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第十三届BCEIA-北分天普参展圆满成功

北京北分天普

2009/12/03 16:46

阅读:811

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       北京分析测试学术报告会及展览会,是由中国分析测试协会主办,中华人民共和国科学技术部批准的专业性的分析测试仪器展览会,每两年举办一次,已经举办了二十多年,在国内外享有较高的声誉。
       第十三届北京分析测试学术报告会及展览会,于2009年11月25日至28日在北京展览馆举办。展览场地面积近1.5万平方米,我公司在这次展会中成功的展出自主研发的新产品(TP—2060硫分析仪、TP—5000热解吸仪、 TP—6000自动顶空进样器、 TP—8000气相色谱仪、 TP—5100热解吸仪 、TP—6100自动顶空进样器及多种气源发生器等)受世界各地专业人士关注与好评,以下是我公司新品展示及技术工程师讲解现场,具体情况如下:

 

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