比表面积分析仪测试原理

金属检测技术的局限性之一是对于像电线和大头针这样相对比较小的、长条形金属异物就很难检测出来。这些类型的污染物通常表现出“方向效应”，即金属探测器所检测到的信号很大程度上取决于污染物与探测孔的方向关系。方向效应给金属检测系统带来了挑战——这一挑战乍一看并不是那么严重，但事实上它可能会给消费者的安全以及品牌声誉带来严重的影响和危害。

智能设备的功能日益多元化，如人脸识别、测距、AR功能等。其中，相机在追求高分辨的 同时，还要求外形小巧、高倍率变焦。 本资料中的数据为测试示例，不代表真实数据，仅供参考。 注意：产品升级后，上述仪器的外观或技术参数可能会有变化。 图2 潜望镜式镜头的示例 通过搭载潜望镜式镜头，可以实现相机的小巧与高倍率变焦。传统相机镜头与智能设备垂直 放置。潜望镜式镜头平行于智能设备安装，从而实现设备的超薄化。此外，变焦倍率越高， 焦距越长，因此，需要一定的纵深空间安放镜头。传统镜头由于是垂直放置，增加焦距则需增加设备厚度，而潜望镜式镜头通过棱镜改变光路方向，将焦距所需要的厚度转化为与智能设备平行的长度，同时实现了超薄化与高倍率变焦。 此次实验，在日立紫外可见近红外分光光度计UH4150上加装微小棱镜测定附件，并使用专用支架※1，测定潜望镜式镜头中的棱镜。

组成电子产品的各种材料，如芯片，屏幕，电路板等电子器件，都需要严格的测试，从而保证电子产品的安全和性能。随着产品的不断进步，消费者的要求不断提升，电子产品的检测需求也随之越来越高，检测项目越来越多。 赛默飞分子光谱产品在电子行业有丰富的应用方案，多年来我们和客户一起应对各种高要求的测试需求，并期待和更多的朋友一起努力，助力我国电子行业持续快速发展。

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