上海伯东美国 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试

上海伯东美国 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; inTEST 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件; 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程机联用.

inTEST ATS-545 电源管理芯片高低温冲击测试: 上海伯东客户某生产电源芯片企业, 下图为实际的被测电源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通电的情况下进行温度测试. 要求测试温度范围﹣60℃～150℃, 进行12组不同形式的循环温度设定.

inTEST ATS-710 电源管理芯片高低温冲击测试:上海伯东客户某研发电源管理芯片公司, 芯片测试温度范围要求 -40 至 80度,在电测试时, 同时搭配测试仪, 设定不同的温度数值, 检查不同温度下电源芯片各项功能是否正常. 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题.

inTEST ATS-535 电源管理芯片高低温冲击测试: 上海伯东客户南京某公司, 因场地受限, 无法使用空压机, 最终选用 ATS-535 全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机进行测试.


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