2022/02/14 15:43
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产品配置单:
ARL EQUINOX 100便携台式X射线衍射仪
型号: ARL EQUINOX 100
产地: 法国
品牌: 赛默飞
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方案详情:
ARL EQUINOX 100和ARL EQUINOX 1000型是快速、方便、高性能的X射线衍射仪,非常适合于制药行业的常规应用。虽然都是台式仪器,但也可以在样品的不同分析阶段,扩展更多的应用。由于赛默飞XRD可以同时采集完整2θ范围的所有信息,那么在生成数据和处理速度方面比传统的X射线衍射系统要更加快速。
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Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOₓ成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2,对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试,展示如何通过设备小束斑+成像功能,快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况,来辅助评估表面处理效果及器件质量。
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XPS在半导体材料的应用
XPS一般用于分析材料表面、薄膜材料和一些界面材料的元素信息。该技术无需外部校准便可得到量化的结果,很少需要或无需样品制备。XPS 的应用十分广泛,包含教学研究、工业研发和第三方实验室的质量监测和控制等等。
半导体
2022/03/30
X射线荧光光谱法分析镀锌板的厚度
X射线荧光光谱仪能够用于定量分析,对于无限厚的样品来说,所测量的元素特征谱线的强度与样品中该元素的浓度成正比,但是对于非无限厚的样品如镀层样品来说,测量的谱线强度不仅与元素浓度有关,而且还与样品的厚度有关。而对于组成单一或恒定的镀层样品来说,测量得到的X射线强度只与镀层的厚度有关。 对于镀锌板来说,其镀层为纯的金属锌。因此,可以用测得的Zn特征谱线强度与镀层的厚度建立对应关系。
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2022/02/14
X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量
使用X射线荧光光谱进行催化剂中贵金属含量的检测,是一种低成本短周期的测试方法。XRF贵金属检测的难点在两个方面:一个是贵金属含量较低,在50-5000ppm间,光谱强度低稳定性较差;另一方面产品的生产过程步骤较多(至少两次的涂层涂覆,传统方法涂覆量差异较大),产品的一致性较差(产品最终的元素组成差异较大),有着显著的基体效应。使用采用超短距光学耦合技术的Perform’X 能够帮助贵金属元素激发更高的谱线强度。本方案就以陶瓷催化剂为例,对使用X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量进行讨论。
石油/化工
2022/02/14