薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪是一种专门用于测量薄膜、薄片等材料厚度的仪器，广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、硅片、电池电极等材料的厚度检测。

测试原理

通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。测量头在一定压力下接触薄膜表面，传感器读取测量头的位移变化，从而得出薄膜的厚度值。

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪产品特征

• 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

• 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

• 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

• 可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

• 实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

• 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

• 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

• 5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看

• 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪技术参数

• 菜单式界面: PVC操作面板

• 分 辨 率: 0.1μm

• 测量范围: 0～2mm；0～6mm，12mm（可选）

• 测量速度: 10次/min（可调）

• 测量压力: 17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

• 接触面积: 50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）

• 电 源: AC 220V 50Hz

• 外形尺寸: 300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)

• 净 重: 33kg

• 执行标准: GB 6672、GB/T 451.3-2002等

• 仪器配置: 主机、微型打印机、标准量块等

测试标准

该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817