Uniscan M370微区扫描电化学工作站（停产，升级为M470）

M370扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念，以超高分辨率，非接触式，空间分析电化学测量的特点而设计。

M370是一个模块化的系统，可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：

- 扫描电化学显微镜(SECM)
- 扫描振动电极测试(SVET)
- 扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP)
- 微区电化学阻抗测试(LEIS)
- 扫描电解液微滴测试(SDS)
- 非触式微区形貌测试(OSP)
 

M370利用纳米级分辨率的快速精确，闭环x,y,z定位系统，并连同一个便捷的数据采集系统使用户依据自己的实验选择配置。此系统设计灵活且人体工程学设计方便确保池体，样品和探针的进入。
 

1.扫描电化学显微镜系统SECM370

SECM370是一款精密的扫描微电极系统，具有极高空间分辨率，在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测，分析，或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。

2.扫描卡尔文探针测试系统SKP370

扫描卡尔文探针系统SKP370，是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电，涂膜，或半导体材料，与样品探针之间的功函差。这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压测量样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。功函和表面状况相关。SKP的独特性质使在潮湿环境甚至是气态环境中也可以测量，将不可能研究变为现实。

3.扫描振动电极测试系统SVP370

SVP370(SVET)扫描振动电极技术是一种非破坏性扫描，利用振动探针，测量电化学化学样品表面产生的电特性。确保用户可以实时测定和定量局部电化学反应以及腐蚀。

4.微区电化学阻抗测试系统LEIS370

微区电化学阻抗测试系统结合了电化学阻抗EIS技术和微区扫描技术，可以精确的测试局部微区的阻抗以及相应参数。

应用 * 薄膜阻抗复杂成像 * 池生长介质直接成像 * 光点化合反应特征化 * 电池 * 传感器 * 金属以及合金的钝化 * 燃料池 * 腐蚀

5.电解液微滴扫描系统SDS370

电解液微滴系统可以限定液体与样品的接触面，从而对于液滴与样品直接接触面内的电化学和腐蚀反应进行测量。这样就可以在空间分辨率上提供电化学活性，并使其限定在样品特定量化表面。

应用 * 表征表面氧化物 * 涂层研究 * ISFET特征化 * 点腐蚀 * 流速对局部腐蚀的影响

 6.非触式微区形貌测试系统OSP370

使用非接触式激光位移传感器，OSP370模块可快速准确地对非触表面进行高精度测量。在不接触样品表面的情况下，它可以在10mm的高度范围内提供小于1微米高度分辨率的3D表面特写影像。

配件

各种可选配件，包括各种可选探针，可选池体(Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM)，长工作距离光学视频显微镜(VCAM2)和3D表面阴影渲染软件(3DlsoPlotTM)。能配置到一个特定的应用程序并升级，使M370独特灵活，同时保持顶端的性能。