半导体检测是一个涉及内容很广而又不断发展的技术领域,很难给出一个明确的界限和确切定义,常用半导体检测技术包括光学与电学测量、X光衍射、金相观察、激光光谱、俄歇电子能谱、二次离子质谱、电子显微分析、离子束分析、原子吸收分光光度、气相色谱、高频电感耦合等离子体发射光谱等。

半导体行业试剂篇——那些不可不提的酸

在电子产品的生产过程中需要用到的试剂是电子级试剂,要求电性杂质含量极低,才可以控制产品最终的质量。而有些半导体材料中甚至会人为加入一些特定的成分,从而其电导性能才具有可控性,因此试剂中杂质离子的含量,就变得尤为重要。

监控半导体芯片生产中离子污染的神器——ICS 6000离子色谱

空气中与超纯水中的杂质离子含量这么低,通过什么手段实现检测呢?

用户之声|CIC燃烧离子色谱-OLED材料卤素分析利器

CIC燃烧离子色谱法具有简单易行,灵敏度高的优势,已经成为电子电器行业卤素检测的权威方法。

你用的是99.999%的高纯气体吗?赛默飞GC-PDD告诉你!

通常半导体生产行业,将气体划分成常用气体和特殊气体两类。其中,常用气体指集中供给而且使用非常多的气体,比如 N2、H2、O2、Ar、He 等。随着国民经济各部门的飞速发展,对气体工业的产品提出了越来越多的需求,国内气体工业的大发展使气体产品不仅在品种上大大增多,而且气体纯度越来越高,其含量常常在99.999%以上。

中美科技竞争白热化 半导体检测仪器如何发挥关键作用?

科学仪器当前在半导体产业中应用广阔,其中包括质谱仪、光谱仪、色谱仪、光学检测、电化学仪器等。半导体检测仪器不仅可用于特种气体、硅片、靶材、光刻胶等半导体原材料分析,也可以用于半导体制程工艺控制。

半导体硅片检测标准汇总 涉气相色谱、二次离子质谱等多类仪器

硅片行业是资金和技术密集型行业,垄断度极高,目前前四厂商占有率占比超过80%,分别是日本信越、日本SUMCO、台湾环球晶圆、德国世创。

十五种分析仪器助力半导体工艺检测

随着半导体制程工艺的进步,工艺过程中微小的沾污和晶体缺陷等都可能导致电路的失效,半导体的工艺检测也凸显的越来越重要。

未雨绸缪:半导体检测仪器核心零部件抢先一步国产替代

从5G设备到半导体产业,随着贸易战的“战火”沿着产业链条不断蔓延,贸易战将波及哪些产业领域?国内检测仪器公司又该何去何从?“谜底”或可从贸易战的历程中窥得一二。

一年内半导体设备中标统计—后道检测设备篇

后道检测工艺涉及到的检测设备主要有测试台、探针台和分选机。仪器信息网特对半导体后道主要检测设备进行中标统计,(2019年10月1日—2020年10月1日)

这些检测仪器广东省采购量独占鳌头 ——半导体仪器设备中标市场盘点系列之前道量测篇

前道量检测根据测试目的可以细分为量测和检测。仪器信息网近期特对一年内半导体前道检测用光学显微镜、聚焦离子束、电子显微镜、四探针和椭偏仪的中标讯息整理分析,供广大仪器用户参考。

离子色谱法测定浓硝酸中的痕量阴离子

无机阴离子的含量是浓硝酸试剂品质的一个重要指标。如在半导体加工工业中,硝酸常被当作刻蚀剂用来刻蚀晶圆,试剂中混杂的痕量氯离子会严重影响半导体器件的质量。因此,对于不同级别的浓硝酸试剂,对其无机离子尤其是氯离子、硫酸盐等有着严格的限量要求。国标对工业硝酸要求硫酸盐含量小于0.08%[1],68%硝酸(优级纯)要求硫酸盐含量<0.0001%、氯离子<0.00005%。

半导体及相关行业赛默飞色谱质谱及光谱仪综合解决方案

在《国家集成电路产业发展推进纲要》和国家集成电路产业投资基金的推动下,中国半导体市场已成为全球增长引擎。半导体行业的生产良率与经济效益息息相关,而单晶硅锭和晶圆的品质、生产过程中使用的清洗剂和刻蚀剂、封装材料、环境洁净度等都可能会影响生产良率。同时,在当前对环境保护要求日益严苛的大背景下,工业废水等环保问题也成为半导体及相关企业越来越重视的关注点。

赛默飞离子色谱在浓氢氟酸中的阴离子应用

半导体行业硅片制造中经常使用氢氟酸刻蚀,这一行业对氢氟酸等高纯试剂中的阴离子含量有严格的要求, 多为几个mg/L。本方法先用IonPac ICE-AS离子排斥柱将痕量阴离子与大量氢氟酸分离,再用浓缩富集柱将痕量 阴离子富集,最后采用阴离子分离柱分离测定阴离子。

ICP-MS 测定氨气吸收液中的杂质元素

目前世界上很多的半导体生产都在中国大陆本土,相对应的一些半导体产业的下游企业,生产高纯氨气供应给上游企业。重金属含量是是其中的一个重要指标。一般测定主要是把氨气通过去离子水吸附,测定吸附后去离子水中的重金属。由于要求氨气纯度很高,而且氨气不能够无限被去离子水吸附。去离子水吸附氨气最高浓度20%,所以对测量仪器具有很高的灵敏度要求。电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定微量元素具有操作简单、干扰少等优点, 而且可多元素同时测定、灵敏度高、动态范围宽, 可测定氨水中的重金属元素。ICP-MS 法可进行多元素同时分析, 具有快速、准确等特点。下面介绍ICP-MS 测定氨水中的重金属杂质元素。

赛默飞离子色谱在浓磷酸中的阴离子应用

半导体行业硅片制造中经常使用浓磷酸或氢氟酸刻蚀,对磷酸、氢氟酸等高纯试剂中的阴离子含量有明确规定 。如果将样品稀释,可以减弱其他高浓度离子对检测结果 的干扰,但是有可能造成痕量的杂质离子无法被检测出来。

赛默飞iCAP 7000 Series ICP-OES 测定汽油中硅含量

本方法分别采用半导体制冷雾化室全汽油进样和用航煤稀释汽油进样标准加入法ICP 光谱测定。实验中对于等离子参数进行优化,通过等离子体辅助气加氧消除了炬管的积碳问题,保持长时间连续测定的稳定性,同时对2种方法进行了比较。

半导体测试设备:超长“待机”服务半导体全行业

相对于半导体技术迅猛发展,制程工艺不断缩小的迭代周期,与半导体产业一路相伴的测试设备产业似乎“缓慢”得多。

大族激光显视与半导体相城产业化项目签约落地

1月22日,今日相城政务发布消息显示,中国激光装备行业领军企业大族激光科技产业集团股份有限公司“牵手”苏州相城!大族激光显视与半导体相城产业化项目签约落地。

HORIBA财报:疫情下销售额下降6% 半导体业务增20%

销售额为1870.8亿日元,同比下降6.6%。主要原因是汽车测试系统业务销售额下降,而半导体业务销售额增加。

潍坊半导体照明产品检测中心近千万检测仪器采购大单揭晓

8月8日,潍坊半导体照明产品检测中心检测设备(一期)采购中标结果公告发布,此次仪器采购成交金额达930万人民币。详细公告如下:

【详解】华为认为中高压SiC器件成熟在即 相关仪器设备需求或爆发

2020年12月29日,华为数字能源产品线产业暨技术论坛在深圳成功召开,华为车载电源产品线总裁王超表示,预计2024年左右,基于1200V和1700V碳化硅器件的成熟,会帮助产业实现7.5分钟快充。

国家半导体光源产品质量监督检验中心(广东)检测设备采购项目

 广东华伦招标有限公司受广东省质量技术监督局的委托,于2012年12月13日就国家半导体光源产品质量监督检验中心(广东)检测设备采购项 目(0809-1241GDG12737)采用公开招标方式进行采购。

投资5000万 国家半导体光电产品检测重点实验室将正式运行

 5月30日,记者从江门检验检疫局获悉,经过近一年的紧张筹建,明日,落户江门的华南地区目前唯一一家“国家半导体光电产品检测重点实验室”将在首届中国(江门)绿色(半导体)光源国际博览会上正式揭牌运行。

国家半导体光电产品检测实验室落户广东江门

6月4日,记者从江门出入境检验检疫局获悉,日前,中国国家质检总局下发文件,正式批准江门市筹建“国家半导体光电产品检测重点实验室”。

微纳级半导体光/电特性三维检测仪研制

该成果主要用于半导体晶圆设计和生产过程中的IV/CV/脉冲、暗电流、暗计数、单光子探测效率、温度特性、噪声等效功率测试及数据采集、分析。

国家半导体照明质量监督检测中心正式启用

7月25日,国家半导体照明产品质量监督检验中心启用暨江苏省半导体照明产品标准化技术委员会授牌仪式在武进高新区举行。

国家半导体照明产品检测平台将落户东莞

“国家半导体照明产品检测与国际认证公共服务平台”日前获得国家财政部批准,并将获得相应的专项资金支持,该平台将在1~2年时间建成,预计每年可为东莞及珠三角上千家企业提供服务。

国家半导体检测中心落户济宁

济宁再添一国家级检测中心。

半导体杂质检测难?半导体专用ICP-MS来帮你!

对Fab工厂而言,控制晶圆、电子化学品、电子特气和靶材等原材料中的无机元素杂质含量至关重要,即便是超痕量的杂质都有可能造成器件缺陷。

首个!中国科大主导制定半导体线宽检测的ISO国际标准发布

该标准是半导体检测领域由中国主导制定的首个国际标准。

聚光科技成立事业部,大力布局半导体检测设备市场

聚光科技正在快速积极布局半导体检测设备市场,聚光科技以旗下谱育科技发展有限公司为平台,进行半导体领域的突破,目前已成立专门的半导体事业部,积极拓展半导体检测设备领域应用。

进军半导体市场,日立推出3D SEM CT1000和高速缺陷检测SEM CR7300

CT1000是一款主要用于半导体行业缺陷观察的产品;高速缺陷检测SEM CR7300是一种新型的扫描电镜,有助于提高尖端半导体器件的生产效率。

国内首台!中科院旗下公司成功研制半导体行业重要检测设备

6月22日,中科院长春光机所旗下长春光华微电子宣布研制成功国内首台商用12英寸全自动晶圆探针台。

精测电子已基本形成半导体检测全领域的布局

8月4日,精测电子在采访中表示,公司已基本形成在半导体检测前道、后道全领域的布局。

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