专为4D STEM设计的混合像素探测器
专为4D STEM设计的混合像素探测器

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德科特思 DECTRIS

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DECTRIS ARINA

欧洲

  • 白金
  • 第6年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 进口

创新点

DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计(ASIC),结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力,从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术,ARINA可以采用不同的传感器材料,并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用,包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术,以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

       DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计(ASIC),结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力,从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术,ARINA可以采用不同的传感器材料,并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用,包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术,以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

技术规格

帧频(max)

120,000 Hz

计数率(max)

10^ el/s/pixel

像素数

192 x 192

像素大小

100 x 100 µm²

传感器材料

硅 (Si) 或CdZnTe

能量范围

30 - 300 keV

探测器安装

可伸缩

产品应用


使用DECTRIS ARINA探测器在200keV获得 的4D STEM实验结果。

左上: 虚拟明场STEM图像。

中间: 用差分相位对比法(DPC)进行局部电场的可视化。

右下: 综合质心(iCoM)重建展示了Sm和B 原子的局部原子电位。

叠加:SmB6沿<110>轴的原子结构,Sm为红 色球体,B为绿色球体。



售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费现场培训

免费仪器保养: 一年两次

保内维修承诺: 保修期内人工与配件全包

报修承诺: 24小时电话技术支持,如需上门3个工作日内到达用户现场

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德科特思 DECTRISDECTRIS ARINA多少钱一台?

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