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原子力显微镜-AFM原理参数

2009-04-27 21:40

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资料摘要:

原子力显微镜 (AFM)通过一个微小尺寸 悬臂上的精密尖头对样品进行表面扫描 尖头和样品表面 原子间的 相互作用力会使 悬臂位置发生轻微偏离,接着 被 压阻 元件探测到该变化,从而被测量 ,基于 这个影响, AFM 可以高分辨率地 测量 表面形貌及粗糙度,属于无损测量 AFM 可以使用不同的操作模式,因此可 以用来研究更多的性能, 比如样品的静电 力、磁力或者弹力。 微型工业技术的质量保证 纳米 亚纳米级 粗糙度测量 硅片及光学器件表面测量 range 生物标本表面特征 纳米结构测量 医学样品表面特征研究medical samples, e.g. protheses, catheters or stents 应用于材料科学中检测橡皮圈, 磁性工件等

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