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IMEXT FTA Fission Track Analysis System |
裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍
IMEXT FTA裂变径迹分析系统
Fission Track Analysis System
1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle
矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。
裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意
裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图
2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System
系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作;主要用于矿物裂变径迹分析。
系统所配软件包,专为裂变径迹应用开发,可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄;可满足裂变径迹测量的各种需求。
设备图:
控制软件主界面图:
测量分析流程:
1) 新建样品项目,开始裂变径迹分析;或者打开已有样品项目,继续分析;
2) 样品全貌图扫描;
3) 样品光薄片/云母片定位;
4) 样品观察方式配置;样品拍照模式配置;
5) 目标颗粒选择;
6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描;
7) 目标颗粒裂变径迹参数测量;
8) 裂变径迹数据统计;
9) 专用裂变径迹分析报告;
3、 样品全貌图扫描 Sample MAP
系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片,生成样品全貌图;包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。
4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP
系统支持样品粗定位和精细定位两种模式;确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。
Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时,需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析,需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位,让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察,该模块提供了记录功能,可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置,对目标颗粒进行重定位,方便下次观察和分析。
5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control
系统支持智能显微镜控制,支持透射/反射、明场/偏光等观察方式,与样品位置Grain/Mice随动,支持智能光强管理,支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。
6、 目标颗粒选择 Object Grain Select
系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒,用于后续拍照和测量。
7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap
支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列,支持单颗粒超景深照片合成;支持多颗粒批量扫描,提高工作效率。
扫描过程照片自动抓拍、自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供图片浏览功能,可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能;
8、 径迹参数测量 Track Measurement
支持多种径迹参数的自动测量和人工测量,包含径迹数量、面积、最大,最小卡规直径及其比率等颗粒参数,且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。
9、 径迹统计&报告 Statistics&Report
支持多种径迹参数的标准统计,包含最大值、最小值、平均值、标准差等。
10、 数字薄片 Digital Slice
支持按照样品项目管理,扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化,方便长期保存和后期分析,以及数据追溯。
11、 用心服务放心使用
全面的服务在于您的需要不只是一件产品,而在于您的企业或科研发展的同时,有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。
系统自问世以来,深受广大学及研究所等用户的信赖和支持;一旦获取,终生免费升级。
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
北京中医药大学 | 2022-08-24 |
北方工业大学 | 2021-05-27 |
北京科技大学 | 2022-12-13 |
北京师范大学 | 2022-04-19 |
北京理工大学 | 2021-06-24 |
中国农业大学 | 2022-11-29 |
北京化工大学 | 2022-10-25 |
中国林业大学 | 2022-06-29 |
人民大学 | 2022-07-21 |
北京大学 | 2022-05-16 |
清华大学 | 2022-06-13 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 2次使用技术培训
免费仪器保养: 一年2次以上仪器免费保养
保内维修承诺: 在质量保证期内,对由于设计、制造、工艺或材料的缺陷所发生的故障负责,并免费修理和
报修承诺: 对用户反馈的质量问题及时给予解决,在24小时内做出处理决定
国产阴极发光显微镜
型号:国产阴极发光显微镜 5万 - 60万徕卡DM4 M&徕卡DM6 M正置显微镜
型号:徕卡DM4 M&徕卡DM6 M正置显微镜 25万 - 50万SD-3000A全自动显微图像扫描系统
型号:SD-3000A 35万高分辨真正电荷级的全局快门sCMOS相机
型号:pco.panda 26 面议荧光显微镜是以紫外线为光源, 用以照射被检物体, 使之发出荧光, 然后在显微镜下观察物体的形状及其所在位置。 (1)打开灯源,超高压汞灯要预热15min才能达到亮点。 (2)透射式荧光显微镜需在光源与暗视野聚光器之间装上所要求的激发滤片,在物镜的后面装上相应的压制滤片。落射式荧光显微镜需在光路的插槽中插入所要求的激发滤片、双色束分离器、压制滤片的插块。 (3)用低倍镜观察,根据不同型号荧光显微镜的调节装置,调整光源中心,使其位于整个照明光斑的中央。 (4)放置标本片,调焦后即可观察。使用中应注意:未装滤光片不要用眼直接观察,以免引起眼的损伤;用油镜观察标本时,必须用无荧光的特殊镜油;高压汞灯关闭后不能立即重新打开,需待汞灯完全冷却后才能再启动,否则会不稳定,影响汞灯寿命。 (5)观察。例如:在荧光显微镜下用蓝紫光滤光片,观察到经0.01%吖啶橙荧光染料染色的细胞,细胞核和细胞质被激发产生两种不同颜色的荧光(暗绿色和橙红色)。
荧光显微镜用于研究细胞内物质的吸收、运输、化学物质的分布及定位等。 细胞中有些物质,如叶绿素等,受紫外线照射后可发荧光;另有一些物质本身虽不能发荧光,但如果用荧光染料或荧光抗体染色后,经紫外线照射亦可发荧光,荧光显微镜就是对这类物质进行定性和定量研究的工具之一。 一般情况下,单独使用荧光显微镜即可以达到我们想要的成像效果,但在某些情况下,比如说当荧光比较微弱的情况下,仅仅通过荧光显微镜并不能达到理想的拍摄效果,或者我们希望可以将拍摄的荧光图片上传的电脑生面预览,修改甚至发表学术论文,这时候没有荧光显微镜CCD是不能达到要求的。
显微分光光度计作为一种精密仪器,在运行工作过程中由于工作环境,操作方法等种种原因,其技术状况必然会发生某些变化,可能影响设备的性能,甚至诱发设备故障及事故。因此,分析工作者必须了解分光光度计的基本原理和使用说明,并能及时发现和排除这些隐患,对已产生的故障及时维修才能保证仪器设备的正常运行。 1)若大幅度改变测试波长,需稍等片刻,等灯热平衡后,重新校正“0”和“100%”点。然后再测量。 2)指针式仪器显微分光光度计在未接通电源时,电表的指针必须位于零刻度上。若不是这种情况,需进行机械调零。 3)比色皿使用完毕后,请立即用蒸馏水冲洗干净,并用干净柔软的纱布将水迹擦去,以防止表面光洁度被破坏,影响比色皿的透光率。 4)操作人员不应轻易动灯泡及反光镜灯,以免影响光效率。
基于视窗结构的软件,很容易操作 先进的深紫外光学及坚固耐用的抗震设计,以确保系统能发挥出的性能及长的正常运行时间 基于阵列设计的探测器系统,以确保快速测量 低价格,便携式及灵巧的操作台面设计 在很小的尺寸范围内,多可测量多达5层的薄膜厚度及折射率 在毫秒的时间内,可以获得反射率、传输率和吸收光谱等一些参数 能够用于实时或在线的监控光谱、厚度及折射率 系统配备大量的光学常数数据及数据库 对于每个被测薄膜样品,用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型(EMA)测量分析 系统集合了可视化、光谱测量、仿真、薄膜厚度测量等功能于一体 能够应用于不同类型、不同厚度(*厚可测200mm)的基片测量 使用深紫外光测量的薄膜厚度低可至20 Ǻ 2D和3D的图形输出和友好的用户数据管理界面 先进的成像软件可用于诸如角度、距离、面积、粒子计数等尺寸测量 各种不同的选配件可满足客户各种特殊的应用。
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