电镜专用微区结构分析---牛津仪器灵敏性C-Nano EBSD

C-Nano是一种多功能、高效的EBSD探测器。利用Symmetry探测器的创新技术，为C-Nano这一入门级探测器提供了优越的性能。C-Nano适用于表征各种类型的样品，它的高像素分辨率使其非常适合于精细的应变分析以及复杂和具有挑战性材料的常规分析。

C-Nano是一款适用于各种材料和应用的EBSD探测器。利用专门定制的CMOS传感器，C-Nano的采集速度可达400点/秒，并能得到优质的312x256像素分辨率的花样：这比同类型的基于CCD的探测器采集速度快3倍，得到至少4倍像素的花样。C-Nano值得让您信任的性能，使其即使在更具挑战性的材料上，也能提供出色数据质量。

C-Nano的光学设计确保了更高的灵敏度和子像素失真级别，使其成为需要优质、高清花样的精细的应变分析的理想探测器。C-Nano的灵敏度确保在使用非常低的束流（在3nA以下）时也能达到更大的分析速度，从而能够对电子束敏感材料和纳米晶材料进行详细和成功的分析。

C-Nano还得益于整个牛津仪器CMOS探测器系列的新设计功能，包括独特的可避免潜在、昂贵代价的碰撞发生的接近传感器。C-Nano是一个您可以一直信赖使用的探测器。

• 1244x1024像素的全分辨率花样，适合高分辨率EBSD应用

• 400点/秒快速的采集速度

• 对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

• 无失真图像

C-Nano探测器是高性能CMOS技术的入门选项：

• 保证在3nA束流条件下，实现400pps的标定速度

• 高速下采集312x256像素的花样分辨率——是同等速度下高分辨CCD探测器的4倍

• EBSD百万像素全分辨率花样(1244x1024像素)——高分辨率EBSD应变分析的理想选择

• 低失真光学器件, 确保角度精度优于0.05°

• 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——增大空间分辨率

• 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成

• 波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性

• 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置

• 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得满意效果

• 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像