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当前位置： 泰思肯 > 最新动态 > 邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会”

邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会”

泰思肯

2019/11/26 16:53

阅读：319

分享：

TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能，构建 All-IN-One 综合显微分析系统。

目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱，可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征；而在双束平台上，TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS，很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题，另外在深度方向也有纳米级的分辨率，也很好的解决了纳米膜层的分析。




虽然扫描电镜系统在水平方向上已经达到了非常高的水准，但是在Z方向的具体定量上，依然是一片空白。所以 TESCAN 再次在扫描电镜系统中推出 SEM 和AFM 的联用，可以在电镜观察到的区域，同时进行AFM的扫描，将扫描电镜的形貌或者BSE的成分信息，和AFM的高度信息同时相结合，进一步完善和丰富微区显微信息。由于 AFM 的高度信息的引入，还可以将AFM和TOF-SIMS的深度信息相结合，以达到对 TOF-SIMS 深度方向定量化的目的。另外也可以通过深度方向对材料的溅射率进行定量，对 FIB 的加工准确度也有很大的提高。
通过选择不同的 AFM 针尖，不仅仅可以获得Z方向的高度信息，还可对微区的力学性能、电学性能或者化学性能进行表征，再结合扫描电镜本身已经集成的强大分析系统，使得 All-In-One 的理念进一步完善。
2019年12月3日，TESCAN 联合上海交通大学分析测试中心，在上海交通大学闵行校区唐仲英楼 C100会议室，举办“扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会”，欢迎您的莅临。


日程安排：

 

9:30 ~ 10:00    TESCAN All-IN-One 综合微分析

                        系统简介

      演讲人：顾群

10:00~ 11:30   扫描电镜-原子力联用技术及应用

      演讲人：Dr Jan Neuman

11:30~13:30    午餐

13:30~16:30    演示

 

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