2021/11/17 10:02
阅读:883
分享:方案摘要:
产品配置单:
钢研纳克全谱电感耦合等离子光谱仪Plasma 2000
型号: Plasma 2000
产地: 江苏
品牌: 钢研纳克
¥50万 - 70万
参考报价
联系电话
方案详情:
前言
著名地质学家李四光先生曾经说过:“地质、钻探、化验鼎足而立,三分天下有其一”,精确的阐明了分析
工作的作用和地位。多金属矿属于有色金属矿石的一种,主要以铜、铅、锌、银有色金属矿床为主,伴生有
其他金属矿物的多金属矿床。多金属矿中各元素的成分检测有助于金属矿的矿产勘查、开发、选冶及商检成
份测试和质量监控。
ICP-OES作为一种快速定量分析的手段,其分析速度快,具有较低的检出限,并且精密度良好,动态范围宽。本文研究了使用国产全谱电感耦合等离子体发射光谱仪(Plasma 2000)测定多金属矿中钙、镁、钾、钠、铝元素的方法,取得了满意结果。
样品制备与前处理
称取适量试样于聚四氟乙烯烧杯中,加入适量王水,低温加热溶解,冷却后转移至100ml容量瓶中,定容摇匀,待测。
同时对标准物质GBW07163(GSO-2)进行制备、处理并测定。
仪器工作条件及待测元素谱线选择
表1 Plasma 2000工作条件
项目 | 参数 |
功率W | 1250 |
载气流量L/min | 0.60 |
辅助气流量L/min | 0.50 |
冷却气流量L/min | 13.50 |
蠕动泵转速rpm | 20 |
曝光时间S | 8 |
雾化器 | 玻璃同心雾化器 |
雾室 | 旋流雾室 |
在测定中,遵循低含量元素用灵敏线,高含量元素次灵敏线的原则,从基体干扰和背景校正两方面考虑选出各元素的最佳测定谱线。
表2 待测元素谱线选择
结果与讨论
1、部分待测元素谱图和工作曲线
2、测试结果
表3 测试结果
样品 | 分析元素 | 认定值(%) | 样品测定值(%) |
GBW07163(GSO-2) | 氧化铝 | 11.2±0.3 | 11.05 |
氧化钙 | 4.7±0.2 | 4.5 | |
氧化镁 | 1.39±0.07 | 1.32 | |
氧化钾 | 3.1±0.3 | 2.9 | |
氧化钠 | 0.24±0.04 | 0.28 |
结论
采用纳克公司生产的Plasma 2000 型全谱ICP光谱仪测定多金属矿中钾、钠、钙、镁和铝等元素,通过对标准物质的测定,测定值与认证值吻合,满足样品测试要求,并可同时完成多种元素的测定,适用于各级检验机构进行多批次、多项目产品的元素检测。
下载本篇解决方案:
更多
PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪测定高纯铜中14种杂质元素
钢研纳克采用PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪,建立了纯铜杂质元素检测方案。该方案选用基体匹配和内标校正法克服纯铜基体效应,通过碰撞池来消除多原子离子干扰,建立起对纯铜中Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Zn、As、Se、Ag、Cd、Sn、Sb、Pb、Bi等14种元素的检测分析方法。
钢铁/金属
2024/05/20
用高频红外吸收法测定锂电池铝箔中碳的含量
钢研纳克使用高频红外法对铝箔中的碳进行了测定。对称样量、助熔剂、工作曲线等做了实验。最后得出高频红外的最佳实验条件是0.1g铝箔+1.5g钨粒,测定结果满足客户需求。
能源/新能源
2024/04/10
Plasma 2000型电感耦合等离子体发射光谱仪测试地沟油中的元素含量
地沟油中重金属含量测定法通常有AFS、GF-AAS、ICP等方法, ICP法测定沟油中的元素优势在于ICP线性动态范围宽,适合批量产品多元素同时分析。因此本文选用钢研纳克Plasma 2000型电感耦合等离子体发射光谱仪,配置了有机进样系统,采用中阶梯光栅光学结构和科研级CCD检测器实现全谱采集。仪器稳定性好、检测限低、快速分析、运行成本低。
食品/农产品
2024/04/10
SparkCCD 7000火花直读光谱仪测试铜带中的元素含量
火花源原子发射光谱分析法能够准确快速的测定材料的成分含量,实现多元素含量的同时定量分析。但使用火花光谱分析薄带样品时,分析面厚度需大于0.25mm。本文采用钢研纳克SparkCCD 7000型全谱火花直读光谱仪可以对厚度为0.1mm的铜带样品进行分析。
钢铁/金属
2024/04/09