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EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。 TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长<3微米> 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的±1%- ±3%满量程非灰样品重复性- 满量程的±0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:≥0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: ≥ 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:≥ 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25“X 6.8”长控制和显示单位:4.5×7.75×7英寸便携包:12.5×17×11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工 |
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