徕卡硬度计－国内部分客户（1）

北京德华技术资料一览

资料上传日期：2009-10-20 产品资料： http://oecsh.cn/oecsh/products_root.html 型号： VMHT系列 产地：德国UHL公司 VMH-I04 全自动型 （代表型号） 测量模式：维氏或努氏 测试力度：1-5-10-15-25-50-100-200-300-500-1000-2000(p)/(gf) 测量物镜：10X，50X标配；100X可选 测量精度：0.01um ； 测力设置：测量分析软件控制，自动分析测量结果 * 德国UHL硬度计型号参数表： （参考价格 2万— 5万 欧元）

原子力显微镜－AFM原理参数

原子力显微镜 (AFM)通过一个微小尺寸 悬臂上的精密尖头对样品进行表面扫描 尖头和样品表面 原子间的 相互作用力会使 悬臂位置发生轻微偏离，接着 被 压阻 元件探测到该变化，从而被测量 ，基于 这个影响， AFM 可以高分辨率地 测量 表面形貌及粗糙度，属于无损测量 AFM 可以使用不同的操作模式，因此可 以用来研究更多的性能, 比如样品的静电 力、磁力或者弹力。 微型工业技术的质量保证 纳米 亚纳米级 粗糙度测量 硅片及光学器件表面测量 range 生物标本表面特征 纳米结构测量 医学样品表面特征研究medical samples, e.g. protheses, catheters or stents 应用于材料科学中检测橡皮圈, 磁性工件等

白光干涉仪－WLI

白光干涉仪器的测量原理及参数说明。 可以测量 高度反光、高吸光、粗糙型表面 -reflective as well as light absorbing and rough 也可以用来测量透明薄膜的厚度. 纳米级 粗糙度 测量 － 光学零件如镜片镜头 研究样品微观结构(如 MEMS,微型光学 微流体等）-microfluidics,microoptics 半导体工业 台阶高度的测量 各种材料的测量分析 (如金属,半导体,玻璃 塑料件,纸张, 油漆和涂层-coatings) 可以测量液态样品 on liquids

三维轮廓仪形貌测量实例

北京德华公司提供的三维轮廓仪技术参数 测量实例如附件，可点击下载； 更多资料请浏览公司网站