产品货期: 80天
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优可测半透明薄膜厚度测量仪
型号:AF-X010 面议优可测Atometrics光学薄膜测量设备X010
型号:X010 面议优可测Atometrics薄膜在线测厚仪AF Mapping系列X010
型号:AF Mapping系列X010 面议优可测Atometrics分光干涉测厚仪AF X010
型号:AF X010 面议薄膜厚度测量仪AF-3000系列:快速测量多种材质的薄膜厚度;最多可测10层膜,精度可达0.1nm;适用于离线、在线、Mapping等多个场景。
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