扫描电镜原位成像和分析技术也有了快速的发展,扫描电镜高温原位观测技术就是其中的代表,它可以从纳米到宏观尺度,深入、全面、准确的研究材料在高温受力条件下微观结构演变、成分、取向、力学性能等相互之间的定量化关系,从而完成优化材料制备工艺、材料质量检测、材料服役寿命评估、安全性评价等必要工作。但高温原位应用对扫描电镜也提出了更高的要求,例如高温下样品需要尽量远离物镜,以降低高温辐射和污染对仪器的影响,而普通物镜设计在大工作距离下,图像分辨率和 EBSD 的空间分辨率很难满足应用要求。TESCAN 公司为满足原位应用需求,在2017年推出了 S8000 系列超高分辨场发射扫描电镜,配置了高空间利用率的大样品室和全新的采用特殊的静电-电磁复合物镜的 BrightBeam™ 镜筒,不需要在样品上施加偏压就可以实现以 200 eV 的低着陆能量成像,特别是实现了在远工作距离下保证高分辨应用,突破了以往静电-电磁复合物镜必须在小工作距离使用的限制,十分适合原位应用。此后 TESCAN 公司又在2019年发布了 BrightBeam™ 镜筒的第二代产品 CLARA 超高分辨扫描电镜、AMBER 镓离子 FIB-SEM 和 AMBER X 氙气等离子 FIB-SEM,将样品上不施加偏压的低着陆能量成像性能提升到50 eV。北京工业大学固体所依托 TESCAN S8000 型超高分辨场发射扫描电镜开发的扫描电镜原位高温拉伸系统,在2019年通过了国家验收,这是一套支持从室温~1200℃高温,并可以施加 3200N 载荷,同时原位高温显微成像,能够进行跨宏观-微观-纳米尺度的显微结构与材料热力学性能间关系的原位仪器系统。在过去的一年中,浙江大学、南京工业大学和太原理工大学已经选择了TESCAN BrightBeam™ 镜筒的扫描电镜或 FIB-SEM。 2019 全国电子显微学学术年会现场演示 镍基单晶高温合金在1200℃下 SE 成像 由于科研成果不断涌现,TESCAN 很多设计理念也逐渐被广大客户所认可,自然 TESCAN 的客户群体有了长足的进步,我们感谢所有 TESCAN 用户的辛勤努力,也祝愿所有的 TESCAN 用户在新的一年中取得更多更好的成果!

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2020.01.23

如何测量管径更准确?— SE 和 BSE 图像的测量对比

在使用扫描电镜进行形貌观察的时候,有时为了能同时获取形貌和成分衬度的图像,会采取多通道探测器同时进行 SE 和 BSE 的信号采集的方式。SE 和 BSE 图像虽然都可以满足形貌观察的要求,但是它们对形貌的表现却并不完全一致,尤其是需要对样品进行精确测量的时候。两者的测量结果可能会存在很大误差,哪一个结果才是正确的?是什么导致了误差的出现?如何解决这一问题?...这就是我们今天准备深入探讨的话题。SE 和 BSE 管径测量的数据差异 我们以一个管状结构的试样为例进行说明,根据样品特性,我们首先使用较常用的 5kV 的加速电压,同时进行 SE 和 BSE 的信号采集,得到了 In-Beam SE 高角二次电子、In-Beam BSE 高角背散射电子以及 LE-BSE 低角背散射电子三个信号的图像。图1:管状结构的试样,左图:In-Beam SE像;中图:LE-BSE像;右图:In-Beam BSE像 乍一看三张图片的差别并不大,我们在图片上进行了精确的测量,却发现二次电子图像测得的管径数据明显大于两个背散射电子图像上测得的数据。SE 图像上测得的管径为40nm,而高角和低角 BSE 图像上测得的管径相当,约为 32nm。两者的差异有8nm,相对误差竟然高达20-25%!相信看到这组数据,很多人都会提出疑问,这究竟是一个个案还是普遍存在的现象呢?是否可能是因为手动测量导致的误差?毕竟在高倍数下,每个像素可能就是一两个纳米,每个人对边界的判断也不一样,很有可能由此导致误差的出现。为了验证这些问题,接下来我们使用了管径较粗的管状试样做了同样的实验,仍采用相同的 5kV 加速电压,同时进行 In-Beam SE 和 In-Beam BSE 的信号采集。图2:管径较粗的管状试样,左图:In-Beam SE像;右图:In-Beam BSE像为了避免在测量过程中由于对边界判断标准不一致引起的人为误差,我们利用 TESCAN 操作软件中标配的“ Canny Edge Detector ”功能,对边界进行自动识别,勾勒出边界区域,然后再对识别的边界进行测量。这样就可以有效避免人为因素对 SEM 灰度图像边界判断的标准不一致而导致出现的测量误差。图3:管径较粗的管状试样,左图:In-Beam SE测量结果;右图:In-Beam BSE测量结果经过精确测量后我们发现,高角 BSE 图像上测得的管径为155.5nm,高角 SE 图像上测得的管径为163.3nm,仍有8nm左右的误差。因此可见,这 8nm 的误差和试样本身的管径无关,也并非人为对边界判断标准不一样而引起的误差,这是一个普遍存在的现象!测量数据差异的分析那么问题来了,这几个图像中究竟哪一个图像的测量结果是正确的呢?而这种差异又是如何形成的呢?那接下来我们就来讨论这个问题。我们的微信公众号也已经讲了很多有关电子信号的相关理论,总的来说 SE 和 BSE 两者的作用深度有着较大的差异。一般而言,SE 产生在样品表面10nm以内,而 BSE 的作用深度则要根据试样密度和电子束能量而定,不过通常 BSE 要比 SE 作用的深度更深。图4:纳米尺度管状试样的电子束作用示意图如前所述的纳米管状样品,我们观察电子束与之作用的截面示意图。在管状的边缘处,电子束和试样边缘相切,此时电子束在试样内的作用体积,因为处在边缘而变得很小。随着电子束向管中心处移动,电子束作用区域越来越大。而正是因为 SE 的作用深度要明显比 BSE 浅,边缘效应也要比 BSE 强很多,所以即使在作用区域很小的边缘处,SE 依然有较强的信号,反映在 SE 图像上,边缘处 SE 就已经处于较高的灰度。        而反观 BSE 信号,在管状边缘处,BSE 作用的较深,而在较深方向上,却没有管状试样的体积分布,因此 BSE 信号在边缘处非常弱,反映在 BSE 图像上灰度很低。而当电子束往管状中心移动一定的距离后,如黄线所示,管状试样在深度方向上有了较多的分布,和 BSE 作用区域有了较多的重叠,因此从该区域开始,BSE 才有较多的信号,反映在图像上才有较高的灰度。        所以,如果采用 SE 图像进行管径的测量,得到的数据基本和实际管径相当;而如果采用 BSE 图像测量管径,测量的其实是图中的黄色虚线范围,得到的管径数据要比 SE 图像的略小。所以针对这一类试样来说,SE 图像测量到的数据比 BSE 更加真实可靠。尤其是这种相对密度较低、容易穿透的试样来说,BSE 的实测数据要比 SE 小8-10nm左右。所以管径范围如果在20nm到200nm左右,接近10nm的误差将不可避免,尤其针对小管径样品而言,相对误差会更大。测量差异的解决办法通常情况下,大部分用户在使用扫描电镜进行试样观察时,二次电子的使用会多于背散射电子,此时不会出现太大的测量误差。但是在一些特殊的情况下,比如需要进行成分衬度的观察,或者遇到荷电、沉积污染等情况而不得不使用背散射电子的时候,有没有办法来对 BSE 的测量精度进行弥补呢?答案当然是肯定的,我们有办法来解决 BSE 的测量精度问题。既然分析出误差的产生的原因是源于 BSE 的穿透深度比 SE 的穿透深度要深很多,那么解决该误差,我们应该从穿透深度入手。接下来就用两种方法来解决这个问题。降低电压来减小 BSE 的穿透深度根据电子束和样品作用区域这些基本理论,我们很容易想到通过降低加速电压来减小 BSE 的穿透深度。如果我们进一步降低加速电压,减小作用体积,缩短 BSE 的作用深度,那么在不考虑分辨率的情况下,背散射电子图像测量到的数据应该会更接近二次电子图像。还是同样的管状试样,我们将加速电压由 5kV 降到 2kV,仍然进行 In-Beam SE 和 In-Beam BSE 的同时采集,采用“ Canny Edge Detector ”功能进行边界自动识别,然后再进行精确测量,得到如下结果。图5: 管状试样, 5-a:In-Beam SE像; 5-b:In-Beam BSE像;5-c:In-BeamSE测量结果;5-d:In-Beam BSE测量结果 高角 SE 测得管径为32.5nm,高角 BSE 测得的管径为32.2nm,相差0.3nm -- 甚至不到一个像素大小,我们可以认为两者测量值完全一样。由此可见,降低电压后 BSE 的作用深度的确变浅了很多,对测量精度的提高有很大的帮助。使用 Low-Loss BSE 减小穿透深度虽然降低电压可以减小测量的误差,但是降低电压也会有一定的问题。第一就是分辨率的下降:如果需要的倍数很高的情况下,因为分辨率的下降会导致边缘发生模糊,这对边界的判定也会带来误差;第二就是信号的减弱,尤其是对于 BSE 信号来说,降低加速电压后信号量的下降幅度会非常大,因此导致操作的时候存在一定的困难;第三就是为了实现低电压的 BSE 高质量成像,可能需要电镜具有一定的配置(如低电压的BSE探测器)或者特定的电镜工作条件(如较小的工作距离,上面采用了3mm),这对有些电镜来说是不容易实现的,比如有些自主开放的电镜实验室,工作距离都被限定在较远的区域。        那是否有办法在常规电压下,也减少 BSE 的测量误差呢?答案仍然是肯定的。        在我们《电镜学堂 | 细谈二次电子和背散射电子》系列文章中,我们介绍了一类比较特殊的背散射电子—— Low-Loss BSE 。Low-Loss BSE 的作用深度要比常规的 BSE 浅很多,甚至和 SE 的表面灵敏度相当。因此我们在测量的时候,如果选择使用 Low-Loss BSE 来进行成像,那么对其进行精确测量的结果就应该和 SE 图像结果基本一致。        理论上来说是如此,那么在实际使用中 Low-Loss BSE 真有如此神奇的效果吗?我们看下面的案例。还是同一个管状试样,我们仍然使用 5kV 的加速电压,工作距离(WD)为5mm,同时拍摄 In-Beam SE 和 In-Beam BSE 图像,同时采集高角 SE 和 BSE ,再用“ CannyEdge Detector ”功能自动识别边界,最终 In-Beam SE 测得的管径为97.7nm, In-Beam BSE 的测试结果为92.2nm,相差5.5nm。这和我们之前的误差结果基本一致。图6: 管状试样,6-a:In-Beam SE像; 6-b:In-Beam BSE像;6-c:In-Beam SE测量结果;6-d:In-BeamBSE测量结果  接下来,我们开启能量过滤器,将能量窗口设置到500V,即只有能量损失在500eV 以内的 Low-Loss BSE 才会被接收。我们再用 In-Beam SE 和 In-Beam f-BSE 探测器同时采集高角 SE 和 Low-Loss BSE 信号,并进行自动边界识别和精  确测量,发现 In-Beam SE 和 In-Beam f-BSE 测得的结果也一致,均为99.4nm。图7: 管状试样,7-a:In-Beam SE像; 7-b:In-Beam f-BSE (能量窗口500eV) 像;7-c:In-Beam SE测量结果;7-d:In-Beam f-BSE (能量窗口500eV) 测量结果  由此可见,Low-Loss BSE 信号的作用深度的确非常表面,和高角 SE 几乎相当,有着极强的表面灵敏度。这对极表面特征的观察以及测量精度的提高,有着非常大的帮助。        并且,采集 Low-Loss BSE 信号时,仍然可以使用相对较高的加速电压和工作距离,信号量和分辨率和安全性都优于低电压。这对于操作电镜不是很熟练,或者电镜使用条件受到限制的操作者来说,选择 Low-Loss BSE 信号无疑更为合适。随着电镜技术的不断发展,为了获得更真实的数据结果,我们不仅仅需要使用合适的电镜参数,选择合适的信号进行采集也是非常重要且不容忽视的一环!

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2020.01.22

再发2篇 Science,TESCAN TOF-SIMS 电镜质谱联用系统助力上交大

被誉为“东方麻省理工”,又有着“清北复交”美誉之一的上海交通大学,在刚刚过去的2019年度,上海交通大学在 Science 上又发表了2篇高质量文章,分别为韩礼元教授团队构建稳定异质结结构提高钙钛矿太阳电池的稳定性、赵一新团队的无机钙钛矿太阳能电池最新研究成果。Science:韩礼元教授团队构建稳定异质结结构提高钙钛矿太阳电池的稳定性上海交通大学韩礼元教授领导的科研团队多年来致力于新型太阳能电池研究,近来在钙钛矿太阳能电池领域屡获佳绩。2019年,上海交通大学的韩礼元教授和杨旭东研究员(共同通讯作者)发表了关于钙钛矿的最新研究成果“Stabilizing heterostructures of soft perovskite semiconductors”(《稳固结构柔弱的钙钛矿半导体异质结》)。为解决钙钛矿稳定性问题,韩礼元教授团队设计制备了具有稳固结构的钙钛矿异质结结构。该结构主要包含一层表面富铅钙钛矿半导体薄膜,并在薄膜表面沉积氯化氧化石墨烯薄膜,通过形成氯-铅键、氧-铅键将两层薄膜结合在一起。光学、电学等表征实验结果表明,该异质结结构稳定,可以有效减少钙钛矿半导体薄膜的分解和缺陷的产生,同时也减少了逃逸离子对电荷传输层功能性的破坏。具有该异质结结构的钙钛矿太阳能电池,在一个标准太阳光光强和60 ℃条件下连续工作1000小时的后,仍然保有初始效率的90%,而且电池的稳态输出效率通过了国际公认电池评测机构-日本产业技术综合研究所(AIST)光伏技术研究中心的认证。文章信息:Stabilizing heterostructures of soft perovskitesemiconductors(Science,2019,DOI: 10.1126/science.aax8018)文章链接:https://science.sciencemag.org/content/365/6454/687Science:赵一新团队的无机钙钛矿太阳能电池最新研究成果赵一新团队和洛桑联邦理工学院Gr?tzel团队、冲绳理工大学戚亚冰团队提出了裂纹界面工程方法。不同于之前仅能对钙钛矿上表面进行钝化修饰的常规界面工程,裂纹填充界面工程在对β-CsPbI3上表面进行处理的同时,还可利用初始β-CsPbI3薄膜中存在的孔洞、缺陷等进行填充,通过这些微通道使碘化胆碱均匀分布于β-CsPbI3上下表层和内部,可以实现钙钛矿全方位的修饰改性。这些全方位分布的碘化胆碱不但全面钝化了β-CsPbI3层缺陷,而且优化了β-CsPbI3与电荷传输层之间的能级匹配,从而大幅度改善了器件的光伏性能。最终,基于缺陷修复和能级优化后的β-CsPbI3全无机钙钛矿电池获得了>18%光电转换效率,经中国计量院第三方认证的最高效率18.3%,是当前无机钙钛矿太阳能电池的最高值。图4  β-CsPbI3 全无机钙钛矿材料和结构表征图5 裂纹填充界面工程处理后β-CsPbI3全无机钙钛矿文章信息:Thermodynamically stabilized β-CsPbI3–basedperovskite solar cells with efficiencies >18%(Science,2019,DOI: 10.1126/science.aav8680)文章链接:https://science.sciencemag.org/content/365/6453/591这两篇在 Science 发表的研究成果都用到了 TESCAN 双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统的分析结果。TESCAN 公司是全球第一家把飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)和镓离子(Ga+)、氙气等离子(Xe+)双束电镜集成并推向市场的仪器厂商,该集成系统具有明显的优势:测试速度快,一次性可测试整个质量数范围的元素和同位素)成像质量好空间分辨率高,利用 FIB 本身的高分辨,使用质谱的Mapping 分析达到纳米级分辨率了样品制备简单值得一提的是,和常规的EDS/WDS相比,该系统支持从氢元素开始进行检测,检出限可以达到 ppm量级,能进行同位素的检测,因而可以许多解决常规分析仪器无法检测的问题。TESCAN双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统 上海交通大学分析测试中心于2017年和TESCAN建立联合实验室,是国内首家采购了TESCAN 双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统的高校。分测中心充分利用FIB-SEM与TOF-SIMS联用技术氢、锂全元素分析、高空间分辨率、灵敏度检出限和同位素分析等能力,为校内和社会科研提供支撑,已经取得了丰硕的成果,目前仪器已经运行1年半,支持文章发表24篇,累计影响因子达218.9。近几年来,无论在国内和国际上,已有多个课题组采用该项分析技术进行了相关研究,并在多种期刊上发表了高水平文章,相关的研究成果正在不断地涌现。TESCAN 公司将继续致力于能够为更多的科研工作提供更多的应用技术和解决方案。

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2020.01.10

成就客户,为科研保驾护航 | 上交大特种材料研究所“TESCAN 奖学金”颁发仪式!

2019年12月25日,上海交通大学· 特种材料研究所“TESCAN 奖学金”颁奖仪式在上海交通大学特种材料所顺利举行。上海交通大学·特种材料研究所王浩伟教授,TESCAN 中国技术总监焦汇胜先生、华东区销售经理朱晓敏女士出席奖学金颁发仪式,为获得2019年度“TESCAN 奖学金”的优秀博士生、硕士生颁奖。TESCAN奖学金 颁奖仪式现场“上海交通大学· 特种材料研究所—TESCAN 联合实验室”于2017年正式成立以来,获得了傲人的成绩,研制出的新型纳米陶铝材料(在铝里“生长”出陶瓷),比强度和比刚度超过了钛合金。这是具有完全“自主知识产权”的中国原创新材料,且这种新型纳米陶铝合金已突破规模化工程应用的瓶颈,在航天、汽车、先进电子设备领域等得到了充分应用。 自2016年第一台 TESCAN MAIA3 场发射扫描电镜电镜和原位附件安装之后,该设备主要用于陶铝复合材料原位拉伸加热形貌及 EBSD 分析。2019年特种材料所经过细致调研,再次选择 TESCAN LYRA3 双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)。目前,这台设备已经在所内完成安装并投入使用。特种材料所 TESCAN LYRA3 FIB-SEM本次奖项,杨清获得“TESCAN 奖学金”的博士奖,刘应涛获得了“TESCAN 奖学金”的硕士奖,他们利用 TESCAN 的两套电镜和原位附件,在2019年度取得了丰硕的科研成果,在国际和国内期刊上发表了多篇文章。杨清分别在 Materials and Design 上发表“Microstructure evolution of the rapidly solidified alloy powders and composite powders”,Materials Characterization 发表“Microstructure evolution of the TiB2/Al composites fabricated by powder metallurgy during hot extrusion”等多篇高质量文章;刘应涛也在 Materials Characterization 上发表了 “Effect of Mn on the elevated temperature mechanical properties of Al-Lalloys”。王浩伟教授和焦汇胜先生为获奖人员颁奖TESCAN 公司作为全球知名的扫描电镜供应商,将继续积极推动新技术和新应用在国内的发展,提供更优质的技术服务和解决方案,为科研保驾护航!

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2020.01.02

细谈二次电子和背散射电子(四)---总结篇

前三章我们详细介绍和分析了在各种模式下,二次电子和背散射电子以及各种衬度之间的特点,本章节内我们会对这些内容行回顾和总结。前三个章节请参看:细谈二次电子和背散射电子(一)细谈二次电子和背散射电子(二)细谈二次电子和背散射电子(三) 信 号 类 型         二次电子(SE)按照其产生的原理可以分成 SE1、SE2、SE3 和 SE4,但是在实际使用的时候会发现难以对 SE1~SE4 进行严格的区分,因此我们把 SE 分成更加实用、更容易从操作上掌握的低角 SE、高角 SE 和轴向 SE 这三种 SE 信号。        背散射电子(BSE)根据角度不同将其区分为低角 BSE、中角 BSE、高角 BSE;又从对称性的角度分离出非对称的 Topo-BSE;以及从能量的角度分离出Low-Loss BSE 信号,分为了五种 BSE 信号。        以上3种 SE 信号和5种 BSE 信号,加上本章介绍的减速模式下的信号SE+BSE (BDM) ,一共有九种信号。这九种信号往往需要不同的电镜条件,也有不同的衬度特点,各自信号有着独特优势的同时也存在相应的缺点,具体请参见表1。表1信号衬度工作距离分辨率表面敏感度抗荷电能力景深立体感二次电子(SE)低角SE形貌为主均可一般好好好高角SE形貌、电位为主短好好差差轴向SE形貌、电位为主短好很好差差背散射电子(BSE)低角BSE成分、形貌、通道、阴影分析距离差差很好好中角BSE成分、形貌、通道短好一般好一般高角BSE成分、通道短好好好差TopoBSE形貌、阴影较短一般差很好很好Low-  LossBSE成分短好很好好差减速模式下Signal(BDM)形貌、成分很短很好很好好差  衬 度 类 型        前面我们详细了解各个信号在衬度上的特点,那接下来我们反过来思考一下:为了获得各种类型的衬度,或者针对不同的试样和不同的目的,应该如何选择合适的信号进行采集以获得最佳的效果呢?1.   对于不追求超高分辨率的形貌衬度图像,立体感有时显得格外重要。此时,可以优先选择 Topo-BSE 信号来获得极具立体感的衬度;其次可以选择低角 SE 以及低角 BSE 信号。2.   如需获得高分辨的形貌衬度图像,应该优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号,其次可以选择中角 BSE 信号。3.   如需获得非常纯的成分衬度图像,而不希望有其它衬度的干扰,可以优先选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号。4.   如需获得兼有形貌和成分衬度的图像,可以选择低角 BSE、中角 BSE 信号,有时候减速模式下的信号也可以兼有形貌和成分衬度。5.   如需获得非常表面的成分衬度,如表面污染,二维材料等,可以优先选择轴向 SE、高角 SE 信号,其次可以选择 Low-Loss BSE 以及减速模式下的电子信号。6.   如果不想获得非常敏感的形貌,比如抛光质量不够理想的金相试样,想要进一步减弱划痕影响,可以选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号,其次选择中角 BSE 信号。7.   如需获得较深处的成分信号,除了提高加速电压之外,也应该优先选择低角 BSE 和低角 SE 信号。8.   如需获得不同晶粒取向的通道衬度,优先选择立体角最大的低角 BSE 信号。9.   对于很多半导体试样,如果要想获得电位衬度,优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号。10. 如需降低荷电效应影响,优先选择 Topo-BSE 和低角 BSE 信号,其次选择低角 SE 和中角 BSE,而避免高角和轴向 SE 信号。归纳一下,参见下表2。表2场景推荐1推荐2分辨率不高的形貌衬度Topo-BSE低角SE低角BSE分辨率较高的形貌衬度轴向SE、高角SESignal  (BDT)中角BSE无形貌干扰的成分衬度Low-Loss  BSE高角BSE兼有形貌和成分衬度低角BSE中角BSESignal  (BDT)极高的表面敏感度轴向SE高角SELow-Loss  BSE减弱形貌的干扰高角BSELow-Loss  BSE中角BSE深层信息低角BSE低角SE通道衬度低角BSE电位衬度轴向SE高角SE降低荷电Topo-BSE低角BSE低角SE中角BSE̷̷        这里只列举了一些常见的情况,对于不同的试样或者观察目的,我们要根据这些信号的特点进行灵活运用。甚至当只采集一个信号达不到目的时候,要利用探测器信号混合功能来进一步获得更理想的效果。 信号和探测器的选择        电镜观察中存在这么多的信号,那究竟用什么类型的探测器来区分这些信号呢?对于现在大部分场发射电镜来说,四探测器已经成为一个标准化的配置,即样品室一个ETD探测器,一个极靴下方的BSE探测器,镜筒内有两个探测器。样品室的两个探测器基本上差别不大,镜筒内的探测器会根据物镜的类型以及各厂家的一些特殊技术而有所差别。不过论共性而言,镜筒内的两个探测器,普遍一个位置相对较高,一个位置相对较低。        一台电镜根据自身的设计情况以及工作条件,能够分离出九种电子信号中的部分信号。粗略的进行归纳,可以总结为下表3。(不过需要注意的是,虽然有的探测器在表格中显示可以采集多种信号,但是这只是对大部分电镜做的一个归纳。对于一台具体的电镜而言,并不一定能够实现所有功能)。表3信号推荐探测器1推荐探测器2低角SEETD高角SE镜筒内低位探测器镜筒内高位探测器轴向SE镜筒内高位探测器低角BSE样品室BSE探测器中角BSE镜筒内低位探测器高角BSE镜筒内高位探测器Low-Loss  BSE镜筒内能量过滤探测器Topo-BSE特殊优化的ETD非对称样品室BSE探测器 总  结         最后用一首七律对所有章节的内容进行一个总结,希望大家能够对 SE、BSE 信号以及各种衬度之间的关系能够有更深刻的理解,在电镜观察中获得更好的结果。《七律》粉末块体千百状用心制备导电亮半明半暗亮线条积分或能荷电抗二次背散各有用巧用二者图成双高低角度大不同多种模式减速场磁场浸没龙卷降吸汲电子扶摇上电磁静电复合式汇聚角度随能量非是高能分辨强低压窥得俏模样各类衬度分清楚图文相谶好文章元素结构何取向结晶参杂非所长光谱质谱原位解所见所得 All In One上一期答案问题:这是电池隔膜试样的图片,你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗?两张图都是在减速模式下拍摄:左图为低角电子,背散射相对占主要部分,表现出形貌衬度,因为材质均匀,所以没有明显的成分衬度;右图为高角电子,二次电子占主要部分,表现为比较明显的电位衬度和形貌衬度。

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2020.01.02

TESCAN 新型 Micro-CT 落户沙特阿卜杜拉国王科技大学(KAUST)

TESCAN 最新型 Micro-CT --- CoreTOM 近期成功安装于沙特阿拉伯图瓦尔的阿卜杜拉国王科技大学(KAUST)的 ANPERC 研究中心(AliI. Al-Naimi Petroleum Engineering Research Center)。阿卜杜拉国王科技大学(King Abdullah University of Science & Technology),简称 KAUST,建立于2009年,坐落于沙特吉达,是一所专攻理工领域的国际化私立研究型大学,世界百强大学。学校拥有世界顶尖的科研设备和实验室,致力于通过跨学科的研究、教育和创新推进全球科学与技术进步。建校理念借鉴美国加州理工学院的“小而精”模式,目前只面向全球招收硕士、博士研究生,不招收本科生。作为一所年轻的大学,KAUST 已经成为世界上学术研究和论文被引用率增长最快的学术机构之一。据QS世界大学排名——“单位教职的论文引用数”(Citations per faculty)排名报告, KAUST 在2015、2016年连续两年位居世界第一,凸显了 KAUST 在全球科学研究领域的影响力。另根据软科世界大学学术排名(ARWU),2016年 KAUST 在工科领域排名世界第29,理科领域世界排名位于101-150段,2019年综合排名201-300段。从建校至2016年,KAUST 已经在国际期刊累计发表8300篇文章。由于在学术界的异军突起,KAUST 被称为"House of Wisdom"(智慧圣地)和"Arab MIT"(阿拉伯的MIT)。ANPERC 研究中心的主要研究方向是提高油气采收率,并降低油气生产相关的环境和经济成本。能源生产是当今人类面临的最大挑战之一,提升油气采收率是重中之重,世界需要更高效的油气开采解决方案,因此 ANPERC 研究中心致力于流体、气体和材料在储层的流动,以及抑制能源回收的热、水、化学和机械耦合过程的研究,同时培养行业的领军人物,为满足科研需要,ANPERC 研究中心一直在努力搭建科研平台,寻找该领域研究不可或缺的大型设备。这款新型Micro-CT --- TESCAN CoreTOM 就是在这样的科研背景下被引入 ANPERC 的,用于研究地质样品和流体通过非均质多孔介质的流动,可以帮助中心扩大研究范围。研究中心主任 Tadeusz Patzek 博士说:“两年前,我在一次会议上初次接触到 XRE 公司的 Miro-CT(此后的2018年,TESCAN公司收购了XRE),当时就引起了我的关注,尤其是它们设计上的独特性和配置上的灵活性。”为研究中心的实验室配备科学家和学生所使用的仪器进行调研和论证,是一个需要耐心和毅力的漫长过程,“我们最终为此申请到了资金。”为了确保采购的设备能够满足研究中心的使用需求,ANPERC 研究科学家Viswasanthi Chandra 博士负责扫描设备的调研工作。“大约两年半前,当我第一次来到这里时,我意识到研究中心的研究范围正在不断地扩大。我们需要的是一款不仅高效并且灵活的X射线成像设备,而且它必须用途广泛以便我们可以探索更多的未知领域。通常,没有一台设备可以满足所有人的需求,有些研究项目仅需很低的分辨率但是要能够观察大体积的样品;而有的研究项目则需要高分辨率下能够检测极大数量的样品,我们需要是一台能同时完成这两种极端工作的设备。” 于是在2017年夏天,Chandra 博士前往荷兰的根特与 XRE 团队会面。“我必须确保根特大学的一家衍生公司能够处理来自沙特阿拉伯的大笔订单,并且能够提供长期的维护和技术支持。他们建议对仪器的配置进行修改,并为将来的改进预留了空间。该系统可同时进行大尺度和小尺度上成像的能力非常独特,也支持快速和长时间的曝光扫描,以及快速的“ 4D”动态成像。除了用于提高石油采收率的研究,CoreTOM 还可用于地质和地球科学研究,以及与多孔介质中热-水-机械-化学(THMC)工艺相关的众多其他研究应用项目。Chandra 博士介绍,将已有的设备与这台新设备进行比较,就像“小型摩托车和宾利”之间的区别。ANPERC 的学生已经开始使用这台 CT 扫描设备进行各种研究项目,包括Carlos Santamarina 博士的 EGEL 研究小组的成员。TESCAN CoreTOM 在一台设备上集成实现了医疗应用 CT 系统的大视野与科研应用 CT 系统的高分辨成像能力,它可以对长达1米(约3英尺)长的完整岩心进行成像,并对毫米级微塞或钻屑进行实现空间分辨率达3微米的成像。这使得TESCAN CoreTOM 成为从岩心到空隙,进行多尺度成像的理想工具。TESCAN CoreTOM 配备了高功率的微焦点 X 射线源,可实现高通量和快速动态成像,以及时间分辨率优于10秒的完整 3D 采集。TESCAN CoreTOM 外观图

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2019.12.25

TESCAN All-In-One 显微分析综合解决方案亮相2019中国锂电池正极材料技术创新与产业化研讨会

 2019年12月4日-6日在广东省佛山市,2019中国锂电正极材料技术创新与产业化研讨会成功举行。2015年,全球汽车保有量已增至11.2亿辆,其中中国汽车保有量也达1.6亿辆,2018年,我国汽车保有量已突破2亿辆,国内汽车耗油约占整个石油消费量的1/3,而预计到2020年汽车保有量将达2.5亿量,年消耗成品油约4亿吨,汽车耗油约占整个石油消费量的比例将上升到57%。而石油除了作为能源以外,还是炼制多种化学产品的原料,如人造橡胶、润滑材料、塑料、染料、香料、炸药、医药用品、糖精、肥皂、合成纤维、合成洗涤剂等等,已经有5000种以上,影响到我们生活的方方面面。石油是不可再生资源,单纯作为燃料使用太浪费,并且还带来环境污染、温室气体排放等一系列问题。为此全球已达成共识,需要减少交通燃料对石油的依赖,所以近十年来新能源汽车蓬勃发展,其中电动汽车由于技术相对成熟是发展的重点。至2018年,全球新能源乘用车年销量已突破200万辆。随着电动汽车比例的提升,锂离子电池大规模使用的时代已经来临,而这对锂离子电池的性能、成本和安全性提出了更高的要求。正极材料是锂离子电池中的核心关键材料。目前,锂离子电池的能量密度下限取决于正极材料,并且正极材料占锂离子电池成本的30%~40%。因此加快正极材料的研发和改进生产工艺,不仅有利于提高锂离子电池的能量密度,同时还可能显著降低目前遇到的电池成本过高的难题。数据显示,2018年中国正极材料总出货量为27.5万吨、总产值高达535亿元,分别同比增长28.5%和22.7%;其中,三元材料出货量13.68万吨;磷酸铁锂材料出货量5.84万吨;钴酸锂出货量同比增长20%;锰酸锂材料出货量同比增长15%。但是在正极材料出货量高速增长的背后,锂电池行业发展却遇到了前所未有的挑战。首先是上游原材料价格特别是锂、钴价格轮番上涨,让电池企业叫苦不迭;其次受新能源汽车国家补贴退坡和动力电池技术门槛提高的双重影响,中小企业的市场空间压力进一步增大。第三,锂离子电池特别是电动车辆在运行中出现了不少自燃事故,使得动力电池的安全性受到极大关注,影响到消费市场对电动汽车的信心。因此,一方面考虑如何进一步推进我国当今先进电池技术的进步及产业竞争力提升(特别是提高能量密度、提高安全与降低生产成本),另一方面着眼2020年后电动车补贴取消后,如何促进动力电池市场持续发展,便成为锂电行业的关注重点。有鉴于此,会议上国内外正极材料产业链相关的专家学者、工程技术人员等共聚一堂,充分交流、集思广益、相互切磋,以期实质性促进我国正极材料的进一步发展。TESCAN公司携 All-In-One 锂电池显微分析综合解决方案亮相大会,应用部专家张芳女士做了精彩发言,介绍了以扫描电镜为平台,集合SEM、SPM、CL、EDS、TOF-SIMS、EBSD、Raman 等分析手段,对样品同一位置实现综合分析。张芳 女士 精彩报告张芳女士分享了TESCAN All-In-One Solutions分别在锂电池正极、负极的应用,并列举了多个实际案例。最后张芳女士介绍了 TESCAN 公司最新推出的无损动态三维分析方案。

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2019.12.25

扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会成功举办

2019年12月3日,TESCAN公司和上海交通大学分析测试中心联合举办的扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会在热烈的气氛中成功举办,三十多位校内外学者和学生参加了本次交流会。交流会上TESCAN公司顾群经理首先以 《TESCAN All-IN-One 综合显微分析系统简介》为报告主题,介绍了 TESCAN 创新的 ALL IN ONE 设计理念,在此理念下TESCAN在电镜综合分析性能的拓展上已经进行了多项创新,使得在TESCAN电镜平台上同时接入EDS、EBSD、CL、Raman、TOF-SIMS、AFM等多种分析附件以及原位的加热台、拉伸台等成为可能, 成为真正的可以提供二维、三维、四维动态的高分辨形貌观测、成分分析、微量轻元素检测及化学结构解析等集多种分析功能于一体的综合电镜分析平台。All-In-One的理念已经被广大老师认同,用户数量不断增多,国际和国内客户的科研成果也不断涌现。顾群 经理 精彩报告之后,NenoVision公司的Jan Neuman 博士带来了《LiteScope: AFM in SEM Plug-and-play AFM add-on for SEM microscopes》的精彩报告,Jan Neuman 博士首先介绍了 NenoVision 公司,该公司成立于2015年,主要人员来自于捷克共和国的布尔诺理工大学和中欧理工学院(CEITEC)。NenoVision公司专注于特殊类型的原子力显微镜,其知名产品——LiteScope™,很容易安装到扫描电镜中。Jan Neuman 博士在报告中例举了很多各领域的实际应用案例,通过AFM和SEM两者的联用,可以同时充分发挥两种测量技术的优点,大大拓展了样品的分析。NenoVision公司, Jan Neuman 博士 精彩报告新颖的应用引起了与会人员的极大兴趣,会后进行了热烈地交流,不少老师预约了当天下午开始的连续3天的 DEMO 测试。演示使用的是 TESCAN GAIA3  FIB-SEM,仅仅几分钟时间,AFM就快速地安装进入了电镜设备中。演示过程中,TESCAN 和 NenoVision 公司的应用专家们通过和老师的积极交流,现场就获得了极佳的图片和分析数据。上海交通大学 分析测试中心 参观演示

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2019.12.25

邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会”

TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能,构建 All-IN-One 综合显微分析系统。目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱,可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征;而在双束平台上,TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS,很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题,另外在深度方向也有纳米级的分辨率,也很好的解决了纳米膜层的分析。虽然扫描电镜系统在水平方向上已经达到了非常高的水准,但是在Z方向的具体定量上,依然是一片空白。所以 TESCAN 再次在扫描电镜系统中推出 SEM 和AFM 的联用,可以在电镜观察到的区域,同时进行AFM的扫描,将扫描电镜的形貌或者BSE的成分信息,和AFM的高度信息同时相结合,进一步完善和丰富微区显微信息。由于 AFM 的高度信息的引入,还可以将AFM和TOF-SIMS的深度信息相结合,以达到对 TOF-SIMS 深度方向定量化的目的。另外也可以通过深度方向对材料的溅射率进行定量,对 FIB 的加工准确度也有很大的提高。通过选择不同的 AFM 针尖,不仅仅可以获得Z方向的高度信息,还可对微区的力学性能、电学性能或者化学性能进行表征,再结合扫描电镜本身已经集成的强大分析系统,使得 All-In-One 的理念进一步完善。2019年12月3日,TESCAN 联合上海交通大学分析测试中心,在上海交通大学闵行校区唐仲英楼 C100会议室,举办“扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会”,欢迎您的莅临。日程安排: 9:30 ~ 10:00    TESCAN All-IN-One 综合微分析                        系统简介      演讲人:顾群10:00~ 11:30   扫描电镜-原子力联用技术及应用      演讲人:Dr Jan Neuman11:30~13:30    午餐13:30~16:30    演示 

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2019.11.26

【喜报】东北首台“ALL IN ONE” 综合微分析系统落户吉林大学电镜中心

     “工欲善其事,必先利其器。”,2019年东北首台TESCAN “All In One”系统落户在美丽的吉林大学,成为吉林大学电子显微镜中心不可或缺的“科研利器”,必将成为吉林大学的科研提供强有力的支持。              该系统包括,TESCAN FIB-SEM 系统并联合TESCAN独有的共聚焦拉曼(Raman)联用系统,同时安装了阴极荧光探测器(CL),以及第三方提供的EDX分析仪器,后续可升级加载飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)联用系统,本次系统构建了一套功能强大、高分辨、高灵敏度的微纳加工及微观综合分析系统。该套系统可覆盖材料科学,化学,生命科学,地球科学,仿生科学等科研领域,为以上领域提供复杂的微纳米操作和分析,并保证极佳的精度和操作灵活性,是优秀的微观分析平台。吉林大学电镜中心专家学者与TESCAN技术团队,及沈阳元杰光学技术有限公司销售团队合影留念目前电子显微镜的分辨率技术已经达到极致,现阶段电子显微镜的技术重点是能够提供更广泛分析平台,覆盖更多领域并提供有利证据。TESCAN一直遵循的是“ALL IN ONE”微区综合表征的设计理念,即在一套系统中集微观形貌、元素分析、取向分析、结构分析、分子组成、结晶及应力等多种信息表征为一体,让用户能够充分体验TESCAN设备在微区综合分析能力上的强大优势。值得一提的是,正是由于“ALL IN ONE”的设计理念,TESCAN产品可以在后期根据用户的需要,非常方便的加配原子力显微镜、EBL、EBIC、CL、原位加热台、冷台及拉伸台等,各种探测器和拓展的分析附件,为科研拓展新的思路和可能性!TESCAN独有的综合解决方案在市场上被推广后,迅速地受到广大客户的认可和欢迎,充分证明了当今微区综合分析的重要性以及TESCAN在这一领域的优势。TESCAN公司将继续不断地进行科技创新,重视客户的所想所需,致力于为客户提供更专业的技术支持和售后服务!

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2019.11.22

细谈二次电子和背散射电子(三)

前两个章节我们详细分析了二次电子SE和背散射电子BSE,并对这两者进行了更细致的分类,对它们产生的原因和衬度及其它特点也做了详细的说明。相信读者对这些不同的信号已经有了全新的认识。这一章节我们就要把这些不同类别的电子信号再进行一个回顾和总结。我们将常规定义的SE信号分成了低角SE、高角SE和轴向SE三个类别;又将BSE信号划分为低角BSE、中角BSE、高角BSE、Topo-BSE和Low-Loss BSE等五个类别。在这里我们再介绍一种信号,就是样品台减速模式下的电子信号。前两个章节请参看:细谈二次电子和背散射电子(一)细谈二次电子和背散射电子(二)减速模式下的信号现在很多扫描电镜都追求低电压下的分辨率,而样品台减速技术则是一个行之有效的手段。电子束依然保持高电压,在试样台上加载一个负电位,电子在出极靴后受到负电位的作用而不断减速,最终以低能状态着落在样品表面。这样既保持了高电压的分辨率,又因为低着落电压而有很高的表面灵敏度。图1  样品台的负电位对原始电子束起减速作用样品台减速技术各个厂家叫法不一样,有的叫电子束减速技术,有的称为柔光技术。这里我们统一称为BDM (Beam Decelerate Mode)技术。在BDM技术下,产生的电子信号和正常模式会变得有所不同。图2  样品台的负电位对产生的 SE 和 BSE 起加速作用样品台的负电位对于原始电子来说起减速作用,但是对于产生的 SE 和 BSE 来说,却是起到加速作用。SE 和 BSE 受到电场加速后,都会变成高能量电子,而且出射角度都有增大的趋势。二次电子因为能量小,所以受到电场的作用较大,各个方向的 SE 都会被电场推到相对较高的角度;而背散射电子虽然也会被电场往上方推,不过因为能量相对较高,所以出射角增大的衬度不如 SE 明显,低角 BSE 变成中角 BSE、中角 BSE 变成高角 BSE。        受到样品台减速电场作用的结果就是 SE 趋向于集中在高角附近,而 BSE 的分布范围相对 SE 要广泛一些,不过相对不使用减速模式时角度要有所偏高。图3  减速模式下 SE 和 BSE 的出射角度示意图减速模式下的衬度此时,虽然 SE 和 BSE 虽然产生的原因以及携带的衬度不同,但因为样品台的负电位的作用,能量、出射角度都比较接近,因此从探测的角度来说难以完全区分。因此在 BDM模式下,接收到的电子信号基本都是 SE 和 BSE 的混合信号,兼有形貌和成分衬度。如图4,在减速模式下,无论是硫酸盐上的细胞,还是贝壳内壁,一个探测器获得的图像都可以表现出明显的形貌和成分衬度。        图4    硫酸盐上的细胞(左图) 贝壳(右图)不过虽然都是SE和BSE的混合信号,不同角度探测器的实际效果也有一定的差异。越处于高角的探测器接收到的信号中相对SE所占比例较多,有着更多SE信号的特点,如形貌衬度比重更高;反之越是低位探测器接收到的BSE信号相对较多,表现在衬度上有着更多BSE信号的特点,如图5。  图5   减速模式下较高位探测器(左)和较低位探测器(右)的衬度对比                             以往为了同时对比形貌和成分衬度,往往需要 SE 和 BSE 同时进行拍摄,通过SE 和 BSE 图像进行对比,以判断试样中的形貌和成分的对应信息;或者利用探测器信号混合,将 SE 和 BSE 的形貌衬度和成分衬度叠加在一张图像上,如图6。图6. 常规模式下的SE(左)、BSE(中)图像,以及将两者混合的图像SE+BSE(右)        而减速模式下获得的图像衬度比常规模式更加复杂,也正因为如此,减速模式的图像往往蕴含了更为丰富的信息。所以,减速模式除了可以提升低电压下的分辨率外,衬度的多样性也是一个重要特点。如图5和图6的对比,在相同的着落电压下,减速模式下仅需要一个探测器就可获得常规模式SE+BSE混合的效果。        另外,对于减速模式来说,并不一定非要在低着落电压下才能使用。有时候为了同时获得SE和BSE的混合信号,同时在一张图像上获取形貌和成分衬度,在其它电压下也均可使用减速模式。如下图金相试样,在10kV的BSE下只有成分衬度;而在13kV- 3kV的减速模式下,则增加了很多形貌信息。图7  金相试样在10kV下的BSE图像(左),和13-3kV减速模式下的混合衬度(右)        不过有一点要特别注意,那就是减速模式下虽然也有成分衬度,但是并不意味着图像越亮的地方平均原子序数越高,这一点和常规模式下的BSE图像不同。越亮的地方只能说是SE+BSE混合后的产额越多,受到多种衬度的影响,而不仅仅是成分的作用。如图8,从左边BSE图像上看,金字塔状的晶体材料是原子序数低于基底的,而在最右边的减速模式下,金字塔状晶体和基底虽然也表现出成分差异,但是晶体却显得更亮。图8   晶体材料在常规模式下的BSE像(左)、SE像(中),以及减速模式下的图像(右)减速模式的总结根据我们前两章介绍的SE和BSE的衬度和特点,我们也很容易总结出在BDM模式下不同位置探测器接收到的信号以及衬度特点,如下表。高位低位SE占比较多较少高角BSE占比较多较少低角BSE占比较少较多分辨率高低表面敏感度高低立体感低高抗荷电弱强成分衬度弱强形貌衬度强更强电位衬度强弱         在减速模式下各个探测器获得的都是 SE 和 BSE 混合的信号,所以都表现出综合衬度的特点。不过相对来说较高位探测器的高角BSE和SE占比较高,因此对表面的敏感度更高、分辨率也更好,不过相对立体感较差,也更容易受到荷电的影响;而较低位探测器的SE占比较少,中低角BSE占比较多,表面敏感度和分辨率都有所下降,不过立体感和抗荷电能力则更好。        因此减速模式下究竟使用哪个探测器,需要根据样品的实际情况以及关心的问题来进行选择,而不要始终用仪器默认的探测器。减速模式对操作者有较高的要求,除了要学会掌握操作技巧外,也需要对图像的综合衬度进行解读和分离。按照惯例,今天还有一个小问题,答案将在下一期公布噢!文末小问题:这是电池隔膜试样的图片,你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗?上一期答案问题:以下是不同类型背散射电子图片,你能说出分别是由哪种BSE成像吗?        01     答案:   中角、低角、高角02   答案:低角、高角、中角03    答案:低角、高角、中角

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2019.11.22

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