UniSil®硅球间隔物，具有非常窄的粒径分布，能够控制盒厚，不会对基板造成损坏，清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多，应用广泛。
产品特点
微球粒径非常均一，变异系数CV小于2.5%
微球单分散性好，无重叠或团聚
微球纯度高，无污染
微球机械强度高，K>4500
微球具有较好的耐热性、耐寒性以及耐化学品性
UniSil®硅球间隔物粒径非常均一
UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器（Beckman Coulter Counter Multisizer）和方法来确定的。为了确保结果的准确性，每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数，Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100， 控制在2.5% 以下。
UniSil®硅球间隔物粒径分布图（微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试）
UniSil®硅球纯度高，无污染
UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量，因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水，产品定期抽样检查。
Substance | Control Limit | Test Method |
Fe | ≤ 2 ppm | ICP Spectrometer |
Ca | ≤ 2 ppm | |
K | ≤ 2 ppm | |
Na | ≤ 2 ppm | |
Cl | ≤ 1 ppm | Ion Chromatography |
UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令
UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素，不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属，纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。
Substance | Test Result (N.D. = Not Detectable) |
Cd | N.D. |
Pb | N.D. |
Hg | N.D. |
Cr6+ | N.D. |
PBBs | N.D. |
PBDEs | N.D. |
UniSil®硅球间隔物产品目录
纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品：Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 μm到25 μm， 3 μm到9 μm每隔0.1 μm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制，SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。
UniSil®硅球物理特性
检测项目 | 测试结果 | 测试方法 |
平均粒径, μm | ± 0.05 | 库尔特粒度分析计数仪 Coulter Counter |
粒径分布CV值 | 1.0% -2.5% | 库尔特粒度分析计数仪 Coulter Counter |
10% K值 10% Modulus of Elasticity, kgf/mm2 | > 4500 | Shimadzu MCT210 |
比重，g/cm3 | 2.1 | Multi-Volume Density test |
热分解温度 Thermal Decomposition Temp, °C in air | 不分解 | - |
折射率 Refractive Index | 1.46 | 20 oC, λ=589 nm |
eries | Product | CV | Diameter | Increment | Application |
Si | NM Si | ≤ 2.5% | 1.5 – 25.0 μm | 0.10 μm | Side Spacer |
SiS | NM SiS | ≤ 2.0% | 1.5 – 25.0 μm | 0.10 μm | TN, STN |
客户可以根据需求选择合适的UniSil硅球产品。
纳微科技拥有先进的技术，完善的生产和检测仪器设备，可以严格控制产品的质量。
通用准则：
NM Si XXX；NM SiS XXX
NM - NanoMicro（纳微）缩写
Si - 二氧化硅微球中适用于边框的产品；SiS - 二氧化硅微球中适用于盒内的产品
XXX - 粒径标称 如：065 – 6.5 μm, 100 - 10.0 μm
备 注：
1. 粒径每间隔0.1 μm 为一个产品规格,也可以根据客户需求特殊定制；
2. 可根据客户需求提供小于1.5 μm及25.0 μm以上大小的特殊品种；
3. 测试方法: Beckman Coulter counter Multisizer 3；
4. 变异系数计算方法：变异系数 (C.V.)%=(标准偏差/平均粒径)×100%。
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