红外偏振片SIR Series-天津瑞利-MOXTEK
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Moxtek

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SIR Series

--

美洲

  • 银牌
  • 第1年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产品名称:MOXTEK红外偏振片SIR Series

产品型号:SIR Series

产品介绍

ProFlux SIR系列红外偏振器为3-12μm波长的应用提供了的宽带红外性能。这些红外偏振器利用Moxtek的Nanowire技术、专门设计的抗反射涂层和高质量的薄硅基板,实现高透射和对比度。Moxtek的高批量生产能力确保了适合您应用的零件尺寸的可用性。

性能特点

亮度和对比度均匀性

±20˚AOI,无去极化

波长和AOI无关

宽带

高耐热性

选型指南

技术参数

产地:美国

波长范围:3-5µm和8-12µm

基板类型:硅

厚度:0.675±0.095mm

折射率:3.421(10.33µm)

3.427(4.13µm)

热膨胀:2.6 x 10-7/˚C

AR涂层:定制,适用于中波或长波IR

尺寸公差:±0.4mm

边缘排除:2mm

透射轴(TA):参考零件长边

TA公差:±2˚

入射角:±20˚

温度:max.200˚C,>5000小时

零件形状:方形、矩形或八边形

RoHS:符合

产品应用

热成像

NVG(夜视镜)

显微镜

光谱学

安全性

法拉第隔离器

 


相关方案

  • 已经使用晶片级铝纳米线栅图案化能力开发了适用于中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)应用的硅上的高对比度线栅偏振器。144nm间距的MWIR偏振器通常从3.5-5.5微米透射优于95%的通过偏振态,同时保持优于37dB的对比度。在7微米和15微米之间,宽带LWIR偏振器通常透射通过状态的55%和90%,并且具有优于40dB的对比度。窄带10.6微偏振器在通过状态下显示出约85%的透射率和45dB的对比度。使用各种FTIR光谱仪进行透射和反射测量,并将其与抗反射涂层晶片上的线栅偏振器(WGP)性能的RCWA建模进行比较。激光损伤阈值(LDT)测试是使用连续波CO2激光器对宽带LWIR产品进行的,并且在阻断状态下显示110kW/cm2的损伤阈值,在通过状态下显示10kW/cm2的损伤阈值。MWIR LDT测试使用具有7ns脉冲的在4微米下操作的OPO,并且显示在阻断状态下LDT为650W/cm2并且在通过状态下优于14kW/cm2。

    半导体 2024-06-25

  • 已经使用晶片级铝纳米线栅图案化能力开发了适用于中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)应用的硅上的高对比度线栅偏振器。144nm间距的MWIR偏振器通常从3.5-5.5微米透射优于95%的通过偏振态,同时保持优于37dB的对比度。在7微米和15微米之间,宽带LWIR偏振器通常透射通过状态的55%和90%,并且具有优于40dB的对比度。窄带10.6微偏振器在通过状态下显示出约85%的透射率和45dB的对比度。使用各种FTIR光谱仪进行透射和反射测量,并将其与抗反射涂层晶片上的线栅偏振器(WGP)性能的RCWA建模进行比较。激光损伤阈值(LDT)测试是使用连续波CO2激光器对宽带LWIR产品进行的,并且在阻断状态下显示110kW/cm2的损伤阈值,在通过状态下显示10kW/cm2的损伤阈值。MWIR LDT测试使用具有7ns脉冲的在4微米下操作的OPO,并且显示在阻断状态下LDT为650W/cm2并且在通过状态下优于14kW/cm2。

    半导体 2024-06-25

售后服务承诺

产品货期: 30天

整机质保期: 0月

培训服务: 暂无此项服务

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Moxtek光学仪器组件SIR Series的工作原理介绍

光学仪器组件SIR Series的使用方法?

MoxtekSIR Series多少钱一台?

光学仪器组件SIR Series可以检测什么?

光学仪器组件SIR Series使用的注意事项?

MoxtekSIR Series的说明书有吗?

Moxtek光学仪器组件SIR Series的操作规程有吗?

Moxtek光学仪器组件SIR Series报价含票含运吗?

MoxtekSIR Series有现货吗?

红外偏振片SIR Series-天津瑞利-MOXTEK信息由天津瑞利光电科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于红外偏振片SIR Series-天津瑞利-MOXTEK报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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