日本JEOL场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F

 日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F

• JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。

产品规格：

产品特点：

电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称

◇  [Setting]                                                     

自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！

进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。

◇ [Analysis]                                              

充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像

繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析

光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。

【live Analysis】

通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。

用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。

通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子

integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合

◇ [Self Maintenance]                    

内置18种类校正样品，有效进行校正

配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误；利用夜间对仪器进行校正，提高了工作效率。

按照【维护通知功能】，在必要时期对仪器进行自我维护，保持设备最佳状态。

维护通知功能【客户支持工具】

◇ 标配场发射电子枪

能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。