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伯东 inTEST 高低温测试机用于半导体功率模块测试
Thermal plate solution (Room temperature to +250℃）
半导体功率模块需要在各种苛刻和极端的环境条件下使用, 例如: 火车、汽车、发电机等. 在这些应用中, 可靠和安全的稳健设计至关重要.
因此功率器件最初的关键设计必须考虑最高工作温度, 一旦知道这一点, 就可以明确不同的应用要求, 使之在预期的工作温度和条件下运行.
IGBT模块的温度测试应用
inTEST Thermal Platform（热板）测试方案, 非常适用于大型功率器件, 例如IGBT模块, 其测试治具有平整接触面, 测试方法既快速又简单, 能够非常方便的搭配功率器件分析仪（如Keysight B1506A）支持自动温度测试(可测室温至+250°C).
inTEST高低温测试机应用于功率器件的测试过程:
使用inTEST高低温测试机搭配功率器件分析仪, 整个测试过程使用非常简单, 具体测试步骤如下:
1.将待测功率器件固定在Thermal Plate测试治具上.
2.选择 IGBT 测试模板, 按照测试要求设置测试条件;
3.设置测试曲线的显示范围;
4.选择需要测试的参数;
5.点击执行测试.
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空泵, 检漏仪, 质谱仪, 真空计, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商.
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