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助力半导体检测，赛默飞将发布全新Helios 6 HD 双束电镜和Metrios 6透射电镜
“赛默飞材料与结构分析中国”公众号显示，赛默飞将于11月23日发布全新Helios 6 HD 双束电镜和Metrios 6透射电镜。
公众号截图
据了解，Helios 6 HD 双束电镜（FIB-SEM）利用新型数字偏转装置实现快速、精确的终点监控；采用浸没式FIB提高精准终点控制能力，提高样品制备的可重复性；搭载最新的AutoTEM 6提升了TEM样品制备产能、效率和易用性；配套新型设计的EasyLift纳米机械手提高了样品制备的可用性和效率。Helios 6 HD 双束电镜可以为用户带来更高效的TEM样品制备工作流，更卓越的TEM样品质量、更优秀的产能，更一致的产出，解决各种TEM样品制备挑战。
Metrios 6(S) TEM是新一代全自动计量解决方案，可提高生产率和数据质量，用于大容量TEM计量。Metrios 6(S)TEM具有新设计的基于硬件和机器学习的功能，与上一代解决方案相比，生产率平均提高了20%。Metrios 6(S) TEM包括新的Smart Stage、Ultra-X EDS探测器、高亮度X-CFEG源选项和Smart Automation软件。这种组合通过数据完整性、快速元素分析和无配方自动化提高了生产力，实现了可扩展的实验室操作和资源优化。
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