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聚光科技（杭州）股份有限公司
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解决方案
吉天仪器Kylin S1原子荧光光谱法同时测定矿石中砷、锑和汞的含量
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
砷、锑和汞含量原子荧光（AFS）是中国具有自主知识产权的分析仪器，广泛应用于环境监测，食品安全，地质矿产等领域，具有灵敏度高、线性范围宽、光谱干扰及化学干扰少、仪器结构简单、成本低等优点。可以发生氢化反应的元素，在酸性介质中，硼氢化钾（硼氢化钠）生成的新生态氢，作为还原剂，发生氢化反应，生产氢化物（汞为汞蒸气），通过氩气将氢化物（汞蒸气）导入原子化器中，在氢火焰中发生原子化，被测元素空心阴极灯作为激发光源，被测元素原子受光辐射激发产生电子跃迁，当激发态的电子返回基态时即发出特征荧光，荧光强度在一定范围内与被测元素含量成正比。
砷、锑、汞等元素作为矿石分析的主要指标，通常情况下为单通道测试或双通道测试，本文采用了三通道同时测定的方法，可以很大程度节约分析时间和试剂成本。
实验结果表明，应用聚光科技（杭州）股份有限公司下属子公司北京吉天仪器有限公司（以下简称“吉天仪器”）的Kylin S18原子荧光光度计可以同时测定进行矿石样品中的砷、锑和汞的含量测定。
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3.15谈“食物相克”？吉天仪器帮您辟谣
应用领域
食品/农产品检测样品
水产品检测项目
重金属食品安全问题一直是关系国计民生的大事，今年的3.15晚会大家都看了没？“共建秩序，共享品质”，食品安全问题依旧是重头戏，3.15虽然已过，热度不能停，太多的食品安全隐患值得我们注意，任重而道远。
想必大家也都关注到央视3.15晚会辟谣食物相克：螃蟹与西红柿不能同吃？这一热点，也就是传说西红柿可以在胃里把螃蟹中的砷还原成砒霜(3价无机砷)，通过辟谣，否定了这一说法。
科普一下哦，砷（As）广泛分布在自然环境中，正常人体组织中也含有微量的砷。日常生活中，人们可能通过食物、水源、大气摄入砷。砷及其化合物具有毒性，所以当人体砷摄入量过多时，就会造成砷中毒。一般来说，无机砷比有机砷的毒性大，三价砷比五价砷的毒性大。砷（As）本身毒性不大，但其化合物、盐类和有机化合物都有毒性，尤以3价无机砷，又名砒霜、信石，毒性最强。
元素形态分析中涉及的常见检测器有ICP-MS、AAS、AFS，通常采用液相色谱与ICP-MS和AFS联用。相比较下，液相色谱与AFS联用（LC-AFS）其技术优势在于具备了液相分离的优点，也能利用AFS的高灵敏度和元素特异性，同时操作方便、极易普及，AFS对某些元素，如As、Se、Hg等的检测灵敏度很高，而且这些元素也是形态分析所最关注的元素。
那么，可能像有毒、致癌、伤身这些词汇特别吸引人们的眼球，大部分人抱着的心态就是宁可信其有、不可信其无，不能随便两种食物同吃等。食品作为国民生活必需品，安全却得不到有效保障，这足以看见食品安全问题依然严峻！
2015年9月，国家卫生计生委发布了GB 5009.11-2014系列标准。其中包括《食品安全国家标准 食品中总砷及无机砷的测定》（GB 5009.11-2014），代替《食品中总砷及无机砷的测定》（GB/T5009.11-2003）。增加了食品中无机砷测定的液相色谱—原子荧光光谱法（LC-AFS）（第一法）。
同时，针对《食品中总汞及有机汞的测定》（GB/T5009.17-2003）也有修改，最新的《食品中总汞及有机汞的测定》（GB 5009.17-2014）增加了甲基汞测定的液相色谱-原子荧光光谱法（LC-AFS）。
聚光科技（杭州）股份有限公司下属子公司北京吉天仪器有限公司（以下简称“吉天仪器”）液相色谱-原子荧光联用仪（LC-AFS）为您提供相关解决方案！
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聚光科技便携式气相色谱-质谱联用仪为您快速检测水中苯胺
应用领域
环保检测样品
环境水（除海水）检测项目
有机污染物苯胺是一种无色油状液体，有强烈气味，稍溶于水，属中等毒性物质。环境中的苯胺主要来源于橡胶、印染、制药、塑料等工艺生产，我国早已将其列入优先监测污染物。近年来苯胺等有毒污染物突发性污染事故频现，通过采样并送回实验室进行分析的时效性较差，一般从采样到得到分析结果需要数小时时间，不能时时获得污染物的扩散信息，无法对现场处置决策提供实时、可靠的信息，因此开发能一种能够在现场快速得到实时、准确的苯胺分析方法是十分必要的。
固相微萃取技术是20世纪90年代发展起来的一种集萃取、浓缩、进样于一体的样品前处理方法。这种前处理方法具有操作简便、萃取时间短、样品需求量小、无需使用溶剂和其他前处理设备等特点。因此固相微萃取技术特别适合配合便携式GC-MS进行现场分析。
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Kylin S1原子荧光光谱法四道同测自来水中硒，汞，砷和锑
应用领域
环保检测样品
饮用水检测项目
（类）金属及其化合物原子荧光（AFS）是中国具有自主知识产权的分析仪器，广泛应用于环境监测，食品安全，地质矿产等领域，具有灵敏度高、线性范围宽、光谱干扰及化学干扰少、仪器结构简单、成本低等优点。可以发生氢化反应的元素，在酸性介质中，硼氢化钾（硼氢化钠）生成的新生态氢，作为还原剂，发生氢化反应，生产氢化物（汞为汞蒸气），通过氩气将氢化物（汞蒸气）导入原子化器中，在氢火焰中发生原子化，被测元素空心阴极灯作为激发光源，被测元素原子受光辐射激发产生电子跃迁，当激发态的电子返回基态时即发出特征荧光，荧光强度在一定范围内与被测元素含量成正比。硒、汞、砷和锑元素的主要荧光谱线介于200～290nm之间，正好是日盲光电倍增管灵敏度最好波段，处于最佳检测波长范围之内。
硒、汞、砷和锑作为水质分析的主要指标，同时测定各类水质样品中这四种元素可以很大程度节约分析时间和试剂成本。本文对于自来水样品中的硒、汞、砷和锑的含量进行了四道同时测定并进行了方法学考察。
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吉天仪器与你一起关注婴幼儿辅食安全
应用领域
食品/农产品检测样品
其他粮食加工品检测项目
重金属本文使用了SA-50液相色谱-原子荧光联用仪测定婴幼儿辅食原味米粉、黑米芝麻米粉中砷（As）各价态的含量，线性和检出限、定量和定性重复性测试结果以及回收率结果满意。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素 Al
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Al元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Al等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中B元素
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
B元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中B等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素Ca
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Ca元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ca等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素Fe
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Fe元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Fe等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素Ni
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Ni元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ni等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素Mn
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Mn元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Mn等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中元素P
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
P元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中P等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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ICP-5000测定硅材料中金属元素Ti
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
Ti元素硅材料具有优异的电学性能和机械性能，是用量最大、应用最广的半导体材料。硅材料中B、P、Cu、Fe等都是极有害的杂质，因此，电子工业中对硅材料的纯度要求极高。由于硅材料中主成分是硅和碳，溶解此类样品通常需要加入HF，温度过高易造成B的损失，另外硅材料中杂质含量通常很低，要求分析仪器具有较高的灵敏度，尤其要求B、P等难电离元素具有高灵敏度。因此，选择合适的消解方法和高灵敏的检测仪器对此类样品的分析至关重要；本文采用氢氟酸等混合酸低温湿法消解硅材料样品，随后使用ICP-5000对该样品中Ti等8种有害杂质元素进行测定， 并考察了仪器检出限和方法的精密度。
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E5000磨样法测定地矿样品中的银
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
银 电弧发射光谱法采用固体粉末直接进样，无需进行复杂的酸碱消解过程，测试过程简单，避免了样品分解困难，试剂空白对测定结果的影响，是地球化探中测定Ag等不可缺少的重要手段。
传统的电弧发射光谱法分析样品时，从电极对准，光谱获取，至测定黑度、绘制曲线获得分析结果，整个过程全靠人工操作，耗时长，效率低，且对实验操作人员技艺要求高，人力成本相对较高。
我公司研发的E5000 全谱直读电弧发射光谱仪，在新一代数控电弧光源的基础上采用多阵列高性能CCD数采，实现了高分辨全谱性光谱采集。并且，采用全自动高速对准电极夹，可视化专用软件，使得仪器小巧，操作简单。通过实时背景扣除和干扰校正，精密度和准确度能完全满足地球化学样品检测质量要求。
内蒙谷第三地质勘察院主要承担国家自治区地质调查和实验测试工作，生产测试工作量大，自动化要求高。利用E5000全谱直读电弧发射光谱仪，内蒙古第三地质勘查院测定了地矿样品中银锡钼铅，获得了较好的准确度与精密度。
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E5000磨样法测定地矿样品中的锡
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
锡 电弧发射光谱法采用固体粉末直接进样，无需进行复杂的酸碱消解过程，测试过程简单，避免了样品分解困难，试剂空白对测定结果的影响，是地球化探中测定Sn等不可缺少的重要手段。
传统的电弧发射光谱法分析样品时，从电极对准，光谱获取，至测定黑度、绘制曲线获得分析结果，整个过程全靠人工操作，耗时长，效率低，且对实验操作人员技艺要求高，人力成本相对较高。
我公司研发的E5000 全谱直读电弧发射光谱仪，在新一代数控电弧光源的基础上采用多阵列高性能CCD数采，实现了高分辨全谱性光谱采集。并且，采用全自动高速对准电极夹，可视化专用软件，使得仪器小巧，操作简单。通过实时背景扣除和干扰校正，精密度和准确度能完全满足地球化学样品检测质量要求。
内蒙谷第三地质勘察院主要承担国家自治区地质调查和实验测试工作，生产测试工作量大，自动化要求高。利用E5000全谱直读电弧发射光谱仪，内蒙古第三地质勘查院测定了地矿样品中银锡钼铅，获得了较好的准确度与精密度。
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E5000磨样法测定地矿样品中的钼
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
钼 电弧发射光谱法采用固体粉末直接进样，无需进行复杂的酸碱消解过程，测试过程简单，避免了样品分解困难，试剂空白对测定结果的影响，是地球化探中测定Mo等不可缺少的重要手段。
传统的电弧发射光谱法分析样品时，从电极对准，光谱获取，至测定黑度、绘制曲线获得分析结果，整个过程全靠人工操作，耗时长，效率低，且对实验操作人员技艺要求高，人力成本相对较高。
我公司研发的E5000 全谱直读电弧发射光谱仪，在新一代数控电弧光源的基础上采用多阵列高性能CCD数采，实现了高分辨全谱性光谱采集。并且，采用全自动高速对准电极夹，可视化专用软件，使得仪器小巧，操作简单。通过实时背景扣除和干扰校正，精密度和准确度能完全满足地球化学样品检测质量要求。
内蒙谷第三地质勘察院主要承担国家自治区地质调查和实验测试工作，生产测试工作量大，自动化要求高。利用E5000全谱直读电弧发射光谱仪，内蒙古第三地质勘查院测定了地矿样品中银锡钼铅，获得了较好的准确度与精密度。
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E5000磨样法测定地矿样品中的铅
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
铅 电弧发射光谱法采用固体粉末直接进样，无需进行复杂的酸碱消解过程，测试过程简单，避免了样品分解困难，试剂空白对测定结果的影响，是地球化探中测定Pb等不可缺少的重要手段。
传统的电弧发射光谱法分析样品时，从电极对准，光谱获取，至测定黑度、绘制曲线获得分析结果，整个过程全靠人工操作，耗时长，效率低，且对实验操作人员技艺要求高，人力成本相对较高。
我公司研发的E5000 全谱直读电弧发射光谱仪，在新一代数控电弧光源的基础上采用多阵列高性能CCD数采，实现了高分辨全谱性光谱采集。并且，采用全自动高速对准电极夹，可视化专用软件，使得仪器小巧，操作简单。通过实时背景扣除和干扰校正，精密度和准确度能完全满足地球化学样品检测质量要求。
内蒙谷第三地质勘察院主要承担国家自治区地质调查和实验测试工作，生产测试工作量大，自动化要求高。利用E5000全谱直读电弧发射光谱仪，内蒙古第三地质勘查院测定了地矿样品中银锡钼铅，获得了较好的准确度与精密度。
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ICP-5000测定仲钨酸铵中Al杂质元素含量
应用领域
石油/化工检测样品
盐检测项目
含量分析仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。
目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Al、等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Al等15种杂志元素含量。
共1台
ICP-5000测定仲钨酸铵中Ca杂质元素含量
应用领域
石油/化工检测样品
盐检测项目
含量分析仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。
目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Ca等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Ca等15种杂志元素含量。
共1台
ICP-5000测定仲钨酸铵中Cd杂质元素含量
应用领域
石油/化工检测样品
盐检测项目
重金属仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。
目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Cd等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Cd等15种杂志元素含量。
共1台
ICP-5000测定仲钨酸铵中Co杂质元素含量
应用领域
石油/化工检测样品
盐检测项目
重金属仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。
目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Co等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Co等15种杂志元素含量。
共1台
ICP-5000测定仲钨酸铵中Cr杂质元素含量
应用领域
石油/化工检测样品
盐检测项目
含量分析仲钨酸铵（APT）是其他钨化合物和钨合金制备的原料， 作为添加剂常用于石油化工行业，其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低（<0.001%），不同APT牌号对杂质含量要求不同（GB10116-2007），其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级，因此，在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。
目前，国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Cr等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式，具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点，本文采用氨水和双氧水溶解样品，并用盐酸除去基体中钨，随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Cr等15种杂志元素含量。
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聚光科技Expec 7000测定土壤中Be
应用领域
环保检测样品
土壤检测项目
（类）金属及其化合物近几年来，“舌尖上的安全”可以说是公众最为关注的话题。“镉大米”、重金属蔬菜等诸多食品安全事件让我们意识到，我们赖以生存的土壤已经受到污染，有害物质已经随着粮食、饮水被“端上”餐桌，危害人类的健康。
本文参照《GB 15618-2015土壤环境质量标准》中规定的土壤中Be等重金属的限值要求，采用Expec 7000测定标准土壤（GSS-27）中Be等14种金属元素含量，使用铑、铟、铼内标元素克服土壤样品基体效应，降低信号漂移；通过干扰校正方程校准多原子离子干扰；该方法简单、快速、重现性好、结果准确，适用于土壤样品痕量金属元素分析。
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聚光科技Expec 7000测定土壤中V元素
应用领域
环保检测样品
土壤检测项目
（类）金属及其化合物近几年来，“舌尖上的安全”可以说是公众最为关注的话题。“镉大米”、重金属蔬菜等诸多食品安全事件让我们意识到，我们赖以生存的土壤已经受到污染，有害物质已经随着粮食、饮水被“端上”餐桌，危害人类的健康。
本文参照《GB 15618-2015土壤环境质量标准》中规定的土壤中重金属的限值要求，采用Expec 7000测定标准土壤（GSS-27）中V等14种金属元素含量，使用铑、铟、铼内标元素克服土壤样品基体效应，降低信号漂移；通过干扰校正方程校准多原子离子干扰；该方法简单、快速、重现性好、结果准确，适用于土壤样品痕量金属元素分析。
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聚光科技Expec 7000测定土壤中Cr元素
应用领域
环保检测样品
土壤检测项目
（类）金属及其化合物近几年来，“舌尖上的安全”可以说是公众最为关注的话题。“镉大米”、重金属蔬菜等诸多食品安全事件让我们意识到，我们赖以生存的土壤已经受到污染，有害物质已经随着粮食、饮水被“端上”餐桌，危害人类的健康。
本文参照《GB 15618-2015土壤环境质量标准》中规定的土壤中重金属的限值要求，采用Expec 7000测定标准土壤（GSS-27）中Cr等14种金属元素含量，使用铑、铟、铼内标元素克服土壤样品基体效应，降低信号漂移；通过干扰校正方程校准多原子离子干扰；该方法简单、快速、重现性好、结果准确，适用于土壤样品痕量金属元素分析。
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聚光科技Expec 7000测定土壤中Mn元素
应用领域
环保检测样品
土壤检测项目
（类）金属及其化合物近几年来，“舌尖上的安全”可以说是公众最为关注的话题。“镉大米”、重金属蔬菜等诸多食品安全事件让我们意识到，我们赖以生存的土壤已经受到污染，有害物质已经随着粮食、饮水被“端上”餐桌，危害人类的健康。
本文参照《GB 15618-2015土壤环境质量标准》中规定的土壤中重金属的限值要求，采用Expec 7000测定标准土壤（GSS-27）中Mn等14种金属元素含量，使用铑、铟、铼内标元素克服土壤样品基体效应，降低信号漂移；通过干扰校正方程校准多原子离子干扰；该方法简单、快速、重现性好、结果准确，适用于土壤样品痕量金属元素分析。
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聚光科技Expec 7000测定土壤中Co元素
应用领域
环保检测样品
土壤检测项目
（类）金属及其化合物近几年来，“舌尖上的安全”可以说是公众最为关注的话题。“镉大米”、重金属蔬菜等诸多食品安全事件让我们意识到，我们赖以生存的土壤已经受到污染，有害物质已经随着粮食、饮水被“端上”餐桌，危害人类的健康。
本文参照《GB 15618-2015土壤环境质量标准》中规定的土壤中重金属的限值要求，采用Expec 7000测定标准土壤（GSS-27）中Co等14种金属元素含量，使用铑、铟、铼内标元素克服土壤样品基体效应，降低信号漂移；通过干扰校正方程校准多原子离子干扰；该方法简单、快速、重现性好、结果准确，适用于土壤样品痕量金属元素分析。
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Expec 7000测定岩石中稀土元素Y
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
Y元素稀土元素分析一直是分析化学的一个重要领域，准确测定稀土元素的含量及元素间相互关系，对于确定岩石沉积环境和寻找稀土矿床有重要的意义。
本文通过优化ICP-MS仪器参数，采用103Rh、115In、187Re内标元素校正信号的动态漂移；通过测定单个稀土元素及钡的氧化物、氢氧化物的产率，计算出等效干扰浓度，进而校正Y等稀土元素分析中多原子离子干扰。采用岩石标准物质进行验证，测定结果与标准值相符
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Expec 7000测定岩石中稀土元素La
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
La元素稀土元素分析一直是分析化学的一个重要领域，准确测定稀土元素的含量及元素间相互关系，对于确定岩石沉积环境和寻找稀土矿床有重要的意义。
本文通过优化ICP-MS仪器参数，采用103Rh、115In、187Re内标元素校正信号的动态漂移；通过测定单个稀土元素及钡的氧化物、氢氧化物的产率，计算出等效干扰浓度，进而校正La等稀土元素分析中多原子离子干扰。采用岩石标准物质进行验证，测定结果与标准值相符
共1台
Expec 7000测定岩石中稀土元素Ce
应用领域
地矿检测样品
金属矿产检测项目
Ce元素稀土元素分析一直是分析化学的一个重要领域，准确测定稀土元素的含量及元素间相互关系，对于确定岩石沉积环境和寻找稀土矿床有重要的意义。
本文通过优化ICP-MS仪器参数，采用103Rh、115In、187Re内标元素校正信号的动态漂移；通过测定单个稀土元素及钡的氧化物、氢氧化物的产率，计算出等效干扰浓度，进而校正Ce等稀土元素分析中多原子离子干扰。采用岩石标准物质进行验证，测定结果与标准值相符
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