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日本电子发布新一代高灵敏度多通道STEM检测器“4DCanvas”
2017年7月，日本电子发布新的STEM(扫描透射电子显微镜)探测器“4DCanvas”。
作为一种新颖的新型探测器，“4DCanvas”可以记录所有传输、衍射和散射电子的位置和强度，作为STEM图像的每个像素的二维(2D)图案。
该像素化检测器的传感器是具有264×264像素的直接电子检测CCD。换句话说,这是一款高灵敏度的多通道检测器。该检测器的记录数据为4维(4D)，其轴为STEM像素位置的x和y，检测器像素位置为u&v。
预计未来“4DCanvas”的潜在应用会增加，“4DCanvas”的研发将为电子显微镜的用户提供一个平台，就像在画布上自由绘制地图一样。
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