Nanolink SZ901+纳米粒度及Zeta电位分析仪

报价

面议

暂无评分

品牌

真理光学

样本

下载

型号

Nanolink SZ901+

荣誉奖项

产地

中国大陆

珠海真理光学仪器有限公司

白金
第7年
生产商

营业执照已审核

留言询价电话询价

核心参数

产地类别： 国产

粒度测量范围： 0.3nm-15μm

粒度测量重现性： ±1%

测试温度： 0-90℃

温控精度： ±0.1℃

光信号频率： 最小采样时间25ns,动态范围＞10^11

粒度检测方法： 动态光散射(DLS)、电泳光散射(ELS)

样品量范围： 最小样品量 3ul

样品浓度范围： 0.1mg/ml

Zeta 电位测量范围： -600mV - +600mV

测量时间： 2mins

分子量测量范围： 340Da-2 x 10^7Da

同类推荐

看了纳米粒度仪的用户又看了

产品介绍售后服务承诺用户评论问商家

Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特点包括：

◆ 经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm

◆ 激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

◆ 加持自动恒温技术的最高功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

◆ 独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

◆ 独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 最高可选120°C, 精度±0.1°C

◆ 新一代高速数字相关器，动态范围大于1011

◆ 冷凝控制 – 干燥气体吹扫技术

技术指标：

型号	Nanolink SZ901
测量原理	动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）
粒径测量角度	90°
粒径测量范围	0.3nm -15μm*
粒径准确度	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径重复性	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径测量最小样品浓度	0.1mg/ml
粒径测量最小样品量	3ul*
Zeta电位测量范围	-600mV - +600mV
最大电导率	270mS/cm
适用Zeta电位测量的粒径	3nm – 100μm*
电导率准确度	±10%
分子量范围	340Da-2 x 10⁷Da
温度控制范围	0°C - 90°C (120°C可选)
温度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关器	高速数字相关器，自适应通道配置
检测器	高灵敏度APD
系统重量	17kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）