核心参数
仪器种类: 场发射
分辨率: 0.19nm(点分辨率)
加速电压: 200kV
放大倍率: ×100 to 1,500,000
仪器简介:
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。
JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。
SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。
技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm
主要特点:
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。
6.最新升级型号为JEM-F200,可全自动进出样品杆,智能操作smart
用户单位
采购时间
采购数量
中国科学院理化研究所
2008/10/15
1
中国科学院大连化物所
2013/05/06
1
中科院宁波材料技术与工程研究所
2012/09/01
1
中国科学院物理研究所
2012/04/02
1
中国科学院生态所
2011/11/01
1
中国科学院山西煤化所
2011/08/01
1
中国科学院化学研究所
2011/12/25
2
吉林大学
2011/06/02
3
上海交通大学
2009/05/06
1
西安交通大学
2010/09/30
3
中国科学院金属研究所
2010/04/01
1
北京大学化学学院
2008/01/15
1
企业名称
捷欧路(北京)科贸有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
11000450123098
成立日期
2010-01-05
注册资本
500
经营范围
捷欧路(北京)科贸有限公司
公司地址
北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦南二层
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