【Horiba JY】电感耦合等离子体发射光谱仪ULTIMA 2

ULTIMA 2-高生产率和高性能ICP光谱仪的代表

● 光谱仪：
Czerny-Turner单色仪，焦距1米 
● 光栅：
2400刻线 / mm （一级、二级光谱）离子刻蚀闪耀全息光栅（标准配置）
可以选择4320刻线 / mm或4320刻线 / mm+2400刻线 / mm（一级光谱） 
● 光谱覆盖范围：
160~800 nm（标准配置）
VUV选件可扩展至120 nm 
● 实际分辨率：
0.005 nm（160~320 nm，二级光谱）
0.010 nm（320~800 nm，一级光谱）
0.006 nm（160-450 nm，4320刻线 / mm光栅） 
● 分辨率可程序控制：
由计算机自动改变入/出射狭缝宽度。不同分析元素可有不同的分辨率
样品引入装置：(标准配置)
玻璃同心雾化器，旋流雾室
护套气装置，可分析高盐（30%NaCl）样品 
● ICP光源：
径向观测（侧视）等离子体
RF发生器：固体电路，40.68MHz，晶体控制；
功率：800~1550W 可调
计算机控制功率、等离子气和护套气流量、蠕动泵转数、自动点火、熄火、并可由程序控制预点火、熄火时间、同时设有安全联锁 
● 炬管：
可拆卸卡式结构，极易清洗和维护，中心管（样品注入管）直径3 mm 
● 检测系统：
HDD高动态检测器（专利），动态范围达5 x 1010
HDD于Rapid Chip 电路及Win-IMAGE 软件结合可 在115秒内采集160~800 nm的全部光谱 
● 软件系统：
Analys软件，智能化多功能；Analyst Wizard专家系统与丰富的谱线及标准样品数据库
Win-IMAGE全谱快速采集、定性、半定量、自动建立分析方法

● 单一径向观测就具有当今世界ICP光谱仪的最低检出限（无需采用轴向
观测来降低检出限而导致基体干扰严重，也避免了径向-轴向双向观测
ICP仪器结构复杂的弊病）。
● 160-800nm连续波长覆盖（标准配置），仅用一、二级光谱，光效率高，
不存在多谱级光学系统中谱级之间有光谱暗区的问题；选购特殊光学元
件可将光谱范围扩展至120nm的远紫外区，可选用更灵敏的谱线分析卤族
元素或其它元素。
● 具有无以匹比的极高光谱分辨率，达5pm（0.005nm），从而使光谱干扰最
少；对于基体元素光谱十分复杂的样品分析 (例如贵金属、稀土、地质
等类样品），其优势更是目前任何其它ICP光谱仪所不能比拟的。
● JY专利HDD®高动态检测器可在同一次分析中测定从亚ppb级至
百分含量的不同组分。
● 利用Win-IMAGE全谱快速采集功能，动态范围达10个数量级。
● 组装式炬管，安装、拆卸十分便捷，无需重做对准。
● 独特的护套气装置可连续分析盐分达30%的溶液，大大提高了长时间进样的稳定性。