产地类别: 国产
IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。
看了其它光学测量仪的用户又看了
一、概述
IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。
■ 单抛/双抛等多种模式选择支持;
■ 自定义mapping功能;
■ 高检测速率:Si标准外延片测量25点≤3min;
■ 高检测精度:≤0.01um 。
二、产品特点
1)设备采用高性能光源模块,光源稳定性好,信噪比高,覆盖范围7800-350cm-1。
2)搭配自主研发算法软件,可精准快速地获取测量结果。
3) 搭配自主研发的mapping运动台,定位精准、测量速度快。
三、产品应用
IRE-200广泛应用于半导体行业中Si、SiC、GaAs、InP、GaN等基底材料上外延层厚度的量测。
SiC EPI量测案例
技术参数
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 一年内不限次数培训
免费仪器保养: 3月一次
保内维修承诺: 免费更换部件(易损易耗件除外)
报修承诺: 若远程无法解决,承诺24小时内到客户现场进行维修
颐光科技光学测量仪IRE-200 的工作原理介绍
光学测量仪IRE-200 的使用方法?
颐光科技IRE-200 多少钱一台?
光学测量仪IRE-200 可以检测什么?
光学测量仪IRE-200 使用的注意事项?
颐光科技IRE-200 的说明书有吗?
颐光科技光学测量仪IRE-200 的操作规程有吗?
颐光科技光学测量仪IRE-200 报价含票含运吗?
颐光科技IRE-200 有现货吗?
最多添加5台