碳基底锡球检测标样

碳基底锡球检测标样主要用于SEM和LM 2 5 0 -5,000x倍下的分辨率检测工作，也适合检测和校正成像质量（畸变、像散、对比度、亮度等）。同时，也可比较获得探针尺寸。锡球粒径范围：1-1-10μm

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