像散校正及X射线分析标样 646 单晶金标样

                           高性能TEM的分辨率、图像质量、放大倍数以及仪器稳定性，可通过拍摄该特制的单晶金标样的0.204nm, 0.143nm和 0.104nm晶面间距进行检查。尤其推荐调整TEM样品台高度后使用                        

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