普林斯顿应用研究推出新一代微区电化学测试系统–VersaSCAN

2012年1月31日，普林斯顿应用研究宣布推出新一代微区电化学测试系统–VersaSCAN微区电化学扫描系统。

VersaSCAN提供了更高的平面和空间分辨率，无论是对于电化学还是材料为基础的测试，都是新一代扫描探针技术的呈现。

1. 在一个可扩展的平台上，提供多达6种的微区电化学测试技术，

• Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜
• Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
• Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET, SVP) 扫描振动电极测试
• Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
• Scanning Droplet System (SDS) 扫描电解液微滴测试
• Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式微区形貌测试

2. 高精度的样品定位平台，分辨率达50nm; 样品测试区域可达100mm.

3. 建立在普林斯顿50年电化学工作站研发和生产经验上的集成产品，提供更卓越的电流及电位测试信噪比以及阻抗测试能力。

4. 多功能软件可以实现多个微区测试的功能，操作简便，数据处理及展现功能强大。

5. 专业的产品应用与技术服务队伍，提供全方位的售后支持。