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Particle Metrix
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ZetaView
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欧洲
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产品名称：Particle Metrix纳米粒子跟踪分析仪ZetaView
产品型号：ZetaView
产品介绍
Particle Metrix在其久经验证的平台PMX-x30上提供了ZetaView纳米粒子跟踪分析的多功能性，使仪器可以从一个激光器升级到四个激光器。405488520或640nm激光之间以及散射和荧光模式之间的变化是自动的。
在标准NTA或Z-NTA表面电荷电泳模式中记录发射散射光或荧光的颗粒的运动和图案。PMX-x30系列的新设计带有固定单元组件，将增强的性能和可靠、无误差的测量与简单、快速、轻松的仪器清洁相结合。
性能特点
l 扫描NTA-通过样品池在11个位置进行自动测量，提供稳健的性能，而不需要额外的附件。
l 固定单元组件设计-大大提高了性能，减少了出错的可能性。
l 自动对准和自动对焦-光学设置由软件自动优化，节省了用户准备仪器使用的时间，并消除了用户主观输入的偏见。
l 快速测量-在60秒内分析2000多个颗粒。
l 快速简单的清洁-样品之间的清洁只需要快速冲洗。新的固定单元设计允许使用卡口锁快速访问测量单元。
l 直观的软件-红绿灯系统可以即时指示样品是否处于适合测量的浓度，并指示样品的稀释系数。
l 紧凑的一体化设计-使用一台仪器测量尺寸、浓度、电位和荧光。兼容实验室环境小占地面积和数据文件。
l 荧光分析-荧光NTA测量允许询问样品中的亚群体。一个灵敏的CMOS相机，多达11个选择性滤波器，低漂白性能产生高荧光灵敏度。
l 没有高成本耗材，只有注射器和散射和荧光测量的参考标准（如果适用）。
l 无需校准-尺寸测量不需要校准。
技术参数
产地：德国
扫描：电动
扫描速度：不到1分钟的时间内采集和分析2000个粒子
测量：极性液体（如水、醇）中的纳米粒子，用于尺寸、浓度、荧光和zeta电位研究
浓度范围：105-109粒/毫升
粒度：10nm-2000nm（取决于样品和激光）
精度：+5nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）
再现性：t2nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）
可用激光波长：405nm、488nm、520nm、640nm、660nm
典型激光功率：>30mW
相机类型：CMOS
滤波器：11个
产品货期: 30天
整机质保期: 0月
培训服务: 暂无此项服务
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