面议
日本分光计器
暂无样本
ARMV734/735
--
亚洲
为您推荐相似的其它光谱仪
▼概要
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。
可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。
◆装置特点
?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广，从紫外到近红外区域
?双光束光学系统，测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架，样品的装卸简单
◆规格
▼ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射率测量组件（V-600用）
型号 | ARMV-734 | ARMN-735 |
测定波长范围 | 250～850nm | 250～2000nm |
测量方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | |
入射角 | 5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项) | |
角度间隔 | 0.1°间隔 | |
设定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | |
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定 | |
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030 自动绝对反射率测量组件（V-7000用）
型号 | VAR-7010 | VAR-7020 | VAR-7030 |
测量波长范围 | 250～900nm | 250～2000nm | 250～1800nm |
测定方式 | 测量绝对反射率、测量透过率 | ||
入射角 | 5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0 ～ 85℃（大入射角样品支架、选项) | ||
角度間隔 | 0.1°间隔 | ||
设定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | ||
测量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°) | ||
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
能源/新能源 2023-06-05
能源/新能源 2023-06-05
日本分光计器其它光谱仪ARMV734/735的工作原理介绍
其它光谱仪ARMV734/735的使用方法?
日本分光计器ARMV734/735多少钱一台?
其它光谱仪ARMV734/735可以检测什么？
其它光谱仪ARMV734/735使用的注意事项？
日本分光计器ARMV734/735的说明书有吗？
日本分光计器其它光谱仪ARMV734/735的操作规程有吗？
日本分光计器其它光谱仪ARMV734/735报价含票含运吗？
日本分光计器ARMV734/735有现货吗？
