产地类别: 进口
粒度测量范围: 0.3nm-15μm*
粒度测量重现性: 无
测试温度: 0-120
温控精度: ±0.1°C
粒度检测方法: DLS
Zeta 电位测量范围: -600mV~+600mV
分子量测量范围: 340Da-20MDa
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动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。
纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器,简单、方便而且准确,主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合,使其具有极高的分辨率,足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 无
免费培训: 可多人线上培训
免费仪器保养: 保养
保内维修承诺: 维修
报修承诺: 保修
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