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当前位置： 日本电子 > 最新动态 > JEOL在IMC18发布创纪录的透射电镜分辨率

JEOL在IMC18发布创纪录的透射电镜分辨率

日本电子

2014/09/12 04:38

阅读：802

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       第18届世界电镜大会2014年9月7日至12日在捷克首都布拉格隆重召开，来自全世界的电镜学者及相关人士近五千人参加了此次盛会。日本电子株式会社（JEOL）在会议上公布了使用JEM-ARM300F所获得的45pm(皮米）的分辨率，再破世界纪录。 

       球差校正技术的成熟近年来极大的推进了透射电镜的发展，分辨率迅速提高，使人类向微观世界的探索能力大大增强。JEM-ARM300F采用JEOL最新设计的12级球差校正器，将分辨率提高到一个前所未有的高度，同时其卓越的分析能力、超高的稳定性和可操作性必将使其成为透射电镜领域的明星。

 

     

 

 

 

 

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